Дефектоскоп
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(51)М. Кл,6. О й 29/04 3 ааударстввнный квинтет ла .делам вэабретеннй н аткрытнй(53) УДК 620.79. .16(088.8) Вата опубликования описания 10 .08,81(72) Авторы изобретения А. Н. Ходинский, А. С. Корочкин и С. А. Михнов Ордена Трудового Красного Знамени институт физики АН Белорусской ССР(54) ДЕФЕКТОСКОП Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при ультразвуковом контроле качества материалов.Известно устройство, основанное5 на реализации пьезоэлектрического эффекта1.Недостатком этого устройства является невысокая мощность возбуждаемых ультразвуковых колебаний 1 УЗК ).Наиболее близким по технической сущности к изобретению является дефектоскоп, содержащий моноимпульсный лазер, расположенные по оси его излучения устройство локализации зоны ультразвуковыхколебаний (УЗК), последовательно связанный с ним поглощающий элемент, располагаемые в процессе измерения с одной стороны контролируемого изделия, и приемник УЗК, располагаемый с нротивоположной стороты 21.Недостатком этого дефектоскопа является низкая точность измерений,связанная с тем, что длина волны генерируемых колебаний плавно не меняется.Целью изобретения является повышение точности измерений.Зта цель достигается тем, что дефектоскоп снабжен устройством перестройки длины волны УЗК, расположентвтм за поглощающим элементом оси излучения моноимпульсного лазера и выполненным в виде двух металлических плоскопараллельных пластин, установленных соосно, на расстоянии одна от другой, меньщем длины волны УЗК, с возможностью изменения этого расстояния, а пространство между ними заполнено жидкостью.На чертеже изображена блок-схема дефектоскопа.Дефектоскоп содержит моноимпульсный лазер , устройство 2 локализации зоны УЗК, поглощающий элемент 3, устройство 4 перестройки длины волны УЗК и приемник 5 УЗК.8535Дефектоскоп работает следующимобразом.Излучение лазера 1, проходя черезустройство 2 локализации зоны УЗК,поглощается элементом 3, где возникает зона повышенного давления, которая со скоростью УЗК распространяетсяпо направлению к устройству 4 перестройки длины волны УЗК. Устройство4 представляет собой две плоскопараллельные пластинки, выполненные изматериала с большим показателем преломления для ультразвуковых волн.Расстояние между пластинками выбирается несколько меньше длины волны, 15УЗК, возникающей в поглощающей среде,а пространство между пластинками за- .полняется жидкостью, хорошо проводящей УЗК,УЗК, возникающие в поглощающем элементе 3, попадают в устройство 4, Таккак коэффициент отражения для ультразвуковых волн достаточно высок, тоУЗК частично отражаются от пластинустройства перестройки длины волны . 25УЗК и остаются внутри него, а частично проходят в исследуемый образец6. При достаточно высоком коэффициенте отражения УЗК от пластин устройства 4 и при базе устройства 4 меньшей 30длины волны УЗК, ультразвуковая волна,попадающая в исследуемый образец 6 врезультате многократных отражений,увеличивает свою цлнну. Прошедшие 24 .фчерез образец УЗК регистрируются приемником 5. Формула изобретенияДефектоскоп, содержащий моноимпульсный лазер, расположенные по оси егоизлучения устройство локализации зоныультразвуковых колебаний (,УЗК), последовательно связанный с ним поглощающий элемент, располагаемые в процессе измерения с одной стороны контролируемого изделия, и приемник УЗК,располагаемый с противоположной стороны, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью повышения точности измерений, он снабжен устройством перестройки длины волны УЗК, расположенным за поглощающим элементом оси излучения моноимпульсного лазера и выполненным в виде двух металлическихплоскопараллельных пластин, установленных соосно, на расстоянии одна отдругой, меньшем длины волны УЗК, свозможностью изменения этого расстояния, а пространство между ними заполнено жидкостью,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Выборнов Б. И, Ультразвуковая11дефектоскопия. М., Металлургия1974, с. 128.2. 8,1. Уоп. 6 ийУе 10 Арр 1 Рпцзей, 1977 30, И 6, с. 257-259Заказ 5642/19 Тираж 907 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4)5 Филиал ППППатент , г. Ужгород, ул. Проектная, 4
СмотретьЗаявка
2780923, 18.06.1979
ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИИНСТИТУТ ФИЗИКИ AH БЕЛОРУССКОЙ CCP
ХОДИНСКИЙ АЛЕКСАНДР НИКОЛАЕВИЧ, КОРОЧКИН ЛЕОН СЕРГЕЕВИЧ, МИХНОВ СЕРГЕЙ АЛЕКСЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектоскоп
Опубликовано: 07.08.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-853524-defektoskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Дефектоскоп</a>
Предыдущий патент: Способ непрерывного измерения влажностисыпучих материалов
Следующий патент: Способ анализа фракционного составапродуктов износа
Случайный патент: Способ получения люминофора на основе оксидов иттрия и европия