Устройство для измерения дефор-маций
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 800619
Авторы: Алексахин, Кривоносов, Ромашева
Текст
Союз Советских Социалистических Республик(22) Заявлено 160479 (21) 2755203/25-28с присоединением заявки Ио(51)М. Кл.з 6 01 В 7/16 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для измерения деформаций.По основному авт,св. Р 528441, известно устройство для измерения деформаций, содержащее источник питания, измерительный полумост и соединенный с ним регулировочный полу- мост, выполненный в виде двух параллельно накрест соединенных переменных основных резисторов, средние точки которых соединены между собой и подключены к источнику питания 1,Недостаток этого устройства - низкая точность при осуществлении компенсации нелинейности.Цель изобретения - повышение точности измерения за счет стабилизации преобразовательных свойств при осуществлении компенсации нелиней-, ности.Указанная цель достигается тем, что устройство снабжено дополнительным переменным резистором, соединенным последовательно с источником питания, а ползунки основных и дополнительного резисторов механически связаны между собой.На чертеже показана схема устрой; ства. Устройство содержит источник 1питания, измерительный полумост, выполненный в виде последовательносоединенных резисторов 2 и 3, регулировочный полумост, выполненныйв виде переменных резисторов 4 и 5,связанных ползунком б. Последовательно с источником 1 питания включендополнительный переменный резистор 7,у которого закорочены крайние клеммы. Ползунок б переменных резисторов 4, 5 и ползунок 8 дополнительно.го переменного резистора 7 механически связаны между собой. Выходной 15 сигнал снимается с клемм 9.Устройство работает следующим образом.При измерении деформации с помощью измерительного полумоста, вклю чающего резйсторы 2 и 3, на выходныхклеммах 9 появляется сигнал, являющийся нелинейной функцией измеряемого механического воздействия. Включая в работу с помощью ползунка б 25 регулировочный мост, содержащий резисторы 4 и 5, производят изменениесоотношения между сопротивлениемрезисторов 2 и 3 измерительного полумоста и сопротивлением резисторов 30 4 и 5 регулировочного полумоста. Всесоюзный заочный институт пищевой промышяенностй "Тираж 65 Государственного елам изобретений, ква, Б, Раушск Подписноекомитета СССРоткрытий .я наб., д. 4/5 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 При этом сопротивление двух плеч регулировочного моста (резисторы 4 и 5) меняется одновременно и по одному закону. Эти изменения соотношения плеч приводят к изменению нелинейности моста.При перемещении ползунка 6 и изменении чувствительности устройства перемещается ползунок 8, который изменяет чувствительность устройства по обратному закону.Таким образом в данном устройстве за счет дополнительного резистора 7 ползунка 8, который механически связан с ползунком 6, при осуществлении компенсации нелинейности обеспечивается стабильная чувствительность схемы, т.е. преобразовательные свойства устройства стабилизируются.Формула изобретенияУстройство для измерения деформаций по авт.св, Р 528441, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерений, оно снабжено дополнительным переменным резистором, соединенным последовательно с источником питания, а ползунки основных и дополнительного резисторов механически связаны между собой,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР 15 9528441, кл. 6 01 В 7/16, 1974.
СмотретьЗаявка
2755203, 16.04.1979
ВСЕСОЮЗНЫЙ ЗАОЧНЫЙ ИНСТИТУТ ПИ-ЩЕВОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
КРИВОНОСОВ АЛЕРИЙ ИВАНОВИЧ, КРИВОНОСОВ ИГОРЬ ИВАНОВИЧ, АЛЕКСАХИН СЕРГЕЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, РОМАШЕВА СВЕТЛАНА ИВАНОВНА
МПК / Метки
МПК: G01B 7/16
Метки: дефор-маций
Опубликовано: 30.01.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-800619-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-defor-macijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения дефор-маций</a>
Устройство для измерения механических деформаций и усилий
Номер патента: 117440
Опубликовано: 01.01.1958
Автор: Жуковицкий
МПК: G01B 7/16, G01G 7/00, G01L 1/04
Метки: деформаций, механических, усилий
...действием измеряемых усилий.На чертеже показана часть предлагаемого устройства, представляющая собой измерительный прибор магпитоэлектрического типа, па гибком подвесе рамки которого укреплен датчик сопротивления.Рамка 1 прибора, расположенная в магнитном поле двух постоянных магнитов 2 и 3, прикреплена к плоской пружине 4, консольно закрепленной в стойке б, На обеих сторонах пружины наклеены проволочные датчики б, сопротивление которых изменяется при изгибе пружины,Протекание тока по обмотке рамки 1 вызывает перемещение ее и, как следствие, изгиб пружины 4, пропорциональный величине тока в рамке, Изгиб пружины 4 вызывает деформацию датчиков б и изменение их сопротивления, также пропорциональное величине тока в рамке прибора,Хо 117440...
Устройство для измерения сдвигов и механических деформаций
Номер патента: 121961
Опубликовано: 01.01.1959
МПК: G01L 3/10
Метки: деформаций, механических, сдвигов
...скобы 4 и ), между свободными концами которых зажат электрический датчик 6.При скручивании деформируемого тела под действием измеряемых усилий концы скоб 4 и б сближаются, сжимая датчик. Последи.и со:тоит из датчика типа Холла 6, заключенного внутри ыемагнптного корпуса 7, между разноименными пол,осами двух постоянных ма 1 ннтов Б н 9, жестко скрепленных с ножками 10 и 11, Перемещение конце скоб 4 и б деформируемого тела 1 воспринимается двумя ножками 10 и 11, вызывая сближение полюсных наконечников магнитов и тем самым изменяя121961 Предмет изобретения Устройство для измерения сдвигов и механических деформаций в изделиях по изменению расстояния между двумя точками на поверхности контролируемого изделия, в которых...
Устройство для измерения механических деформаций и скручивающих усилий
Номер патента: 145789
Опубликовано: 01.01.1962
Авторы: Борживой, Вацлав, Иосиф, Олдржих
Метки: деформаций, механических, скручивающих, усилий
...питает намагничивающие обмотки 3 и 4 возбуждения, индуктирует во вторичных обмотках б и 10 напряжениеЕ, которое одинаковой формы и конфазное с напряжением катушек дат. чиков.Напряжение в катушках 7 и 9 взаимно-противоположного направ. ления.Током, который течет вследствие поляризационного напряжения Е, цепью потенциометров 8 и 12 передвинется рабочий пункт выпрямителей 11 в линейную часть их характеристики,Предмет изобретенияУстройство для измерения механических деформаций и скручивающих усилий по патенту122906, содержащее систему из двух торроидальных замкнутых магнитных сердечников, снабженных обмотками возбуждения, питаемыми переменным током, и охватывающих деформируемый стержень или трубку из ферромагнитного материала, снабженную...
Устройство для механической обработки кокса
Номер патента: 1077915
Опубликовано: 07.03.1984
Авторы: Аксенин, Карпов, Целик
МПК: C10B 45/00
Метки: кокса, механической
...часть плиты с продольно расположенными колосниками 6пересекала траекторию падения крупных (более 60,мм) классов кокса,а часть плиты с ячейками 8 пересекала траекторию падения мелких(менее 60 мм) классов кокса. Кокскрупных классов, поступающии с рампового транспортера 9, ударяясь опродольные колосники 6 ударной плиты 2, дробится за счет реализации 25 микротрещин, и, проходя межколосниковое пространство, поступает в желоб 3, с которого передается в желоб 4, затем с желоба 4 механически обработанный кокс отгружают конечным транспортером 10 на валковыйгрохот 11Кокс мелких классов, поступающий с рампового транспортера 9,падает в ячейки 8, заполненные мелкиу коксом, образующим подушку, благодаря чему не дробится, а обкатывается, освобождаясь...
Устройство для измерения деформаций образцов
Номер патента: 1185061
Опубликовано: 15.10.1985
Автор: Зобнин
МПК: G01B 5/30
Метки: деформаций, образцов
...тензорезисторы 17.Устройство для измерения деформаций образцов работает следующимобразом.РО ВНИИПИ Заказ 6346/31 Тираж 650 Подписное Филиал ППП "Патент", г.Ужгород, ул.Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для исследования физикомеханических характеристик двух испытуемых образцов,Цель изобретения - повышение проиэводительности измерений путем однвременного измерения деформацийдвух образцов.На фиг. 1 схематически изображено устройство для измерения деформации образцов, общий вид," нафиг, 2 - то же, вид сбокуУстройство содержит основание 1с закрепленными на неь опорами 2,п едназначенными для связи с первымпробразцом 3 прямоугольного сечения,нагружающий механизм 4 в виде двухрычагов 5 и 6,...
Предыдущий патент: Устройство для бесконтактногоизмерения деформаций вращающихсяэлементов машин
Следующий патент: Тензопреобразователь
Случайный патент: Весовое устройство для градуировки микрорасходомеров жидкости