Способ определения азимута искривления скважины и величины проекции этого искривления на дневную поверхность

Номер патента: 34473

Автор: Урысон

ZIP архив

Текст

АВТОРСНОЕ СВИДЕТЕЛЬСТВО НА ИЗОБРЕТЕНИЕ ОПИСННИЕ способа определения азимута искривления скважины и величины проекции этого искривления на дневную поверхность.К авторскому свидетельству В. О. Урысона, заявленному 5 января 1933 года (спр. о перв.121605). О выдаче авторского свидетельства опубликовано 38 февраля 1934 года.(12) Предлагаемый способ определения ази. мута искривления скважины и ее проекции на дневную поверхность является геофизическим методом измерения, при котором внешние электроды четырех- электродной установки помещаются на равных расстояниях от устья скважины, а внутренние: один - у устья скважины, а другой - в забое.На чертеже фиг,1 и 2 поясняют сущность предлагаемого способа.Пусть А и В (фиг. 1) будут две точки, находящиеся под разностью потенциалов. Эти две точки дадут начало семейству эквипотенциальных поверхностей. Эквипотенциальная поверхность РК прохо. дящая через середину отрезка АВ, представит собой вертикальную плоскость, перпендикулярную к нему,На фиг. 2 изображены дневная поверхность Я и скважина МР, Расположим четырехэлектродную установку, приме. няемую в методе постоянного тока, таким образом, чтобы АМ=МВ, электрод М находился бы у устья скважины, а электрод М - в той точке скважины, положение которой требуется определить. Тогда между электродами М и И возникнет разность потенциалов.ЬУ -- Ргде 1-сила тока в цепи АВ, р-среднее сопротивление земли, Й, и Я, - соответственно расстояния АМ и МВ.Означенная разность потенциалов обратится в нуль, когда вертикальная плоскость, проходящая через МИ, будет перпендикулярна к АВ. Таким образом, определение азимута МХ сводится к наблюдению ЬУ при различных ориентировках АВ и отысканию такого направления АВ, при котором ЬУ равно нулю.Если после того, как это направление найдено, повернуть АВ на 90, то ЬУ примет максимальное значение. Остается теперь передвигать электроды А, М, В вдоль линии Ад, оставляя расстояния АМ и МВ постоянными. В тот момент, когда Ъ вновь обратится в нуль, электрод М будет совпадать с проекцией М на дневную поверхность А М В (фиг. 2),Все измерения являются нулевыми, что наиболее выгодно с точки зрения точности наблюдений.Вышеизложенное справедливо для случая горизонтальных напластований. Если имеет место наклонное залегание слоев, закон распределения эквипотенциальных поверхностей усложняется; однако, измерения двух положений системы электродов АМ%В, в которых Ь У = О, остаются прежними.ксперт В, Б, Комаров едактор ЮР. Герман Предмет изобретения.1. Способ определения азимута искривления скважин и величины проекции этого искривления на дневную поверхность, отличающийся тем, что для измерения азимута искривления скважины берут четырехэлектродную установку, причем один из внутренних ее электродов Л помещают в устье скважины, другой - в забсе, а два внешних электрода А и В располагают на равном расстоянии от электрода М и на одной с ним линии и поворачивают их около точки Я, пока разность потенциалов электродов не будет равняться нулю, а для измерения величины проекции искривления на дневную поверхность все три электрода А, М, В передвигают в пло. скости, перпендикулярной к найденной плоскости искривления скважины, не изменяя расстояния между электродами, до тех пор, пока разность потенциалов в цепи АВ не будет равна нулю. ипроипечатьсоез. Тип. Печ. Трудф, Зак. 3427 -

Смотреть

Заявка

121605, 05.01.1933

Урысон В. О

МПК / Метки

МПК: G01B 7/30

Метки: азимута, величины, дневную, искривления, поверхность, проекции, скважины, этого

Опубликовано: 28.02.1934

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-34473-sposob-opredeleniya-azimuta-iskrivleniya-skvazhiny-i-velichiny-proekcii-ehtogo-iskrivleniya-na-dnevnuyu-poverkhnost.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения азимута искривления скважины и величины проекции этого искривления на дневную поверхность</a>

Похожие патенты