Ламповый полный излучатель

Номер патента: 277103

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Вдовин, Вугман

МПК: H01K 1/16

Метки: излучатель, ламповый, полный, эталонный

...лепестками 7, которые составляют единое целое с телом накала и служат для его соединения с токовводамп 8.Предмет из об ретен и яЭталонный ламповый полньш излучатель, состоящий пз колбы, цоколя, трубчатого тела накала, токоподводящих контактов и приваренных к ним токовводов, отличающийся тем, что, с целью улучшения воспроизводимости Изобретение относится к электротехнической промышленности и может быть использовано в спектроскопии и пирометрии, где в качестве эталона термпературы и спектрального распределения энергии излучения в видимой и инфракрасной областях оптического излучения применяется эталонный ламповый полный излучатель.Известные эталонные ламповые полные излучатели, разработанные английскими учеными К. Р. Барбер и Т....

Номер патента: 1400239

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Латыев, Тивадзе, Чеховский

МПК: G01J 5/50

Метки: излучательной, металлов, способности

...за изменением сиг 40нала, измеряем го регистрирующим устройством 6, повторяя"операцию смещения приемника. При достижении сигналом максимума прекращают повороттрубки и Фиксируют найденное положе 45ние трубки. Снова вднигают зеркало 8в канал МЧТ и измеряют уточненнуютемпературу трубки, после чего зеркало убирают. Настраивают спектроФотометр для одновременной работы подвум оптическим каналам: по одномуканалу направляют излучение "ГЧТ, подругому - излучение поверхности трубки, и измеряют с помощью регистрцругощего 11 рибора б отно 1 г 1 ениг сигналовтрубки ц излучения МЧТ, 55Прц цг реходе к другой длине волныили тггмцнрлтурР снова измРцяют пОлОжение т 1 эулки для обеспечения максима 1:ггогг сигцллл прцгмццкл, так клк 11 НГик л три сы...

Номер патента: 1026197

Опубликовано: 30.06.1983

Авторы: Вдовин, Самойлова

МПК: H01K 1/02

Метки: излучатель, ламповый, полный

...в лепестковые аморти 40заторы, присоединенные отогнутыми концами к кольцевым токойодводам, гермегич но установленным в колбе на электродах Я,Ламповый полный излучатель извест 45ной конструкции не обеспечивает равномерности температуры тела накала икомпенсации деформации тела накала принагревании.Бель изобретения - повышение изотермичностп, а также надежности излучателя еПоставленная цель достигается тем,что и ламповом полном излучателе, содержащем колбу и тело накала, выполненное в виде свернутого из фольги поло го цилиндра, переходящего на концах влепестковые амортизаторы, присоединенные отогнутыми концами к кольцевым токовводам, герметично установленным в колбе на электродах, тело накала выполненос отбортовкой по образующей...

Номер патента: 779822

Опубликовано: 15.11.1980

Авторы: Василевский, Столбов

МПК: G01J 5/50

Метки: излучательной, низких, способности, температурах

...способности ЕО)в направлении 8 ;- отражательная способность зеркала. При этомх=(ер (-,с(офпоток отраженного от образца излуче 1ния, создаваемого источником подсветки и черным телом с яркостью Ь в2телесном угле а и Х =юЬО - поток излучения, подаваемого от подсветкина приемник.ОФоновые потоки добавят к Х 1, Хпостоянную составляющую ьХ, что приведетк погрешности измерения излучательнойспособностиб 6 Ь Х6 ИВА 15Погрешность, обусловленная фоном,может быть снижена увеличением температуры подсветки, но при этом увеличивается погрешность за счет сдвига спектра излучения в коротковолновую область.Цельно изобретения является повышение точности измерения излучательной способностиОПоставленная цель достигается тем,что поверхность объекта вторично...

Номер патента: 1141845

Опубликовано: 07.04.1988

Авторы: Куприс, Сегалович, Тамонис

МПК: G01J 5/00

Метки: излучательной, поверхности, способности, твердых, тел

....измеряется интенсивность излучения излучающей среды 2, противорасположенной поверхности 1 в окрестности точки 6 поверхности, а также отраженное излучение из точки 7 поверхности. Путем изменения глубины погружениЯ ОУУдУк Ук, Ук фУу,подвижного узкоугольного радиометра 3 измеряется интенсивностьизлучения в соответствующих точкахизлучающей среды 1. В тех же точкахизмеряется температура Тизлучающей среды 2. Отдельно измеряется температура Т поверхности 1. Так кактемпература поверхности Т, значительно превышает температуру чувствительного элемента 4, то спектральнаяинтенсивность излучения 1(у 1 с), падающего на чувствительный элемент 4,определяется по формуле1141845 Ф ч1 (ус) =Т,р, 1 а(1-1 Я)ехр(-2 -с )Г(сд,аа,Трд спектральная...