418748
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 418748
Текст
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУСоюз СоветсеаСоциалистицеснихРеспублик Зависимое от авт. свидетельстваМ. Кл. б 01 21/О аявлено 30.06,72 ( 1803354/18-10) с присоединением заявкиГасударственный комитетСовета й 1 нннстров СССРно делам изооретвннйв открытий иоритет УДК 531,788(088.8 Опубликовано 05.03,74. БюллетеньДата опубликования описания 20.08.74 Авторизобретени К. Горшков Заявите СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НИЗКИХ ДАВЛЕНИЙ Изобретение относится к опособам измерения низких давлений, например 10- - 10 торр.Известные способы измерения давлений в этом диапазоне не дают возможности замерять давление в любых точках вакуумной системы,Предложенный способ свободен от этого недостатка. Сущность изобретения состоит в том, что в вакуумный объем устанавливают предварительно облученцое осколками деления тяжелых ядер;плоское силикатное стекло. в момент измерения давления с помощью электронагревателя стекло отжигают,при фиксироваццой температуре, затем извлекают из вакуумного объема, травят в плавиковой кислоте и по относительному уменьшению размеров или числа кратеров, образовавшихся от осколков деления на поверхности стекла, судят о величине давления в вакуумном объеме.Отжиг проводят при температуре 300 - 350 С.Предварительное облучение детектора (плоского силикатного стекла) осуществляют,коллимированцым пучочком осколков деления (например, от твердого источника, содержащего деляющийся изотоп), падающим перпендикулярно поверхности детектора. В этом случае следы от осколков деления (кратеры) имеют круглую форму, и измерение размеров следов сводится к измерению их диаметров. Облученные детекторы помещают на электроцагреватели, которые устанавливают в тех точкахвакуумной системы, гле необходимо определить давление. После достижения соответствующего вакуума, в момент измерения давления в одной из указанных точек (или одновременно,в нескольких), проводят отжиг,детектора (или детекторов) при одной ц той жстемпературе в течение определенного интервала времени. После этого детекторы извлекают10 из вакуумцого объема и вторично облучают(но в новой зоне поверхности детектора). Далее их травят в плавиковой кислоте. С помощью микроскопа измеряют величины диаметров кратеров и определяют средине цх15 значения Р, и Р, соответствующие зонам предварительного и повторного облучения. Об относительной величине лавлецня сулят по.О,Р =, а абсолютные значения давления оп 220 ределяют по Р и градупровочной кривой зависимости Р от давления Р, которую строятдля тех же выбранных температуры ц времени отжига детектора,Если летекторы це полвергаются повторно 25 ну облучению, то травлесне цх осущес 1 вляютв строго практических условиях, а о величинедавления судят по средним значениях РьПредварительное облучение детекторов можнопроводить осколками деления, палаюццгмц30 под острыми углами к пх поверхцосеи. В 1 а418748 Составитель О. Полев Техред Е. Борисова Редактор Т. Орловская Корректор Л, Чуркина Заказ 1771/13 Изд,551 Тираж 760 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр, Сапунова, 2 ком случае о величине давления судят по измеренному числу кратеров в облученных зонах детекторов. Предмет изобретения1. Способ измерения низких давлений преимущественно в области 10 - з - 10 торр, о тл ич а ю щ и й с,я тем, что, с целью обеспсчения возможности измерения давления,в л 1 обых точечках вакуумноЙ системы, в вакуумныЙ объем устанавливают предварительно облучонное осколками деления тяжелых ядер плоское силикатное стекло, в момент измерения давления с,помощью электронагревателя стекло отжигают при фиксированной температуре, затем извлекают из вакуумного объема, травят в 5 плавиковой кислоте и по относительномууменьшению размеров или числа кратеров, образовавшихся от осколков деления на поверхности стекла, судят о величине давления в,вакуумном объеме.10 2. Способ по п. 1, отличающийся тем,что стекло отжигают при температуре 300 - 350 С.
СмотретьЗаявка
1803354, 30.06.1972
МПК / Метки
МПК: G01L 21/00
Метки: 418748
Опубликовано: 05.03.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-418748-418748.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">418748</a>
Предыдущий патент: 418747
Следующий патент: 418749
Случайный патент: Способ получения 2-оксиметилдифенил-2-карбоновойкислоты