Устройство для регистрации наведенной
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОПИСАНИ.Е ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Советских Социал кстмческих РеслГбликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт. свидетельства--Заявлено 15,Х 1.1971 (М 1714206/26-25) М,Кл. 6 0111/366 01( 1/202 С 01 п 23/22 с присоединением заявки-Гасударственный камитетСаввтв Мииистрав СССРса делам изааретенийи аткрытий Приор итетв Опубликовано 21.Х 1.1973. Бюллетень46Дят оп бликования описания 2 Л 11.1974 УДК 543.53 (088.8) Авторыизобретения И. М, Пронман, А. В, Андреев, Е, И. Антонов и К, В, Якшин Заявитель Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленностиУСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕГИСТРАЦИИ НАВЕДЕННОЙ АКТИВНОСТИ ОБРАЗЦОВ ПРИ МНОГОЭЛЕМЕНТНОМ АКТИВАЦИОННОМ АНАЛИЗЕИзобретсцис относитя к устройствам для проведения активяциоццого анализа.Известны устройства для измерения активности образцов путем многоэлементного активациоцного анализа, в которых используются гамма-спектрометры с защитой антисовпадеццями. Применение такого детектора позволяет уменьшить фоц в регистрируемой области энергий гамма - квантов благодаря уменьшецгио вклада камптоновского распределения от гамма - линий с большими энергиями. При э 1 ом кристалл - анализатор вместе с ооразцом располагается внутри охранного кристалла, который работает в режиме ацтисовпадеций с кристалом - анализатором, Активность ооразца измеряется только кристаллом - анализатором. Так кяк размеры последнего, как правило, невелики, то он используется для измерения активности изотопов, испускающих гамма - кванты с энергией не более 1 - 2 Мэв,Известный спектрометр с защитой антисовцадениями практически не применяется для определения таких элементов, как кислород, оор, магний, алюминий и др., анализ которых ведется по изотопам, испускающим гамма - кванты с энергией выше 3 Мэв, так как мала эффективность регистрации излучения.Целью изобретения является повышение чувствительности и точности анализа по изотоця м, поц 1 скя 1 опиГамма - кванты с эцергцеиоолсе 2 Мэ,Это достиг 1 сгся использованием гамма -сцсктромстр с защитой антисовпадениями, вкотором активноть изотопов, испускающихвысокоэцергетичные гамма - кванты, измерясгся охранным кристаллом, а при определении элементов по изотопам, испускающимгамма - кванты низких энерпш (мецее 2 Мэв),ш 1 сктрометр работает в обычном режиме.11 я чертеже показана олок-схема предлагаемого усз ройства,Устройство содержит кристалл анализатор 1, охранный кристалл 2 спектрометра, дер 1;, жятсль 3 исследуемого образца 4, одноканальные дискриминаторы 5 - 9, пересчетные приборы 11, 11, 12 и схему антисовпадений 13 и 14,Устройство работает следующим образом.Оорязец после облучения устанавливают в2 О держателе 3, которьш закрепляют на кристалле - анял 11 заторе 1. После этого кристалл -анализатор вдвигаот внутрь охранного кристалла 2. Одновременно с помощью охранного крисалла, одноканального дискриминято 25 ря 5 и пересчетного прибора 10 измеряют активность изотопа, испускающего жесткие гамма - кванты. После измерения активноп иэтого изотопа и фона в выделенной облаетэнергий гамма - квантов с помощью кристалЗО ла - анализатора, охранного кристалл 1,у372938 Составитель С. Лихтеров Гехред А. Камышиикова Корректор О. Тюрин ловскаи акгор зд Мо 8 дарственного комитетапо делам изобретений г1 осква, Ж, Раушскаи Заказ 80 Тираж /55Совета Мииистрооткрытийнаб., и. 4/5 ГодписнССС 1.1 И 110 Го и. тип. Костромского управлении издательств, полиграфии и книжной торговл одноканальных дсирииинаторов б и 7, схемы антпсовпадений 13 и пересчетного прибора 11 измеряют активность изотопа, испускающего гамма - кванты меньших энергий. Параллельно с помощью одноканальных дискриминаторов 8 и 9, схемы антисовпадений 14 и пересечетного прибора 12 может проводиться определение другого элемента.Рассмотрим режим работы гамма - спектрометра при одновременном определении кислорода (по изотопу Хв, Е 6 - 7 Мэв, 71, 7,4 сек), фтора (по изотопу Огв Е 1,37 Мэв, Т 29 сек) и кремния (по изотопу АР, Е 1,78 Мэв, Т 2,3,мин). В течение 20 сек после введения образца в детектор с помощью охранного кристалла 2, одноканального дискриминатора б и пересчетного устройства 10 измеряют активность изотопа М". Через 40 сек в течение 20 сек измеряют этим же иристаллом фон в регистрируемой области энергий гамма - квантов. Изерение актиьности изотопа Ов проводится в течение 1,5 гпан после окончания измерения кислорода с помощью одноканальных дискриминаторов б и 7, подключенных к схеме антисовпадеюй 13 и пересчетному прибору 11, В этом случае активность изотопа Ов регистрируют кристаллом - анализатором 1, а кристалл 2 используется в качестве охранного. Затем через 3 мин в течение 1,5 мин измеряется фои,Одновременно с началом измерения активности изотопа О". 7 мин измеряется активностьизотопа АР с помощью одноканальных дискриминаторов 8 и 9, схемы антисовпадений 145 и пересчетного прибора 12, Через 15 мин в течение 7 мин измеряется фон.Описанное устройство позволяет проводитьвысокочувствительное определение элементовпо изотопам, испускающим жесткие (болееО 2 Мэв) гамма - кванты (например, кислород,бор, магний, алюминий и др.), и в то же времяиспользуется для анализа элементов по изотопам, испускающим гамма - кванты с энергией менее 2 Мэв,5Предмет изобретенияУстройство для регистрации наведенной активности ооразцов при многоэлементном активационном анализе, прщставляощее собой20 сцинтплляционный спектрометр с защитойантисовпадениями, содержащий кристалл -анализатор и охранный кристалл, отличаюиийся тем, что, с целью повышения чувствительности и точности определения со 25 дерюжка ния изотопов, испускающих гамма - кванты с энергией более 2 Мэв, устройство снабжено дополнительным измерительным трактом, соединенным с охраннымкристаллом спектрометра, содержащим одноканальный дискриминатор и пересчетный прибор.
СмотретьЗаявка
1714206
Государственный научно исследовательский, проектный институт редкометаллической промышленности
витель И. Пронман, А. В. Андреев, Е. И. Антонов, К. В. Якшин
МПК / Метки
МПК: G01N 23/221, G01T 1/36
Метки: наведенной, регистрации
Опубликовано: 01.01.1973
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-372938-ustrojjstvo-dlya-registracii-navedennojj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для регистрации наведенной</a>
Предыдущий патент: Устройство для контроля сопротивления изоляции
Следующий патент: Всесоюзная nr-sthn. tfykii”r”r-бмблио: -на i
Случайный патент: Способ термической обработки изделий из алюминиевых сплавов