Устройство для измерения неэлектрических величин
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 324523
Авторы: Кривоносов, Кривоносоз, Ксенофонтов, Папков, Райнов, Суровипов
Текст
СоЮа СоветскихСсциалистииескик 45 Респуол АВТОР СКОМУ ЕТЕЛЬСТВ МПК 6 01 1/1/25-28 Комитет по делам изобретений и отирыти ври Совете Министров СССР1 летснь Ло 2 з 19 УДК 531,781 (088.8 29.1 .19 Авторыизобретен явитель УСТРОЙС ЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ дмет пя 15 кенное устроиЯ О П И ЗОБРЕ Зависимое от авт. свидетельст аявлено 27 1/.1970 ( 14318 с присоединением заявкиПриоритет -бликовано 23.Х 11.1971. Б а опубликования описани С. Папков, М. В, Суровипов, Ю М. Е, Ксенофонтов иИзобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для измерения неэлектрических величин, например давления.Известны у 1 стройства для измерения неэлектричеоюих величин, например дааления, содержащие корпус, шток и пружину с тензорезисторами.Однако такие устрдостаточно точные ительные габариты.С целью повышения точности и уменьшения габаритов в предложенном устройстве пружина вылолнена в виде плоского диска, с наружной и внутренней 1/-образньеми,прорезями, образующими три балки равного сопротивления на которые нанесены полупроводниковые тен зорезисторы,На чертеке показано предло оиства осуществляют незмерения и имеют значи Устройство содержит корпус 1, оильфон 2, шток 3 и пружину, выполненную в виде плоского диска 4, например из сапфира, с наруж. Раииов, А, И. КривоносоИ. Кривоносов ЕЭЛЕКТРИЧГСКИХ ВЕЛИЧИН ной и внутренней Ъ-образными прорезями о, образующими три балки Б, В и Г равного сопротивления, на которых нанесены, например, с помощью процессов гетероэпитаксиального наращивания,и фотолитографии, полупроводниковые тензорезисторы б.Работает устройство следующим ооразом.При изменении, например, давления в контролируемой среде. изменяется деформация сильфона, и через шток происходит деформация диска, вследствие чего изменяются параметры тензорезисторов. Устройство для измерения неэлектрическнх величин, например, давления, содержащее корпус, шток и пружину с тензорезисторами, отличаюа 1 ееся тем, что, с целью повышевия точности и уменышения габаритов, пружина,выполнена в виде плоского диска, с наружной и внутренней Ч-образными прорезями, образующими три балки равного сопротивления, на которые нанесены полупроводниковые тензорезисторы.бс 1 астная 1 ППОГраф 1151 КостровсНОГ 5 1 япр 1 всопия по псчап 1 к аз 345 Изт Ль 1851551111 ИИГИ Комитста по лслав 1 изобрсГний лМосква, Ж, Раушск Т ра 5 к 4 1 Ь ГТОдпис ш;крытнй при Совстс МнпнсГрда СССР я наб.1, 4/5
СмотретьЗаявка
1431893
В. С. Папков, М. В. Суровипов, Ю. А. Райнов, А. И. Кривоносов, М. Е. Ксенофонтов, И. И. Кривоносоз
МПК / Метки
МПК: G01L 1/18
Метки: величин, неэлектрических
Опубликовано: 01.01.1972
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-324523-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-neehlektricheskikh-velichin.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения неэлектрических величин</a>
Предыдущий патент: Магнитоупруг ии силоиз, неритель
Следующий патент: Полупроводниковый преобразователь механических величин
Случайный патент: Электромагнитный толщинометр