Устройство для измерения электропроводности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
) 533882 Сопа Советских Социалистических РеспубликВТОРСКОМУ С вид-ву полнительное к 8072 22) Заявлено 07.06,74 ( с присоединением з 51) Ч. К,1.- О со явк овета Министров снь о 4 53) УЛК 621.317.делам изобретени и открытий 13,10.7 72) Авторы изобретени Щекотов Сеченоь о, В(71) Заявител сссосозный научно оплавких металло тут 1 Москсвскии физико-техническ сследовятельский и проектньи тверд и инст й инст ых спл тут твов ТИ ОПРОВ ИЯ 3 Изобретение отно измерения электроп сокой температуры пример для измер плазмы щелочных мИзвестен индукци иый в виде стеклян дета катушка икдук Измерени датчиком пр иых матери меры низко пературе.Известны казанным 111 золяционканал катной темостиии изинойком электропровод оводится в сек лов, вмонтиров о давления, пр Гасударственные комите 23) П Опубликовано 30.10,76.Лата опубликования оп 4) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕ сится к устроиствам для роводности в условиях выи агрессивной среды, наения электропроводности еталлов.онный датчик, выполненюй трубы, на которую нативности 1. и датчик не может быль использоаи для высокотемпературных измерений, так как повышение температуры выводит его ИЗ СТР 05.Известен также торцевой индукционный датчик для измерения электропроводности, состоящий из плоской спиральной катушки индуктивности, прикрепленной к пластине из диэлектрика, изолирующей катушку от проводящей среды 2). Такой датчик применяется при комнатных температурах, в неагрессивных средах, поэтому крепление катушки, изоляция витков катушки друг от друга и от проводящей среды обеспечивается с помощью лаков или смол. 1-1 аличие агрессивной среды при высокой температуре требует защиты катушки индуктивности от среды, не предусмотренной известными конструктивными решениями.Цель изобретения - повышение верхнего температурного предела применимости и зашиты от агрессивной среды.Это достшается тем, что корпус предлагаемого устройства выполнен в вкде гсрметизированной камеры с диском из термохимически устойчивого материала (напрмер, микролита) и крышкой с гермовводом, а витки катушки индуктивности прикреплены к диску фоссря гцементом.На чертеже изображено предлагаемое устройство.Плоскую спиральную катушку 1, витки которой изолированы 1 срмосОйким изолируюисим материалом, например кварцеым волокном 2, крепят слоем фосфатцемснтя 3 и ксрамичес 110 му диску 4, который ирис;1 ян и корпусу 5. Последпкй герметизировяи крышкой 6, снабженной гермовводом 7. Выводы катушки 8 привариваются к выводам гермоввода 9 точечной сваркой 10.Предлагаемое устройство входит в колеоательный контур, подкл 10 ченный к генератору регулируемой частоты через рязделпелы 1 ьш конденсатор. Проводимость среды, гранича 1 це 1 с поверхностью датчи 1 са, Опрсдсгяетс 51 по амплитуде сигнала колебателы 10 ГО коитра и известкой калибровочной кривой, 3Предлагаемое устройство позволяет провести измерения электропроводности агрессивной среды в ударной трубе при температуре 400 - 700 С, при этом ооеспечивастся длительный срок службы устройства. Фор мула изобретенияУстройство для измерения электропровод- ности, например плазмы щелочных металлов, содержащее размещенную в корпусе плоскую спиральжю катушку индуктивности, витки которой изолированы друг от друга термостойким материалом, например кварцевым волокном, отличающееся тем, что, с целью повышения верхнего температурного предела применимости и защиты от агрессивной сре 533882ды, корпус выполнен в виде гермстизированной камеры с диском из термохимически устойчивого материала, например микролита, и крышкой с гермовводом, а витки катушки ин 5 дуктивности прикреплены к диску фосфатцементом,Источники информации, принятые во вни О мание при экспертизе:3. Васильева Р, В., Донской К. В. и др,Ионизация инертным газом за фронтом ударной волны. - Журнал технической физики, 1970,3, стр. 40.15 2. Макаров Ю, В Чекалин Э. К, Физическиепроцессы в электромагнитных ударных трубах. М., Лтомиздат, 1968, с. 156 - 169.Заказ 275/11 Изд. М 1 бв 7 Тираж 1029 Подписное ЦНИИПИ Росударственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, )К.35, Раушская наб., д. 45 Типография, пр. Сапунова, 2
СмотретьЗаявка
2031807, 07.06.1974
МОСКОВСКИЙ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ, ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ И ПРОЕКТНЫЙ ИНСТИТУТ ТУГОПЛАВКИХ МЕТАЛЛОВ И ТВЕРДЫХ СПЛАВОВ
ВЛАСОВ АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ, КОВАЛЕНКО ВЛАДИМИР ПАВЛОВИЧ, СЕЧЕНОВ ВЛАДИСЛАВ АЛЕКСЕЕВИЧ, ЩЕКОТОВ ОЛЕГ ЕВГЕНЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 27/22
Метки: электропроводности
Опубликовано: 30.10.1976
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-533882-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-ehlektroprovodnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения электропроводности</a>
Предыдущий патент: Устройство для контроля и измерения сопртивления контактов реле при низких уровнях нагрузки
Следующий патент: Устройство для анализа сигналов
Случайный патент: Всесоюзная