Устройство для измерения напряженности магнитного поля

Номер патента: 428318

Авторы: Бергер, Веселова, Карелина

ZIP архив

Текст

) 428318 Союз Советских Социалистических РеспубликОП ИКАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(51) М.Кл. б 01 г 33/06 Государственный комитетСаввта Министров СССРпа делам изобретенийи открытий(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯЖЕННОСТИ МАГНИТНОГО ПОЛЯИзобретение относится к области приборостроения и предназначено, в частности, для измерения слабых магнитных полей.Известные устройства для измерения напряженности магнитного поля в виде полу проводцикового кристалла в форме параллелепипеда, на противоположной грани которого нанесены токовые и холловские электроды, позволяют измерять суммарный вектор напряженности магнитного поля и не дают возмож- то ности одновременно и раздельно измерять две взаимно цеперпецдикулярцые составляющие напряженности магнитного поля.Для расширения функциональных возможностей в предлагаемом образователе на каж дую из четырех боковых граней параллелепипеда нанесены несоприкасающиеся между собой диффузионные слои со знаком проводимости, противополоакным знаку проводимости остальной массы полупроводникового кристал ла, причем к каждому диффузионному слою подсоединены токовые и холловские электроды. На чертецте показано описываемое устрой ство, состоящее из полупроводникового кристалла 1, на боковые грани которого нанесены диффузионные слои 2. Знак проводимости последних противоположен знаку проводимости полупроводникового кристалла. 30 Пары слоев 2, лежащих на протцвополож. ных гранях кристалла 1, являются парами параллельно расположенных датчиков Холла, к которым подсоединены токовые д ц холловские 4 электроды.При измерении напряженности магнитного поля кристалл помещают в магнитное поле ц с электродов 3 каждой пары параллельно расположенных датчиков снимается сигнал э.д.с. Холла, а токовые электроды 4 соединяют так, чтобы управляющий ток проходил последовательно через диффузионные слои 2, расположенные на противоположных гранях кристалла 1. Поскольку пары слоев 2, лежащих на противоположных гранях, расположены взаимно перпендикулярно, то каждая цз пар измеряет одну из двух взаимно перпендикулярных составляющих напряженности магнитного поля. При этом на границе диффузионного слоя 2 и кристалла 1 образуется р - 1 г переход ц элек. трический ток, вошедший в слой 2, может рас. пространяться только вдоль этого слоя, це проникая в толщу кристалла 1. Прц последовательном соединении диффузионных слоев 2, расположенных на противоположных гранях кристалла 1, р - гг переходы служат цзолято. рами, исключающими возможность утечки за. рядов в толщу кристалла 1.428318 Предмет изобретения оставитель Н. Данилинлред А, Камышникова дактор С. Хейфиц орректор Е, Хмелева 1603 Тираж 678твенного комитета Совета Минелам изобретений и открытийа, Ж, Раушская наб., д, 4/5 Заказ 50 Подписнов СССР НИИПИ Госуд Мо Обл. тип. Костромского управления издательств, полиграфии и книжной торговл Устройство для измерения напряженности магнитного поля, содержащее параллельно расположенные пары датчиков Холла, выполненные из полупроводникового кристалла в виде параллелепипеда, на боковые грани которого нанесены холловские электроды, отличаюиийся тем, что, с целью расширения функцион альных возможностей преобразователя, на каждую из четырех боковых граней параллелепипеда нанесены несоприкасающиеся между собой диффузионные слои со знаком проводимости, противоположным знаку прово димости остальной массы полупроводниковогокристалла, причем к каждому диффузионному слою подсоединены токовые и холловские электроды.

Смотреть

Заявка

1840800, 26.10.1972

Л. И. Бергер, Л. Н. Веселова, Н. А. Карелина

МПК / Метки

МПК: G01R 33/07

Метки: магнитного, напряженности, поля

Опубликовано: 15.05.1974

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-428318-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-napryazhennosti-magnitnogo-polya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения напряженности магнитного поля</a>

Похожие патенты