Способ измерения неровностей профиля поверхности

Номер патента: 456976

Авторы: Бельфор, Кузьмин

ZIP архив

Текст

п 11 456976 Союз Советских Социалистических Республик(32) Приорите Опубликовано Совета Министров СССРло делам изобретенийи открытий 3) УДК 531.717,861,0(088,8) 1.75, Бюллетеньта опубликования описания 04.03.75(72) Авторы изобретения А. Б и Ю, П. Кузьми 71) Заявител Ленинградский институт точной механики и оптик(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НЕРОВНОСТЕЙ ПРОФИЛ ПОВЕРХНОСТИолько ченнь Изобретение относится к области линейных измерений и может быть использовано для измерения неровностей профиля поверхности,Известен способ измерения неровностей профиля поверхности, заключающийся в том, что датчиком ощупывают поверхность на базовой длине и преобразовывают неровности ее профиля в амплитудно-модулированный сигнал, сигнал, соответствующий неровностям профиля относительно огибающей профиля, усиливают, детектируют и регистрируют,Известный способ обладает недостаточной точностью измерения неровностей профиля поверхности.С целью увеличения точности измерения по предлагаемому способу амплитуды одной полярности сигнала датчика приводят к нулевому уровню, выделяют из полученного сигнала сигнал, соответствующий огибающей профиля, и им ограничивают по амплитуде сигнал, амплитуды одной полярности которого приведены к нулевому уровню.На чертеже показана схема устройства, реализующего предлагаемый способ.Синусоидальное напряжение несущей частоты с выхода генератора 1 подают на датчик 2, которым ощупывают поверхность на базовой длине и преобразовывают неровности ее профиля в амплитудно-модулированный сигнал. Выходной сигнал датчика 2 усиливают в предварительном усилителе 3, и его амплитуды одной полярности приводят к нулевому уровню.5 Выходной сигнал усилителя 3 подают через вспомогательный детектор 4 и фильтр 5 нижних частот и непосредственно на входы ограничителя его несущей частоты.Во вспомогательном детекторе 4 из выход ного сигнала усилителя 3 выделяют сигнал,соответствующий его огибающей. В фильтре 5 нижних частот подавляют верхние частоты этого сигнала, превышающие частоты для заданной базовой длины измеряемой по верхности. Выходным сигналом фильтра низких частот, соответствующим огибающей неровностей профиля измеряемой поверхности, ограничивают по амплитуде выходной сигнал предварительного усилителя 3 в ограничите ле 6 его несущей частоты. При этом уровеньограничения не пересекает сигналы, соответствующие неровностям профиля измеряемой поверхности.В результате получают т полезный 25 сигнал, модулирующий ограни те импульсы несущей частоты.Выходной сигнал ограничителя 6 несущейчастоты усиливают в оконечном усилителе 7 и детектируют в детекторе 8. Выходной сиг нал детектора 8, соответствующий неровно456976 стям профиля измеряемой поверхности, регистрируют в выходном устройстве 9. Способ измерения неровностей профиля поверхности, заключающийся в том, что датчиком ощупывают поверхность на базовой длине и преобразуют неровности ее профиля в амплитудно-модулированный сигнал, сигнал,оставитель П. ЮровТехред Н, Куклина Корректор ЛП овоселова едак Изд.1031сударственного комитетапо делам изобретенийМосква, Ж, Раушская аказ 388/8ЦНИИПИ Тираж 782Совета Министров СССРоткрытийнаб., д. 4/5 одписное Типография, пр. Сапунова, 2 Предмет изобретения соответствующий неровностям профиля относительно огибающей профиля, усиливают, детектируют и регистрируют, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью увеличения точ ности измерения, амплитуды одной полярности сигнала датчика приводят к нулевому уровню, выделяют из полученного сигнала сигнал, соответствующий огибающей профиля, и им ограничивают по амплитуде сиг нал, амплитуды одной полярности которогоприведены к нулевому уровню.

Смотреть

Заявка

1786483, 19.05.1972

ЛЕНИНГРАДСКИЙ ИНСТИТУТ ТОЧНОЙ МЕХАНИКИ И ОПТИКИ

БЕЛЬФОР МИХАИЛ АБРАМОВИЧ, КУЗЬМИН ЮРИЙ ПЕТРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 7/34

Метки: неровностей, поверхности, профиля

Опубликовано: 15.01.1975

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-456976-sposob-izmereniya-nerovnostejj-profilya-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения неровностей профиля поверхности</a>

Похожие патенты