Способ испытания на надежность мощных электронных ламп с наружным анодом

Номер патента: 515076

Авторы: Деревянко, Долгинцев, Легкова, Московская

ZIP архив

Текст

ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К. АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик2) Заявлено й 7. 72 (21) 1809504/2 1/25 9/42 аявкис присоединением осудврственныи номит Совета Министров ССС оо делам изооретенийи открытий(45) Дата опубл ования описания 30.09.76 ко, И, И. Долгинцев, А. А. Легкова и Г, М.Ф(71) Заявитель А НАДЕЖНОСТЬП С НАРУЖНЫМ ОШНЫ НОДОМ 1Изобретение относится к электровакуумному приборостроению, в частности к способу,испытания на надежность электровакуумных,ламп с жидкостным охлаждением анода,Способ можно испольэовать при разработке,серийном производстве электронных ламп,а также при их эксплуатации,Надежность электронных ламп определякется многими факторами, одним из которых .вляется однородность электродной, структуры,Известен способ прогнозирования отка:зов приемно-усилительных ламп, согласнокоторому определяют параметры лампы впроцессе ее йспытания, в частности изме,ряют нарастание температуры баллона лампы, и по полученной зависимости температуры от времени расчетным путем опреде,.ляют ожидаемый срок службы лампы 1.Недостатком этого способа являетсясложность осуществления и низкая точностьполученных результатов.Наиболее близким техническим решениемк данному изобретению является способ испытания на надежность мощных электронныхО ламп с на жидкостью ет работу Согласно ют мошнос хлаждаемыместву повторя- условиях 2. тепенно повышаа аноде. жным анодом, о который по суш амп в реальных ому способу пос и рассеивания особ не позволяет электродной струк требует длительнь ого, электронные ла нельзя использовапы можно испытыва Известный , об, однородност 1 ронной лампы таний. Кроме после испытан довательно, л туры электх испымп 10 и сле ть выб рочно.Целью и1 неоднородност,ронных ламанода. я выявлениеструктуры элект- лаждением обретения являетс и электродной с жидкостнымЦель достигается тем, что испытания у проводят в устройстве испарительного охлаждения, повышая мощность рассеивания на диоде до момента возникновения кризиса кипения, и,сравнивая значение мощности рассеивания в моМент воэникновенйя кризиса кипе-,1 ния с нормированным значением, производят отбраковку.515076 ЦНИИНИ Государственного коиитета Совета Министров ЧССР по дел а и изобретений и открытий Иосква, 313035, Раушсквя наб 4 Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, уп. Проектнаа, 4 3Кризис кип, в :кия можно определить порезкому возрастанию 1 обратного сеточноготока.Кризис кипения можно также определитьпо видимому свечению анода.Электронную лампу - гекераторный триодс принудительным водяным охлаждениеманода-помешают в устройство испарительногоохлаждения, Н ормированная критическаямощностьрассеивания. на аноде этой ламг 1 ы;при которой кризис кипения возникаетравномерно по всей поверхности анода,теоретически рассчитана и составляет 80квт.Подают напряжения на электроды; накал,напряжение вмещения на сетку, анодкоенапряжение,-обеспечивающие мощностьрассеивания на аноде 20 квт., т.е, пример:но 25% от нормированной мощности.Ступенями уменьшаянапряжение смещения на сетке, повышают мощность рассеивания на аноде на 5-10% от нормированной и выдерживают 1-5 мин на каждойступени. При этом контролируют стабильность обратного сеточного тока.Порезкомувозрастанию обратного сеточного токафиксируют,ф момент возникновения кризисакипения. Измеряют мощность рассеиванияна аноде в этот момент - 46 квт, Снимают напряжения с; - .пектродов, Сравнива-ют значение 46 - - с нормированной мощ-.ностью 80 квт. Их:,: ношение составляетО, 57, т. е, испытаемая электронная лампаобладает существ вин ой неоднородностьюэлектродной структуры и ее отбраковывают.Если это отношение больше или равно 0,6 лампу считс,;т огодной,В случае качественнойсборки и заварки электронной лампы ее электродная струк.тура достаточно однородна, и, следовательно, имеет место равномерное распределение тепловых нагрузок по поверхнос-,/тиу электродов и анода. При нарушениисоосности электродов илк децентрации ихотносительно анода происходит перераспре 41деление электронного потока в лампе и,следовательно, неравномерный нагреванода. На отдельных участках анода величинатеплового потока может превысить крити-ческую, при которой йроизойдет переходот пузырькового режима кипения к пленочному, т. е, пузырьки пара сольются и обра-зуют паровую пленку, которая изолируетповерхность анода от охлаждающей жидкосЗаказ 6194 Изд, И Щ тз. Таким с разом, атгг участок анодапраюичесс. перестает охлаждаться, Зтоявление получило название кризис кипения,Возникающий при локальном перегреве5 анода кризис кипения можно определитьпо резкому возрастанию обратного сеточно-го тока, вызванного газоотделеием с перегретого участка. Зто наиб",:лее чувствительный и безынерционный кйикатор возЗ никкавения кризиса кипений.Кризис кипения можно также определитсялибо визуальк: по видимому свечениюперегретого участка анода, либо с помощью,Фотоэлемента или термопары.Преднагаемый способ псаволяет выявить.йеодкородкость электродной структуры злекФ=рокных ламп и прсводить их отбраковку иастадии технического контроля готовой промдукции, а также в процессе эксплуатации,-о причем испытанию могут быть подвергнуты100% ламп, Этот способ является способомкратковременных испытаний,.ф о р м у л а ,и з о б р е т е к и я1, Способ испытания на надежкост 61 мощ=кых электронных ламп с наружным анодом,охлаждаемым жидкостью, путем постепенйого повышения мощности рассеивания нв.30 аноде, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что,1: целью выявления неоднородности электродкой структуры, испытания проводят в устройствв испарительного охлаждения, ,ловышая мощность рассеивания на аноде до мо=ю, мента возникновения кризиса кипения и сраьнивафя значение мОщности рассеивания вМомент вознйкковениякриэиса кипения снормированным значением, производят .отбраковку,2, Способпоп, 1, отличающий.с я тем, что кризис кипения определяютпа резкому возраращао обратного сеточко-;го тока.Э. Способпоп, 1, отличающийс я твм, что кризис кипения определяют повидимому свечению анода.Источники информации, принятые во вки-:Мание при экспертизе:1. Авторское свидетельство СССР%208778, ЯКл. С 018 31/.24,приоритет24 декабря 1965 г.2. А. Е. Иориш Основы технологии производства,электровакуумных приборсе,1961 г., стр. 490,Тираж 1029 Поднисиое

Смотреть

Заявка

1809504, 10.07.1972

ОРГАНИЗАЦИЯ ПЯ Х-5263

ДЕРЕВЯНКО ДЖАН ЯРОСЛАВОВИЧ, ДОЛГИНЦЕВ ИГОРЬ ИЛЬИЧ, ЛЕГКОВА АДЕЛЯ АЛИАКБАРОВНА, МОСКОВСКАЯ ГАЛИНА МИХАЙЛОВНА

МПК / Метки

МПК: G01R 31/25

Метки: анодом, испытания, ламп, мощных, надежность, наружным, электронных

Опубликовано: 25.05.1976

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-515076-sposob-ispytaniya-na-nadezhnost-moshhnykh-ehlektronnykh-lamp-s-naruzhnym-anodom.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ испытания на надежность мощных электронных ламп с наружным анодом</a>

Похожие патенты