Способ дефектоскопии магнитной головки

Союз Соаетских Социалистиыесаа Республик(23) Приоритет -б 11 В 5/46 есудерстеенный коинтет СССР ее делам нзобретеннй и аткрытнй(71) Заявител 4) СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИ МАГНИТНОЙ ГОЛОВКИ Изобретение относится к магнитной записи, а именно к способам дефектоскопии магнитной головки.Известен способ дсфектоскопии магцитцой головки путем визуализации результата воспроизведения магнитной головкой контрольного сигнала, записанного на магнитной ленте 111. Известный способ обеспечивает проверку магнитной головки в условия, близки. к рсальцыч условияч ее использования. Однако этот способ весьма трудоемок.Известен также сцосоо дефектоскопии магнитной головки путем визуализации результата воздействия на пленочный магнитооптический датчик внешним магнитным полем и чагнитным полем рабочего зазора магнитной головки 2. Этот способ обеспечивает относительную простоту процесса дефектоскопии магнитной головки.Цель изобретения - повышение разрешающей спосооцости дефектоскопии магнитной головки. Это достигается за счет того, что в процессе воздействия внешним магнитнь 1 м почем производят преобразование лабиринтюй доменной структуры пленочного магнитооцтичсского датчика в чоцодочеццое состояние, при воздействии чдгццтцыч гклсч рабочего зазора мапштцой головки изчецяют направленце цдмдгци еццостц ччастков пленочного магнитооптического датчика цд про Гивоположцос, д при вцз 1 длиздции сравниваютт картину распределения чдгш 1 тцого поля рабочего зазора магнитной головки с эталонной картиной. При этом направление внешнего чдпштного поля совчсщдют с оськ легкого намагничивания пленочного в магнитооптического датчика, перпендикулярной его плоскости. Дефектоскопия магнитной головки согласно предлагаемому способу происходит 15следующим образом. Нд пленочньй магнитооптический датчик с лабиринтцой доменной структурой воздействуют вцешнич магцитцыч полем. При эточ направление вцецнего магнитного поля совмегцают с оськ легкого намагничивания пленочцого магни тооптического датчика, перпендикулярнойего плоскости. В процессе воздействия внешним магнитным полем производят преобразование лабирицтной доменной структуры пленочного магнитооптического ддтчцкд669394 Составитель Е. Розанов Техред О. Луговая Корректор Н, Степ Тираж 680 Подписное ЦН И И П И Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул, Проектная, 4Редактор Е. Гончар Заказ 3667/42 в монодоменное состояние. На пленочный магнитооптический датчик воздействуют также магнитным полем рабочего зазора магнитной головки, При этом процессе воздействия магнитным полем рабочего зазора магнитной головки изменяют направление намагниченности участков пленочного магнитооптического датчика на противоположное. Результат воздействия на пленочный магнитооптический датчик внешним магнитным полем и магнитным полем рабочего зазора магнитной головки визуализируют на экране. При этом в процессе визуализации производят сравнение картины распределения магнитного поля рабочего зазора магнитной головки в зависимости от частоты и силы тока в ее обмотке с эталонной картиной, полученной посредством эталонной магнитной головки. Использование изобретения позволяет 2 о в значительной степени повысить разрешаюшую способность дефектоскопии магнитной головки. Кроме того использование изобретения обеспечивает значительное ускорение процесса дефектоскопии магнитной головки.и Изобретение может быть использовано при серийном производстве магнитных головок. Формула изобретенияСпособ дефектоскопии магнитной головки путем визуализации результата воздействия на пленочный магнитооптический датчик внешним магнитным полем и магнитным полем рабочего зазора магнитной головки, отличающийся тем, что, с целью повышения разрец 1 аюшей способности, в процессе воздействия внешним магнитным полем производят преобразование лабиринтной доменной структуры пленочного магнитооптического датчика в монодоменное состояние, при воздействии магнитным полем рабочего зазора магнитной головки изменяют направление намагниченности участков пленочного магнитооптического датчика на противоположное, а при визуализации сравнивают картину распределения магнитного поля рабочего зазора магнитной головки с эталонной картиной, причем направление внешнего магнитного поля совмешают с осью легкого намагничивания пленочного магнитооптического датчика, перпендикулярной его плоскости.Источники информации, принятые во внимание при экспертизе1. Ефимов Е. Г. Магнитные головки. - М., Энергия, 1967, с. 51.2. Авторское свидетельство СССР ,х/о 532126, кл. Сз 11 В 5/46, 975.