Способ отсчета по линейной шкале

Номер патента: 532001

Авторы: Кацнельсон, Коган

ZIP архив

Текст

,е,с.ОФРФб нб днЕ) О П 5320 й Сооз. Советск нх Соналнстическнх Республик)рцсоедценил Государственный комитет Совета Министров СССРло делам иэобретеии и открытий72) Лвторы изобретен ця Б. Кацнельсон и Ф. И. Кога 71) Заявите(54) СПОСОБ ОТСЧЕТА ПО ЛИИЕИ КА Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для автомат;5 ческого измерения линейных перемещений подв)5 кцых элементов приборов и машин.Известен способ отсчета по линейной шкале, зак;почающийся в определении положения индекса относительно одного из штрихов шкалы 1.По известному способу сканируют участок шкалы со штрихами, доли интервалов между штрихами измеряют с помощью заполняющих импульсов /дискрет/, а отсчет доли интервала меткд 1 ипдексом и штрихом шкалы производят путем подсчета количества дискрет межд цимц1 гзвестцый способ имеет недостаток, заключающийся в низкой помехозящищенности, тск ки в процессе эксплуатации шкалы происходит нарушение чистоты ее поверхности, и амплитуда ложеых сигналов в ряде случаев может оказаться с 055 змеримой с амплитудой полезного сигнала, а в ряде случаев и превысить ее.Наиболее близким к предложенному изобретению по достигаемому эффекту является способ, реализованный в устройствах, шкалы которых снабжены вспомогательными рисками, нанесенными на фиксированном расстоянии от основных штрихов, и вспомогательным фотодатчиком, установленным относительно основного фотодатчцкя ца расстоянии, равном расстоянию между вспомогательными рисками и основнымц штрпхамц шкалы (21.Предлагаемый способ отличается от цзвест ного тем, что измеренця производят в моментсовпадеп 5)я сигналов с цзмерцтелшОго ц контрольного фотодатчиков, что превышает достоверность измерений.Однако прц работе по известному способу 10 не исключено получение ложного сигнала цз- -за возможности появления ця шкале инородных включений, перекрывающих весь интервал между парами штрихов цлц расположенных рядом с основным штрихом со стороны, 5 противоположной вспомогательной риске.Цель изобретения - повышение достоверности отсчета по гншейной шкале.Для этого по предлагаемому способ) сравнивают между собой величины интервалов, 20 образованных соседними штрихамц, находятнаибольший из интервалов и измеряют расстояние от индекса до одного цз штрихов, ограничивающих этот интервал.Осуществляется способ следующим Обра зом (см чертеж)На чертеже изображены: а - участок шкалы; б, в, г, д - временные диаграммы,При сканировании изображения участкашкалы 1 на фотодатчик приходят сигналы от ЗО царапин 2, инородных включений 3 и штрц+с сек 1 як 5 4 и" о; ид и,у Изд.1653 Тираж аказ 2531/20 одписно НИИ Типография, пр. Сапунова, 2 хов 4 1 изображенных схематично на чертеже), 3 результате чего на выходе фотодатчпка появляется последовательность измерительных импульсов У,и Одновременно с началом сканирования запускают генератор опорных импульсов Ь, которые используются как эквиваленты индекса, и генератор заполня 1 оп 1 их импульсов Уз, Считая число Л импульсов Ов, генерируемое в промежутке времени между опорным К, и измерительным Опв сигналами, производят отсчет, определяющий расстояние межд индексом /оп и штрихом 4, или, например, царапиной 2. Кроме величины Л 1 в процессе измерения непрерывно определяют число М заполняющих импульсов Уз между всеми находящимися в поле зрения соседними парами измерительных импульсов Ц. Результат текущего отсчета величины М=М сравнивают с наибольшим из предшествующих М=Маие. Если Мтеи(Маито формируют импульс запрета, с помощью которого па выход системы регистрации не пропускают отсчет Л, полученный в промежутке, где фиксировали Мтеи, Если же Мтек)Ммаве, то его запоминают и используют в качестве М 1 гаве, с которым сравнивают все полученные впоследствии значения Мтев Таким образом, ош 1,бка и измерении возможна только и том случае, когда все интервалы шкалы, находящиеся в момент отсчета в поле зрения, имеют царапины 2 или инород пые включения 3, вероятность чего весьмамала. Фор мула изобретения 1 О Способ отсчета ло линейной шкале, заключакпцийся в определении положения индекса относительно одного из штрихов шкалы, отл и ч а ю щи й с я тем, что, с целью повышения достоверности отсчета, сравнивают между со бой величины интервалов, ооразованных соседними штрихами, находят наибольший из интервалов и измеряют расстояние от индекса до одного из штрихов, ограничивающих этот интервал,20 Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:1. 1 О. Л. Полунов Фотоэлектрические микроскопы и автоколлиматоры в машинострое.25 нии, изд. НИИмаш, М., 1971 г.2. Лвторское свидетельство М 374494 поМ, Кл. 6 01 В 11/02, 73 г, (прототип),

Смотреть

Заявка

2015998, 12.04.1974

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1705

КАЦНЕЛЬСОН ЛЕОНИД БОРИСОВИЧ, КОГАН ФЕДОР ИСААКОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/00

Метки: линейной, отсчета, шкале

Опубликовано: 15.10.1976

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-532001-sposob-otscheta-po-linejjnojj-shkale.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ отсчета по линейной шкале</a>

Похожие патенты