Устройство для измерения параметров интегральной схемы
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ) М. Кл. б 01 г 29/00 п исоединением зая сударственный комитет) Приоритет убликовано 3 вета Министров СС 0.06 юллетень М ДК 621.317.3(088.8) по делам изобретений и открытий(71) Заявитель онныи технологическии институтК,. Э, Циолковского 1 ) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ф 1"1 М ИНТЕГРАЛЬНО 2 ельно к из носи Изобретение от тся мерит и технике.Известно устройство для измерения параметров интегральной схемы, содержащее термобатарею, смонтированную с возможностью 5 сопряжения с интегральной схемой, подключенной к измерителю параметров интегральной схемы, датчики интервалов времени, датчики температуры, счетчик циклов и блок питания. Известное устройство позволяет про изводить измерение параметров интегральной схемы при различных значениях ее температуры. Однако процесс измерения известным устройством занимает много времени и сопряжен со значительными трудностями, 15Цель изобретения - ускорение и упрощение процесса измерения.Это достигается тем, что в предлагаемое устройство введены соединенные последовательно первый переключатель, подключенный 20 к датчикам интервалов времени, реле времени, подсоединенное к счетчику циклов, и коммутатор, включенный между блоком питания и термобатареей, а также соединенные последовательно второй переключатель, подсоеди ненный к датчикам температуры, и регулятор температуры, Кроме того, регулятор температуры связан с коммутатором.На чертеже изображен один из возможных вариантов предлагаемого устройства. 30 Устройство содержит термобатарею 1, смонтированную с возможностью сопряжения с интегральной схемон 2, подключенной к измерителю 3 параметров интегральной схемы, в состав которого может входить электронно- вычислительная машина, Термобатарея 1 подсоединена через коммутатор 4 к блоку 5 питания. Коммутатор 4 подключен к реле 6 времени, связанному со счетчиком 7 циклов и подсоединенному через первый переключатель 8 к датчикам 9 и 10 интервалов времени. Коммутатор 4 подсоединен также к регулятору 11 температуры, который через второй переключатель 12 связан с датчиками 13 и 14 температуры.Измерение параметров интегральной схемы 2 посредством предлагаемого устройства происходит следующим образом.При помощи датчиков 13 и 14 задают верхнюю и нижнюю температуры испытаний, а при помощи датчиков 9 и 10 - время выдержки при этих температурах. При достижении термобатареей 1 температуры, заданной датчиком 13 или 14, включается реле 6, и начинается отсчет времени, заданного соответственно датчиком 9 плн 10. После окончания времени выдержки коммутатор 4 производит изменение направления тока блока 5 питания на противоположное, а переключатели 8 и 12 переключают датчики 9 и 10 и датчики 13 и475567 Предмет изобретения Состави тель Ю.-К. РозенкранцРедактор Е, Караулова Техред Т. Миронова Корректор О. Тюрина Тираж 90комитета Совета Миниоретсиий и открьпийРаушская иаб, д. 415 Изд. М 155 сударствснног по делам изо Москва, Ж, аказ 2269/10ЦНИИПИ Подписров СССР ипография, пр. Сапунов 14, Описанный процесс повторяется число раз, заданное счетчиком 7 циклов.Предлагаемое устройство позволяет в значительной степени ускорить и упростить процесс измерения параметров интегральной схемы,Устройство для измерения параметров интегральной схемы, содержащее термобатгрею, смонтированную с возможностью сопряжения с интегральной схемой, подключенной к измерителю параметров интегральной схемы,датчики интервалов времени, датчики температуры, счетчик циклов и блок питания, отл и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью ускорения и упрощения процесса измерения, в него вве депы соединенные последовательно первыйпереключатель, подключенный к датчикам ингервалов времени, реле времени, подсоединенное к счетчику циклов, и коммутатор, включенный между блоком питания и термо батареей, а также соединенные последовательно второй переключатель, подсоединенный к датчикам температуры, и регулятор температуры, причем регулятор температуры подключен к коммутатору.
СмотретьЗаявка
2021461, 05.05.1974
МОСКОВСКИЙ АВИАЦИОННЫЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. К. Э. ЦИОЛКОВСКОГО
ЧЕРНЯЕВ ВЛАДИМИР НИКОЛАЕВИЧ, НАГИЕВ ВАГИФ АСКЕРОВИЧ, ОБИЧКИН ЮРИЙ ГЕННАДИЕВИЧ, СЕРГУНИН АЛЕКСАНДР ВАСИЛЬЕВИЧ, КИРПИЧЕНКОВ АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ, ШАХАТ ВИКТОР СЕРГЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 29/00
Метки: интегральной, параметров, схемы
Опубликовано: 30.06.1975
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-475567-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-parametrov-integralnojj-skhemy.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения параметров интегральной схемы</a>
Предыдущий патент: Устройство для масштабного преобразования напряжения с запоминанием коэффициента передачи
Следующий патент: Детонометр
Случайный патент: Способ получения фенольных смол