Устройство для получения проб

Номер патента: 639319

Авторы: Гришина, Максимова, Рудневский, Туманова

ZIP архив

Текст

О П И С А Н И Е и 1639319ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз СоветскикСоциалистически кРеспублик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(23 ) 11 р нор н гет ее делам нзабратаннй н еткрытнйОпубликовано 23.0781 Бюллетень 3% 27 Ната опубликования описания 25.07.81(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ ПРОБЕС 2% -01 ъЕГ Цт Изобретение относится к области эмиссионного спектрального анализа, в частности к пробоотборникам для лазерного микроспектрального анализа, и может быть использовано для отбора5 и подготовки проб твердых материалов, преимущественно металлов, сплавов.Известно устройство,цля получения проб, содержащее источник лазерного излучения и подложку с осевым отверстием для прохождения лазерного луча, причем отверстие выполнено коническосферическим.Недостатком этого устройства является то, что часть пробы теряется, т.е. не оседает на стенках подложки, а оседает около кратера, образующегося при воздействии на материал лазер- . ного излучения, что не позволяет обеспечить полноту осаждения выброшенной пробы на подложке, следовательно, достоверность пробы невысока.Целью изобретения является повышение достоверности проб. Это достигается тем, что подложкавыполнена в виде диска, причем диаметр осевого отверстия одной иэ поверхностей диска меньше или равендиаметру отверстия другой поверхности.На чертеже изображено устройстводля получения проб, общий вид,Устройство содержит источник лазерного излучения 1 и подложку.2,установленную на поверхность исследуемого твердого материала 3, Подложка выполнена в виде диска с осевымотверстием 4, причем диаметр д,( отверстия 4 поверхности подложки 2,соприкасающейся с поверхностью материала, меньше или равен диаметру с 4.отверстия 4, другой поверхности под-.ложки 2,Толщина подложки 2 может быть рассчитана по формуле:6393 10 15 где- толщина подложки:Д 1 - меньший диаметр отверстияповерхности подложки;Т - температура.Рассчитанная по этой формуле толщина дает возможность прохождения луча (в пределах применяющегося излучения) без эарезания при цилиндрической форме осевого отверстия.Устройство работает следующим образом.Лазерное излучение от источника 1 проходит через осевое отверстие 4 подложки 2 .и пропадает в выбранную под микроскопом точку исследуемой поверхности материала 3. Происходит мгновенный взрывообразный выброс пгрбы с образованием кратера, Выброшен 19 фйая проба оседает ца цоврхцостц ц 1 л - ложки 2 в форм диска. Зцтм цодццн у переиосят в углубление злктродц, который используют в качестве гцжцгоэлектрода при спектральном анализе. Формула изобретения/Устройство для получения проб твердых материалов, включающее источник лазерного излучения и подложку с осевым отверстием, о т л и ч а ю щ в е с я тем, что, с целью повьплеция достоверности проб, подложка выполцена в виде диска, причем диаметр осевого отверстия одной из поверхностей подложки меньше или равен диаметру отверстия другой поверхности.;Заказ 57 7 39 Тираж 907 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент , г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Смотреть

Заявка

2465114, 23.03.1977

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6500

МАКСИМОВА Э. В, РУДНЕВСКИЙ Н. К, ТУМАНОВА А. Н, ГРИШИНА Н. П

МПК / Метки

МПК: G01N 1/04

Метки: проб

Опубликовано: 23.07.1981

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-639319-ustrojjstvo-dlya-polucheniya-prob.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для получения проб</a>

Похожие патенты