Способ измерения деформаций в условиях нестационарных температур

Номер патента: 570767

Автор: Иванов

ZIP архив

Текст

О П И С А Н И Е (п 57 О 767ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЙЬСТ ополнительное к авт. свид-ву 02,74 (21) 2000035/28(23) ПриоритОпубликовано Совета Министров ССС но делам изобретений 53) УДК 531.781,2:: 539.3(088.8) 0,08,77. Бюллетень32 н открыт Дата опубликования описания 21.09.7 2) Автор изобр Иван Х НЕСТАЦИОНАРНЫХ ТЕМ ТУР УС 2 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении деформации с помощью тензометрирования различных материалов, образцов для исследования, а также готовых деталей и уз лов.Известен способ измерения деформации в условиях нестационарных температур, состоящий в том, что в исследуемой точке устанавливают тензорезистор и две термопары для 10 измерения температуры решетки тензорезистора, и о деформации судят по сигналам тензорезистора с учетом поправки термочувствительного элемента 1.Известен способ измерения деформации в 15 условиях нестационарных температур, заключающийся в том, что закрепляют на контролируемой поверхности тензорезистор и термочувствительный элемент и о деформации поверхности судят по сигналам тензорезистора с учетом поправки термочувствительного элемента 2,Недостатком известного способа является необходимость измерения двух динамических температур решетки тензорезистора и иссле дуемой поверхности.Целью изобретения является повышение точности измерения, что осуществляется использованием тензорезистора и термочувствительного элемента с одипаковымп термиче скими постоянными времени, а температурную поправку формируют из первой производной сигнала термочувствительного элемента с учетом его термической постоянной времени и температурного коэффициента линейного расширения материала исследуемой поверхности.При использовании способа предусматривается следующая последовательность операций.Изготавливают тензорезисторы и одинаковые по конструкции (за исключением материала) терморезисторы. Определяют тензочувствительность тензорезисторов и температурный коэффициент сопротивления терморезисторов. Определяют постоянную времени обоих резисторов, что осуществляется путем установки контрольных терморезисторов на отдельной пластине, помещаемой в рабочие условия, разогрева решеток терморезисторов отдельным мощным источником тока питания, мгновенного подключения терморезисторов к нормальному источнику питания и регистрации показаний терморезисторов. Кривые охлаждения решеток терморезисторов аппроксимируют экспонентами, по которым определяют среднее значение те. Указанное значение распространяют на все терморезисторы и тензорезисторы данного типа.В каждой точке измерения непосредственно рядом с самокомпенсирующимся тензорези50767 Формула изобретения Составитель В. Пискарев Техред И, Карандашова Корректор Л, Котова Редактор Л. Чепайкина Подписное Заказ 1941/12 Р 1 зд. Мз 729 Тираж 907 НПО Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5.:ором устанавливают терморезистор, включенный в отдельный канал измерения производной от температуры, построенной по принципу, когда выходной сигнал терморезистора корректируют с помощью фазоопережающего контура из скорректированного сигнала вычитают прямой сигнал терморезистора, а полученну 1 о разность вторично корректируют посредством аналогичного фазоопережающего контура.При обработке результатов в каждой точке измерения определяют величины динамических фиктивных деформаций:,(г,.) = -, т,(,.) и вносят поправку в результаты измеренийе (1) - ев (1) "диа (.1)где е(1,) - истинная деформация в даннойточке при времение (г,) - зарегистрированная деформацияв точке,, - коэффициент теплового расширения,то - постоянная времени,Т(11) - производная от температуры решетки.Для внедрения способа не требуется разработка специальных устройств, приспособлений и приборов. Установка тензорезисторов итерморезисторов осуществляется по существующим технологиям наклейки резисторов,Способ измерения деформаций в условияхнестационарных температур, заключающийся 5 в том, что закрепляют на контролируемойповерхности тензорезистор и термочувствительный элемент и о деформации судят по сигналам тензорезистора с учетом поправки термочувствительного элемента, о т л и ч а ю щийся тем, что, с целью повышения точности измерений, используют тензорезистор и термочувствительный элемент с одинаковыми термическими постоянными времени, а температурную поправку формируют из первой 15 производной сигнала термочувствительногоэлемента с учетом его термической постоянной времени и температурного коэффициента линейного расширения материала исследуемой поверхности.20 Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Серьезнов А. Н Царева Г, А. Погреш ность в измерении деформаций проволочнымитензорезисторами, обусловленная влиянием псстационарного нагрева, Проблемы прочности,8, 1973, с. 85 - 87.2. Патент США3490272, кл. 73 - 88.5, 30 1970.

Смотреть

Заявка

2000035, 22.02.1974

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6977

ИВАНОВ ЕВГЕНИЙ МИХАЙЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 7/16

Метки: деформаций, нестационарных, температур, условиях

Опубликовано: 30.08.1977

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-570767-sposob-izmereniya-deformacijj-v-usloviyakh-nestacionarnykh-temperatur.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения деформаций в условиях нестационарных температур</a>

Похожие патенты