Измеритель толщины слоя жидких осадков
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 440629
Автор: Кожевников
Текст
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУи 440629 Сава Советских Социалистических Республик(32) Приоритет осударственнык комитет Совета Министров СССРпо делам изобретенийи открытий 3) УДК 551.508.7(088,8) Бюллетень31 Опубликовано 25.08.74. Дата опубликования оп сания 10.02.7) Заявитель Главная геофизическая обсерватор И. Воейкова 4) ИЗМЕРИТЕЛЬ ТОЛЩИЙЫ СЛОЯ ЖИДКИХ ОСАДКОВ ботает следуюПредлагаемое устрщим образом.При заполненииводой 7 сопротивл5 ячеек с электродамиПропускаемый черезтрический ток подаюременного тока, выхого пропорционально0 ний ячеек, определятия водой 7. йств емой поверхности электролитических4, 5 понижается.переменный элекход усилителя пепряжение котороению сопротивлеолщину их покрыиссл еду ение 1,2 и ячейки тнав дное на отнош ощих тредмет изобретения 20 Изобретение относится к области метеорологического приборостроения и может быть использовано для измерения коррозионной агрессивности атмосферы, например, для защиты железобетонных конструкций и радиоаппаратуры.Известные устройства, содержащие электролитические приемные элементы, не позволяют учитывать различия в электропроводности жидких осадков.Цель изобретения - компенсировать влияние электропроводности осадков на точность измерений.Это достигается тем, что электролитический приемный элемент выполнен в виде двух открытых разновысоких электролитических ячеек, закрепленных на исследуемой поверхности и подключенных к измерительной схеме для измерения отношения электросопротивлений ячеек.На чертеже приведена схема крепления электролитических ячеек на исследуемой поверхности, включающая электроды 1 и 2 основной ячейки, диэлектрические подложки 3, электроды 4 и 5 вспомогательной ячейки с диэлектрическими подложками б. Измеритель толщины слоя жидких осадков, содержащий электролитический приемный элемент и измерительную схему, отличающ и й с я тем, что, с целью компенсации влияния электропроводности осадков на точность измерений, электролитический приемный элемент выполнен в виде двух открытых разно- высоких электролитнческих ячеек, закрепленных на исследуемой поверхности и подключенных к измерительной схеме для измерения отношения электросопротивлений ячеек,Изд.188 Тираж 678ударственного комитета Совета Миниспо делам изобретений и открытийМосква, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Подписи ставитель В. Вараксин ехред А. Камышнико Типография, пр. Сапунова, 2 Корректор А. Степанов
СмотретьЗаявка
1848347, 09.11.1972
ГЛАВНАЯ ГЕОФИЗИЧЕСКАЯ ОБСЕРВАТОРИЯ ИМ. А. И. ВОЙКОВА
КОЖЕВНИКОВ БОРИС ЛЕОНИДОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01W 1/14
Метки: жидких, измеритель, осадков, слоя, толщины
Опубликовано: 25.08.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-440629-izmeritel-tolshhiny-sloya-zhidkikh-osadkov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Измеритель толщины слоя жидких осадков</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения вариаций компонент магнитного поля
Следующий патент: Электроуправляемая асферическая линза
Случайный патент: Способ закалки цилиндрическихизделий из легированных сталей ичугунов