Отражательный фильтр

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Соеетских Социалистическик республик( 6 1 ) Дополнит ( 22 ) Заявлено авт. свид-в ьно 04,73 (21) 100264 И 8-10 М. Кл.- 6 028 5,26 ением заявкирисо Государственный комнте Приорите Соеета Министроо ССС по делам изобретений Опубликован(54) ОТ Изобретение относится к инфракрасной спектроскопии и может быть использовано в различных ИК-спектрофотометрах.При разработке инфракрасных спектрофотометров одной из важнейших задач является борьба с мешающей радиацией, приводящей к ошибкам в фотометрировании.В приборах с дифракционными решетками в области от 2 до 25 мк для отрезания мешающей радиации, представляющей собой высшие порядки спектра, накладывающиеся на первый рабочий, часто используют интерференционные фильтры.В связи с технологической трудностью изготовления фильтров остаточная величина фона в области отрезания превышает требуемую величин 0,1%). Это вызывает необходимость установки дополнительных фильтров в приборах, что усложняет их оптическую систему,В качестве таких дополнительных фильтров для более коротковолновой части рабочего диапазона часто используют шлифованные зеркала (матированные пластинки), а для более длинноволновой части - дифракционные ретпетки, нарезанные на алюминии и работающие в нулевом порядке спектра. Однако использование шлифованных зеркал приводит к большим потерям основного излучения при недостаточном подавлении коротковолнового фона. Применение известных дифракционныхрешеток также недостаточно эффективно:уровень остаточной коротковолновой радиации составляет- 20% от основного пзлуче 5 ния, что недопустимо,Цель изобретения - повышение эффективностии подавления фона коротковолного излучения.Это достигается тем, что в предлагаемом10 фильтре дифракционная решетка нанесена накристалл пз фторпда щелочных пли щелочпоземельных металлов, обладающий повышенной отражающей способностью в выбранномрабочем диапазоне спектора и естественной15 границей отрезания в области, близкой к началу раоочего диапазона,На фпг. 1 схематпчно с большим увеличением изображен предлагаемый фильтр; нафиг. 2 представлены условные кривые спск 20 трального коэффициента отражения для крп.сталла В а 1, (А), для предлагаемого фильтр а(Б) и шлифованного зеркала (В).Как и известные отражательные фильтры,предложенный фильтр представляет собой ди 25 фракционную решетку, нанесенную, однако,не на поверхность металла, а на кристалл, вкачестве которого могут быть использованыВаР 11 Г, СаГ и другие материалы, имеющие естественную границу отрезания корот 30 коволнового излучения, относительно малую10 5000 (2)4000 (2,5)300016001000 (10800600240 0,3 О,У 1,1 2,0 1,9 1,0 1,3 68 6,0 6,8 9,3 48,0 64,0 15 Ур Ц 11 ИИПИ Заказ 98 С,Цо ирагк 654 пис: ипОГрафня, пр. Сапунопа,ВсИчпу Фоня (не Оолсе 1,0 /о ) и ысОси 1 коэффициент отражения в рабочей области спектра.Как показано пя фпг. 2 (кривая Л), кристаллы этого типа ооладают естественной границей отрезания (которая в приведенном примере соответствует длине волны 1) прп довольно низком уровне фона в коротковолновой обласги (от мо до 1). Использование этих свойств српсталлов типа 1 11, Вй,. и т. д. озволяет резко увели пть эффективность отражательных фильтров типа дифракцпонных решеток.Как в:дно из фнг. 2, уровень фона коротковолновоо излучения предложенного сЬильтрас (кривая Б) значительно ниже, чем для фильтров тиг;а шлифованного зсркала (кривая В).Граниа отрезания ъз (см. фиг. 2) для предлагаемо:о фильтра определяется выбором числа штр:хоз Ь на 1 см. В частности, при нормальном падепи ч - 0,9, Знаение з целесообраз.о выбрать таким образом, чтобы она совпадала с началом рабочего диапазона прибора.Зффе:тпвость предложепного фильтря подтверждеа экспериментальной проверкой опытного образца, представляющего собой решетку с 750 штрихами, нарезанную пя кристалле ВаР; с общим углом сс, равым 105 (см. фпг. 1) и глом 1 з и 1 клоп;1 Одной г 1 зяни, равным 3.Результаты проверки приведены в таблице. Для сравнения указаны также соответствующие характеристики для шлифованного зеркала.Как видно из таблицы, фон в области 50000 - 000 см - , где лекит максимум излучения глобара, применяемого во всех ИК- спектрос,отометрах в качестве источника излучспия, составляет у предложенного фильтра всего 0,3%, а у шлифованного зеркала 6,05 о при примерно одинаковы.; коэффициентах от асени 1 в рябОс Об,яси спектр 1.5 Таким образом, применение предлагаемогофильтра позволяет уменьшить число элсмеп тов, пспользусхпях для подавления с 1 сна коротковолнового излучения, т. е. упростить конструкцию ИК-спектрофотометров при одноВ 1 сменном повь 1 пспип нптепсиВности Ол 10 Впого изучсппя.7 бор мул я изобретен и я Стражятегп п.11 фильтр для н 1 рак 1 зясОйос;ласти спсстра, выполненный В зпдс дпфрак ционпой решетки, отличающийся тем,по, с целью повышения эффективности подавления фона коротковолнового излучения, дифракцОная решетка нанесена на кристалл из фторидя щелочных пли щелочно-зс мельных металлов, обладающий повышеннойотражающей способностью в Выбранном рабочем диапазоне спектра и естественной границей отрезания в области, близкой к началу рабочего диапазона.