Способ магнитного контроля параметров качества изделия

Номер патента: 49424

Опубликовано: 31.08.1936

Автор: Нифонтов

МПК: B07C 5/344, G01N 27/82

Метки: качеству, магнитных, отбраковки, термический

...и зажжет сигнальную лампу 2 б через контакт 23,При смене испытуемых деталей одноготипа деталями другого типа меняетсялишь зазор ярма согласно размерам иформе новой детали, и меняется силатока в катушке 7 б, которая (сила тока)только один раз устанавливается экспериментально, согласно требованиям,предъявляемым к данной детали, и соответственно марки стали, из которойизготовляются данные детали.На описанном приборе могут контролироваться шарикоподшипниковые кольца, ролики, шарики (крупные), метчики,плашки, сверла, калибры, прутки, стали ипр,Рассматриваемым прибором можетбыть контролируема как степень закал.ки, так и степень отпуска.На рассматриваемом приборе контроль производится вручную человеком.Ниже приводится описание приборадля...

Номер патента: 838766

Опубликовано: 15.06.1981

Авторы: Кашин, Курников, Тарасов

МПК: H01F 13/00

Метки: импульсного, магнитных, мате-риалов, намагни-чивания

...9. Последнийподключен своим входом к выходу регулируемого делителя 10 напряжения,подключенного к выходным контактамшунта 13, и управляемого сигналом сблока б управления. Между опорнымсигналом, поступающим на вход элемента 7 сравнения, и сигналом, поступающим на управляющий вход регулируемого делителя 10, существует однозначная зависимость, которая реализуется схемой блока 8 задания режимов,Опорный сигнал изменяется дискретнос помощью переключателя режимов вблоке 8, причем каждому положениюпереключателя соответствует своягруппа магнитных материалов, котораяустанавливается экспериментально иможет объединять несколько различныхмарок сталей. Одновременно переключатель режимов в блоке 8 дискретноизменяет уровень сигнала, поступающего на...

Номер патента: 1415165

Опубликовано: 07.08.1988

Авторы: Бутенко, Русскевич, Фещенко

МПК: G01N 27/87

Метки: магнитного, ферромагнитных

...глубиной 0,75 мм; б - от поверхности с дефектом глубиной 1,5 мм; в - от поверхностис дефектом глубиной 3,0 мм. Точками отмечены величны зазоров, соответственно равные 0; 0,1; 0,2; 0,4; 0,8; 1,6; 3,2 иоомм.Пунктирные кривые указывают траекторию движения вектора сигнала преобразователя при изменении глубины дефекта;г - при нулевом зазоре; д - при зазоре, равном 0,8 мм,На фиг. 3 приведено семейство годографов (заимствованное из фиг. 2 для частоты поля намагничивания 1 кГц), по которым производится окончательный выбор угла между зондами и частоты тока питания электромагнита, где 11 (0,75), 1.) (1,5)и Б (3,0) - значения амплитуды сигналапреобразователя на участках с поверхностными дефектами глубиной соответственно 0,75;1,5 и 3,0 мм, а...

Номер патента: 1448260

Опубликовано: 30.12.1988

Авторы: Добровольский, Пискунов, Селезнев, Филей, Хапров

МПК: G01N 27/72

Метки: магнитных, параметров, цилиндрических, электрических

....=2,Амплитудный детектор 7 предназначен для выделения модуля напряжения 11холостого хода , наводкмого во вто" рой измерительной обмотке 5 преобразователя 1.Вычислительный олок 15 реализует операции вычисления выражений (4)и (8). Второй делитель 13 предназначендля получения половинного значениядействительной составляющей относимак сКеи,( И)где , максВе(,)р,(Л) ) - константы. 20Затем уменьщают частоту тока. возбуждения переменного магнитного поля до тех пор, пока действительная составляющая относительного вносимогс -/напряжения ВеПИ) не уменьщится в 25 р 1. раз, В этот момент измеряют частоту тока возбуждения переменного магнитно го поля О.По измеренному значению ча "готы к найденному ранее значению магнитной ЗО проницаемости р опрецеляют...

Номер патента: 871109

Опубликовано: 07.10.1981

Автор: Векслер

МПК: G01R 33/12

Метки: магнитных, параметров

...блока, выход второго усилителя соединен с намагничивающей .обмоткой второго намагничивающего блока, измерительные обмотки намагничиЕсли прибор 15-ваттметр, то его показания пропорциональны потерям наперемагничивание образца. Используя ,в качестве прибора 15 измеритель отношения сигналов, можно определить маг нитную проницаемость.Устройство обеспечивает снижение погрешности измерения напряженности. поля приблизительно (с ЗХ в прототипе) до 17. и расширение диапазона измеряе мых значений Н на один - два порядка,Кроме того, при проведении испытаний с применением прототипа изобретения требуется выполнить отдельно измерения на каждой полосе. Число полос 15 в одном образце довольно велико (от 30 .до 80 шт.), При измерениях с помощью...