Электромагнитный дефектоскоп
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
386330 Союз Соеетския Социалиотическиз РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 19.Х.1971 ( 1707353/25-28)с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 14.И.1973. Бюллетень26Дата опубликования описания 20.1 Х.1973 М. Кл, б 01 п 27/86 Комитет по ползи изобретений и открытий при Совете Миниотров СССРУДК 620,179,142(088.8) Авторыизобретения Б. А. Добнер и В, К. Жуков Научно-исследовательский институт электронной интроскопии при Томском политехническом институтеЗаявитель ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано при дефектоскопии труб, проволоки и др.Известен электромагнитный дефектоскоп, содержащий два последовательно установленных датчика, два измерительных канала, связанных с выходами датчиков, логическую схему, подключенную к выходам измерительных каналов, и индикатор дефектов, соединенный с выходом логической схемы. Для повышения помехозащиты предлагаемый дефектоскоп снабжен датчиком скорости изделия, а логическая схема содержит ячейку И и три мультивибратора, вход первого из которых соединен с датчиком скорости и с первым измерительным каналом, а его выход - со входом второго мультивибратора, выход которого соединен со входом ячейки И, вход третьего мультивибратора соединен со вторым измерительным каналом, а его выход - со входом ячейки И, выход которой подключен к индикатору. На чертеже изображена блок-схема предлагаемого электромагнитного дефектоскопа.Дефектоскоп содержит датчики 1 и 1, установленные на изделии 2 и подключенные к измерительным каналам 3 и У, Логическая схема дефектоскопа содержит мультивибраторы 4, а, б и ячейку И 7 и подключена входом к измерительным каналам, а выходом - к индикатору 8 дефектов.Датчик 9 скорости подключен через преоб разователь 10 к логической схеме.Дефектоскоп работает следующим образом.При наличии дефекта в контролируемомизделии 2 срабатывает датчик 1, что приво дит к появлению сигнала сначала в первомизмерительном канале 3, а через время(Кй= -- во втором канале Т (где т 1 - расУстояние между датчиками, Ъ - скорость дви жения контролируемого изделия). В первомканале сигнал от дефекта вызывает срабатывание ждущего мультивибратора 4, который вырабатывает прямоугольный импульс длительностью 1 а=1 ь Ждущий мультивибратор б 20 запускается задним фронтом этого импульса,и на его выходе появляется прямоугольный импульс, задержанный на время 1 ь Этот импульс поступает на один из входов ячейки И 7, на второй вход которой в это время 25 поступает импульс с выхода ждущего мультивибратора б второго измерительного канала Т. Так как импульсы во времени совпадают, то на выходе ячейки И появляется сигнал о наличии дефекта, который воздей- ЗО ствует на индикатор 8 дефектов.Составитель Л. Савенко Техред Л. Богданова Редактор Л. Василькова Корректоры: Е. Михеева и А. Васильева Заказ 2445/14 Изд.1636 Тираж 755 Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д. 4(5 Типография, пр. Сапунова, 2 Если скорость движения изделия изменяется, то это изменение фиксируется датчиком 9 скорости и после преобразования схемой 10 меняет длительность импульса мультивибратора, так, чтобы Ь=1 ьЕсли на измерительные каналы воздействуют помехи, сдвинутые на время 11 то на входе ячейки О импульсы с мультивибраторов 5 и б не совпадают, и сигнал на выходе дефектоскопа отсутствует. Электромагнитный дефектоскоп, содержащий два последовательно установленных датчика, два измерительных канала, связанных с, выходами датчиков, логическую схему, подключенную на выход измерительных каналов, и индикатор дефектов, соединенный с выходом логической схемы, отличающийся тем, 5 что, с целью повышения помехозаШиты, онснабжен датчиком скорости изделия, а логическая схема содержит ячейку И и три мультивибратора, вход первого из которых соединен с датчиком скорости и с первым из мерительным каналом, а его выход - со входом второго мультивибратора, выход которо.го соединен со входом ячейки И, вход третьего мультивибратора соединен со вторым измерительным каналом, а его выход - со 15 входом ячейки И, выход которой подключен к индикатору.
СмотретьЗаявка
1707353
Научно исследовательский институт электронной интросконии при Томском политехническом институте
витель Б. А. Добнер, В. К. Жуков
МПК / Метки
МПК: G01N 27/90
Метки: дефектоскоп, электромагнитный
Опубликовано: 01.01.1973
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-386330-ehlektromagnitnyjj-defektoskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Электромагнитный дефектоскоп</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения относительной влажности воздуха
Следующий патент: Электромагнитный дефектоскоп
Случайный патент: Сошник