Устройство для измерения распределения колебаний по поверхности пьезоэлементов кварцевых резонаторов

Номер патента: 679890

Авторы: Александров, Рондин, Спасибо

ZIP архив

Текст

(71 ЗаявитЕ ВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ПО ПОВЕРХНОСТИ ПЬЕЗОЭЛЕМЕНТОВ КВАРЦЕВЫХ РЕЗОНАТОРОВ(5 РО азан для Изобретение относится к области радиоэлектроники и может быть исполь" зовано при производстве и разработке новых образцов кварцевых резонаторов с колебаниями пьезоэлемента на .изгиб и кручение.Известны устройства для измерения распределения амплитуд колебаний по поверхности пьезоэлемента кварцевого резонатора, содержащие исследуемый кварцевый резонатор и устройство для формирования считывающего лу- . ча 11 . Для указанных устройств характерно" 5 существенное влияние считывающего луча на электродинамические параметры (ЭДП) кварцевых резонаторов, что приводит к большим погрешностям измерения. 20Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому результату является устройство для измерения распределения колебаний по поверхности пьезоэлементов кварце вых резонаторов, содержащее подвижную подставку с исследуемым пьезоэлементом, источнйк узкого пучка света и фотоприемник с фоточувствительным элементом, 21,Недостатком укаэанного. устройства является искажение сигнала на выходе фотоприемника, что требует дополнительного контроля и подбора диафрагм сложной конфигурации. Это приводит к длительности процесса измерения и необходимости в проведении дополнительных расчетов, так как производится измерение не распределения амплитуд колебаний пьезоэлемента, а амплитудного отклонения считывающего луча.Целью изобретения является умень шение погрешности измерения, увеличение разрешающей способности и сокращение времени на обработку результатов измерения.Цель достигается тем,что в устройстве для измерения. распределения колебаний по поверхности пьезоэлементов кварцевых резонаторов, фотоприемник снабжен неподвижной щелевой диафрагмой, расположенной перед фоточувствительным элементом, а фоточувствительный элемент и подставка выполнейы с возможностью синхронного перемещения их.во взаимно-перпендикулярных плоскостях.На фиг, 1 пок а функциональная схема устройства измерения рас679890. формула изобретения ИИПИ Заказ 4782/40 Тираж 1090 Подписи ППП Патентф, г. Ужгород, ул. Проектная л,пределения колебаний по поверхности пьезоэлементов кварцевых резонаторов на фиг. 2 - диафрагма в виде узкой щели; на фиг. 3 - кинематическая связь между юстировочным столиком и фоточувствительньи элементом.Исследуемый кварцевый резонатор 1, включенный в схему автогенератора, помещают на подвижную 1 подставку 2, Перемещением источника 3 узкого пучка света добиваются условия, когда падающий пучок света попадает на пьезоэлемент кварцевого резонатора, а отраженный - в диафрагму 4 фотоприемника 5. Для непосредственного получения картины распределения механических колебаний по поверхности пьезоэлементакварцевого резонатора применена механическая синхронизация движущегося в вертикальном направлении подвижного столика с иссле" дуеьым кварцевым резонатором и фото" чувствительным элементом, который. перемещается в горизонтальном нап" равлении.При возбуждении пьезоэлемента кварцевого резонатора 1 меняется угол падения пучка света на пьвзо" элемент и, следовательно, угол его отражения. Отраженный пучок света попадает на Фотоприемник 5, Фиксируя при этом на фоточувствительном элементе б синусоидальные колебания, частота которых характеризует механические колебания пьезоэлемента, а амплитуда характеризует распределение колебаний по поверхности пьезоэлемента. При этом на Фоточувствительном элементе Фиксируются результаты распределения механических колебаний пьезоэлемента, не требующие дополнительной обработки результатов измерений.Синхронизация подвижной подставки 2 с фоточувствительным элементом б позволяет повысить точность опреде"ления исследуемой области за счетувеличения скорости перемещения фоточувствительного элемента и, соответственно, разрешающую способностьизмерителя.5 Такое выполнение устройства дляизмерения распределения колебанийпо поверхности кварцевых резонаторов обеспечит снижение брака при серийном изготовлении кварцевых ре зонаторов благодаря возможностиподбора пьезоэлементов с нужнымипараметрами на ранних стадиях технологического процесса. Устройство для измерения распределения колебаний по поверхностипьезоэлементов кварцевых резонато"ров, содержащее подвижную подставку для размещения исследуемого пье-,зоэлемента, источник света и фотоприемник с фоточувствительным элементом, о т л и ч а ю щ е е с ятем, что, с целью уменьшения погрешности измерения, увеличения разрешающей способности и .сокращениявремени на обработку результатовизмерения, в нем фотоприемник снабжен неподвижной щелевой диафрагмой,расположенной перед ФоточувствитеЗО льным элементом, а фоточувствительный элемент и подставка выполненыс возможностью синхронного перемещения их во взаимно-перпендикулярных плоскостях.35 Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР В 425310, кл, Н 03 Н 3/00, 23127140 2. Авторское свидетельство9 373636, кл. 6 01 В 21/00,21.1272

Смотреть

Заявка

2581594, 17.02.1978

ХАРЬКОВСКОЕ ВЫСШЕЕ ВОЕННОЕ КОМАНДНОЕ УЧИЛИЩЕ ИМ. МАРШАЛА СОВЕТСКОГО СОЮЗА КРЫЛОВА Н. И

АЛЕКСАНДРОВ ЮРИЙ НИКОЛАЕВИЧ, СПАСИБО ЕВГЕНИЙ АЛЕКСЕЕВИЧ, РОНДИН ЮРИЙ ПЕТРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 21/00

Метки: кварцевых, колебаний, поверхности, пьезоэлементов, распределения, резонаторов

Опубликовано: 15.08.1979

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-679890-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-raspredeleniya-kolebanijj-po-poverkhnosti-pezoehlementov-kvarcevykh-rezonatorov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения распределения колебаний по поверхности пьезоэлементов кварцевых резонаторов</a>

Похожие патенты