Способ облучения объектов пучкомускоренных заряженных частиц

Сфеэ Советскнк Соцналнстнчеекнк Реслублнк(51) М. Кл.з Н 05 Н 7/00 Государственный комитет СССР ио дедам изобретений,и открытий(54) СПОСОБ ОБЛУЧЕНИЯ ОБЪЕКТОВПУЧКОМ УСКОРЕННЫХ ЗАРЯЖЕННЫХЧАСТИЦ. Изобретение относится к Ускорительной технике, а конкретно " к способам облучения объектов пучком ускоренных зараженных частиц и может использоваться в радиационной техноЛогии на базе электронных ускори" телейИзвестен способ облучения объектов пучком ускоренных заряженных частицНедостаток; этого способа состоит- в том, что его осуществление требует . больших габаритов сканирующего уст" ройства. Например для отключения 15 пучка ускоренных зараженных частиц на ширину 1 м переменное элеКтромагнитное поле, сканирующее пучок, должно быть расположено на расстоянии около 3 м, причем это расстоя ние значительно увеличивается прй увеличении ширины облучаемого материала. При увеличении амплитуды углового отклонения, при сохранении выбранного расстояния от электромаг нитного поля, сканирующего пучок, до облучаемого объекта увеличивается предельный угол падения пучка ускоренных заряженных частиц на облучаЕ- ьый объект в результате чего возни" 3 О кает неоднородность облучения по ширине и глубине облучаемого объекта.Известен также способ облучения объектов пучком ускоренных заряженных. частиц путем Формирования пучка, создания на его пути поперечного направлению движения пучка электромагнитного поля для обеспечения падения пучка на облучаемый объект, например, под углом 90 и сканированияопучка в электромагнитном поле (2.Недостатком данного способа является то, что методы сканирования пучка в переменном электромагнитном поле, местоположение которого неизменно, требуют значительных расстояний от этого поля до облучаемого объекта (несколько метров) и соответственно больших габаритов скани" рующего устройства. Резко увеличиваются габариты и вес локальной биологической защиты, которой снаб" жаются облучающие установки с электронными ускорителями. Цель изобретения - обеспечение равномерности облучения поверхности обрабатываемых объектов любых, встре-, чающихся на практике ширины и проФиля.797089,Формула изобретения ВНИИПИ Заказ 9812/7 98 . Подписно лиал ППП фПатент", г. Ужгород, ул. Проектная,Цель достигается тем, что сканирование пучка осуществляется путем пере мещения электромагнитного поля в направлении линии, эквидистантной поверхности облучаемого объекта.Предлагаемый способ обеспечивает одинаковую конфигурацию магнитного поля независимо от зоны действия магнитного поля, а следовательно, и то, что траектории отклонения пучка частиц всегда подобны в результате сканирования пучкапутем переоснащения электромагнитного поля. Одинаковое возмущение пучка независимое от координат, в которых начинается действие воэмущения упомянутого электромагнитного поля, способствует отклонению пучка частиц на один и тот же угол. Движение пучка частиц в направлении линии, эквидистантной поверхности .облучаемого объекта, и поворот пучка в перемещаемрм электромагнитном поле на один и тот же заданный угол преимущественно 90 обеспечивают однородность облучения вдоль поверхности облучаемого объекта и проникновение пучка ускоренных частиц на одинаковую глубину по всейего поверхности.Сущность изобретения поясняется чертежом.При облучении поверхности произвольного профиля в формирователе 1 . формируют пучок 2 ус:коренных заряженных частиц, на пути которого создают поперечное направлению движения ,. пучка электромагнитное поле 3. Конфигурацию и величину электромагнитного поля 3 выбирают таким образом, чтобы обеспечить падение пучка 2 на поверхность облучаемого объекта4 под одним и тем же заданным углом.Пучок 2 сканируют.по поверхностиоблучаемого объекта путем перемещенияэлектромагнитного поля 3 по лиййи 5 . эквидистантной поверхности облучаемого объекта 4 (отмечено стрелкойот А до В) . На пути пучка создаютдополнительное постоянное поле 6 для транспортировки пучка 2 по линии 5. При обработке объектов их протягивают в направлении перпендикулярном плоскости отклоненного в электромагнитном поле 3 пучка 2 (перпендикулярно плоскости чертежа).Аналогичным путем можнодобитьсяоднородного облучения объектов самой разнообразной формы, например, имеющих эллипсоидальное сечениеповерхностей, параболлический, гиперболический или любой другой профиль.Предлагаемый способ облученияобеспечивает более однородное распределение поглощенной дозы излу= чения по всей поверхности и глубине облучаемых объектов самого различного профиля. Этот способ позволяет создать компактные облучающие устройства, кроме того, в несколько раз снижается вес биологической защиты для облучающих установок на 20 базе электронных ускорителей,25 Способ облучения объектов пучкомускоренных заряженных частиц путемформирования пучка, создания на егопути поперечного направлению движения пучка электромагнитного поляЗу для обеспечения падения пучка на облучаемый объект, например, под углом90 и сканирования пучка в электромаг.онитном поле, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью обеспеченияравномерности облучения поверхностиобрабатываемых объектов любых,встречающихся на практике ширины ипрофиля, сканирование пучка осуществляют путем перемещения электромагнитного поля в направлении линии,40 эквидистантной поверхности облучаемого объекта.Источники Йнформации,принятые во внимание при экспертизе1. Патент,США Р 2658442,45 кл. 250-49, 5, 1958.2. Патент Франции Р 1376813,кл. Н 05 Н 1963.