Способ измерения толщины материалов

Номер патента: 390356

Автор: Чебышев

ZIP архив

Текст

39 И Союз СоветскийоциалистическихРеспублик ЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ И Зависимое от авт. свидетельстваМ.Кл. СО аявлено 23.Х 1.1966 ( 1114696/25-28 присоединением заявкиГосударственный комитет Совета Министров гСср па делам изобретений и открытий. Д, Чебышев ител СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩ 1 МАТЕРИАЛОВ Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано при измерении толщины материалов,Известный способ измерения толщины материалов заключается в излучении по направлению к поверхности контролируемого материала ультразвуковых колебаний, модулированных по частоте треугольными импульсами, и приеме отраженных от материала колебаний с последующим определением толщины по параметрам резонансных пиков принятого сигнала. Однако известный способ обладает недостаточной точностью вследствие нелинейности шкалы измерений.Предлагаемый способ отличается от известных тем, что производят прием колебаний, отраженных от обеих поверхностей материала отдельным преобразователем, выделяют огибающую принятого суммарного сигнала, используют ее для автоподстройки длительности треугольных импульсов до постоянства частоты их следования и по длительности импульсов судят о контролируемой толщине, что позволяет повысить точность измерений.На чертеже показано устройство, реализующее предлагаемый способ измерения толщины материалов, где 1 - электроакустический излучающий преобразователь, 2 - контролируемая труба, 8 - излученные колебания, 4 - отражение колебаний от внешней поверхности трубы, 5 - приемный преобразователь, б - преломленные в стенке колебания, 7 - отраженные от внутренней поверхности трубы колебания, 8 - принятые колебания.Способ осуществляют следующим образом.Электроакустическим преобразователем 1, 10 возбуждаемым от генератора высокочастотного напряжения (на чертеже не показано), модулированного по частоте треугольными импульсами, через жидкую среду, в которую погружено контролируемое изделие, напри мер труба 2, излучаются ультразвуковые колебания 8 по направлению к ее внешней поверхности. Часть ультразвуковых колебаний 4, отразившись от внешней поверхности, поступает на приемный преобразователь б.20 Другая часть колебаний б, проникнув в материал, отражается от противоположной стороны (колебания 7) и после выхода из материала (колебания 8) поступает на тот же приемный преобразователь 5.25 Совместное воздействие на приемник колебаний, отразившихся от обеих поверхностей изделия, вызывает модуляцию принятого сигнала, частота которой зависит от толщины материала и длительности модулирующих 30 импульсов.. Новоселов ова Изд.1764 Тираж 755 ИИПИ Государственного комитета Совета Минист по делам изобретений и открытий Москва, Ж-З 5, Раушская наб., д. 4/5каз 3 Подписно ипография, пр. Сапунова 3Для определения измеряемой толщины длительность модулирующих импульсов изменяют путем автоподстройки таким образом, чтобы частота огибающей поддерживалась постоянной.При этом полученная длительность импульсов становится прямо пропорциональной толщине, и по ее величине можно судить о контролируемой толщине материала, например, стенки трубы. Предмет изобретения Способ измерения толщины материалов,заключающийся в излучении по направлению к поверхности контролируемого материала ультразвуковых колебаний, модулированных по частоте треугольными импульсами, и приеме отраженных от материала колебаний, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, производят прием колебаний, отраженных от обеих поверхностей материала отдельным преобразователем, выделяют огибающую принятого суммарного 10 сигнала, используют ее для автоподстройкидлительности треугольных импульсов до постоянства частоты их следования и по длительности импульсов судят о контролируемой толщине.

Смотреть

Заявка

1114696

А. Д. Чебышев

МПК / Метки

МПК: G01B 17/02

Метки: толщины

Опубликовано: 01.01.1973

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-390356-sposob-izmereniya-tolshhiny-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения толщины материалов</a>

Похожие патенты