Устройство для исследования 1адиотехнических параметров образцов при нагреве
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
1 1498 И ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских 4:оциалистицеских Республик(б 1) ЗаВисиасе от авт. свидетельства - (22) Заявлено 11.08,71 (21) 1689691/2651) М.Кл. б 01 г 27/2 с присоединение) заявки Ме осударственныи комитетСовета Министров СССРво делам изобретенийи открытии(71) Заявитель ТРОЙСТВО ИХ ПАРАМпараболический стра. ечной энергии, всслслежащий нагреву, пз-, шлейфозый осц:,ллой фидерный тракт 5, фильтров б, чувствии систему термодатчиУстройство содержитжатель 1 тепловой сол 1дуемый образец 2, подмерительную антенну 0граф 4, зысокочастотньсистему сслектизныхтельныс радиометры 7ков 8. Предмет пзо б р сте и и я скпх Изоорстсиие Относится и Области ра)диотсх - ники.Известно устрОЙстВО для исследоВания р 2- диотехнических параметров образцов при нагреве, содержащее параболический отражатель тепловой солнечной энергии, в фокусе которого разаещен исследуемый образец с системой термодатчпков.Недостатками известного устройства являются нгЗная тоность имитации электродинампческой модели образца и измерений его параметроз В процессе нагрева.С целью повышения точности имитации элсктродинамнческой модели образца и точности измерений его параметров в процесс: нагрева в предлагаемом устройстве за исследуемым образцом установлена измерительная антенна с системой селективных фильтров.Иа чертеже показано устройство для;,сс:1 сдования радиотехнических параметров об",азцов при нагреве. Я ИССЛЕДОВАНИЯРОВ ОБРАЗЦОВ ПРИ НАГРЕВЕ 11 сследозаше проводится следующим оора- ЗО)1.Отра)кате;1 ь 1 устройстВ 2 ВыстаВл 51 ется на Солнце; з процессе прогрева образца, температура которого измеряется с 1 омощью термодатч 11 коз: ре:1 стрир ется н 2 шлеЙфово 5 осциллографе 4, производится измерение коэффициента прохождения радиоволн через об;)азец, 2,по иззененио ровня проходяцен мощности ра ц 1 оизлучен:1 Я на различных частотах, рсг;стрируемых такж" на шлсйфозом осциллографе. Для этих целей з высокоча:тотный фпдерный тракт 5 на Выходе 1 змср:1- тс;1 ы 10 Й 2 нтенпы д зклю"12 стс 51 система активноо настроенных строго н; Определенные частоты селектиВНВ 1 х фил 1 трОВ б, поззол 51 ю 1 цих ответвлять высокочастотную энергио на 01 рсделенных чзстотах.Выходы ф;льтров соединены с чувств:1 тсльньгзи радиомстрами Т, позволяющими измерять уровень проходящего через образец электро)агнитного излучения Солнца, регистрируемого с их выходов на шлейфсзом осциллографе или дрго) регистраторе синхронно записью из)енен 11 я тсмпсратуры Образца. ройство для исследования радиотсхниче п 21)2)1, тров Образцов И 1)и нагреве, содср,дк 30 ба 11 зд. Лц 1100 Тпрагк бта Ц 111 И 1 Г 111 Государствгикго кокатета Сои,та Миипстров СССР по дезаи изобрсеппй п о 1 крьай Москва, )К.35, Раушскаи иаб., л. 45Г 1 одпк ио; Об,т. тпи. Костровского Гправпеиип пздатепьств, подагррии и ки иной ортов:ш жащее параболический овражатель тепловой солнечной энергии, в фокусе которого,размещен исследуемый образец с системой термодатчиков, отличающееся тем, что, с целью повы 1 пения точности имитации электродинамической модели образца и точности измерений его параметров в процессе нагрева, за исследуемым образцом установлена измерительная антенна с системой селективных фильтров.5
СмотретьЗаявка
1689691, 11.08.1971
изобретени Б. А. Пригода, В. С. Дверн ков, А. А. Пол ков, В. И. Машков, Н. Ф. Бородин, В. В. Хрулев
МПК / Метки
МПК: G01R 27/26
Метки: 1адиотехнических, исследования, нагреве, образцов, параметров
Опубликовано: 15.03.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-419811-ustrojjstvo-dlya-issledovaniya-1adiotekhnicheskikh-parametrov-obrazcov-pri-nagreve.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для исследования 1адиотехнических параметров образцов при нагреве</a>
Предыдущий патент: Контактное устройство для измерения параметров диэлектриков
Следующий патент: Радиоинтроскоп для контроля качества диэлектрических материалов
Случайный патент: Устройство для определения значений булевых функций