347567

Номер патента: 246131

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Петрашень, Хейфиц

МПК: G01L 1/02

Метки: деформируемых, напряжений, нелинейно, нормальных, упруго-пластичныхсредах

...напряжениях.По описываемому способу давление в рабочем теле компенсатора поддерживают таким чтобы сохранить контролируемые первоначальные характеристики формы гибкой передающей площадки например, отсутствие кривизны или прогиба. Сохранение плоской формы передающей площадки независимо от ее общего перемещения исключает искажение линейного, однородного напряженного состояния в зоне компенсатора и, таким образом, повышает точность измерения.Действительно, при линейном однородном напряженном состоянии любой однороднойисследуемой среды первоначально плоские сечения, независимо от последующих деформацнй, остаются плоскими. Таким образом,искривления какого-либо сечения среды, в том числе и на границе с компенсатором, сигнализируют об...

Номер патента: 1497446

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Карташов, Мазур-Джуриловский, Малык

МПК: G01B 5/30

Метки: датчик, деформаций, образца, сжатия, упругих

...пропорциональности материалаобразца 8, Датчик закрепляют с помощью скоб Э и 4 на образце. При сжатии в упругой области дополнительныйупругий элемент 5 работает на изгиб,вследствие чего его влияние на женавок на дополнительном упругом элементе 5. Радиус кривизны дополнительного упругого элемента 5 выполнен равным радиусу кривизны упругойЬалки 1 при измерении деформации,соответствующей пределу пропорцио-.нальности материала образца. Для выполнения этого условия датчик изготавливают, например, следующим образом.Нагружают упругую балку 1 с тензорезистором 2 до получения продольнойдеформации концов упругой балки 1,соответствующей пределу пропорциональности материала образца, контролируют радиус кривизны, и на...

Номер патента: 1727030

Опубликовано: 15.04.1992

Авторы: Драпкин, Кононенко

МПК: G01N 3/32

Метки: зависимости, заполнителя, модуля, образца, собственной, составного, упругости, частоты

...вызванном изменением температуры материала заполнителя, и повышение точности путем обеспечения возможности расширения диапазона изменения модуля упругости заполнителя.Применение данного способа позволит повысить точность определения модуля упругости материалов при высоких температурах по сравнению с прототипом на 20-306Поставленная цель достигается тем, что тарировку зависимости модуля заполнителя от частоты колебаний составного образца проводят при комнатной температуре, определяя собственные частоты двух составных образцов, представляющих собой каждый оболочку с заполнителем, один из которых выполнен из исследуемого материала, в качестве второго составного образца используют образец, материал заполнителя которого имеет модуль...

Номер патента: 1104380

Опубликовано: 23.07.1984

Авторы: Блохин, Денисов, Клименко, Коцюба

МПК: G01N 3/18

Метки: возникающих, исследования, литье, напряжений, образец, остаточных

...многоугольника и стяжку, согласно изобретению, снабжен дополнительными стяжками, наружный контур имеет форму правильного многоугольника, а стяжки одним концом соединены с вершинами, другим - с геометрическим центром многоугольника, причем наружный контур и стяжки имеют в поперечном сечении форму круга большего и меньшего диаметров соответственно.На чертеже изображен вариант образца, выполненного в виде равностороннего (правильного) треугольника.На образце показаны сечения наружного контура 1 и стяжек 2.Образец отливают в форме. Для определения остаточных напряжений образец необходимо разгрузить, разрезав либо сторону его наружного контура, либо стяжку, При этом образец деформируется, величина относительной деформации измеряется,...

Номер патента: 1408354

Опубликовано: 07.07.1988

Авторы: Атаходжаев, Ахмеджанов, Ахмеджанова, Леманов

МПК: G01N 29/00

Метки: волн, затухания, коэффициента, материалах, упругих

...и прошедшие через него, о т л и ч а - ю ш и й с я тем, что, с целью повышения точности измерения, зондируют в одной выбранной точке каждого эталонного образца упругие волны световыми пучками, измеряют интенсивности 35света 1 т, 1, и 1 г, дифрагированного соответственно на падающей, отраженной и прошедшей упругих волнах, измеряют временаи С распространения упругой волны от точек зондирования до образца, а коэффициент затухания Ы определяют по Формуле 1 (1 1 т ) - О(1 ( т+1 о45 де о( т- коэффициент затухания упругой волны в эталонных образцах. о р м у л а изобретения Способ измерения коэффициента затухания упругих волн в материалах, заключающийся в том, что образец из исследуемого материала помешают между двумя эталонными образцами,...