Способ радиометрической дефектоскопии

Номер патента: 323724

Авторы: Мтешо, Серебренников, Сулькин

ZIP архив

Текст

О Г 3 И С А Н И Е 323724ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Соеетских Социалистических РеспубликАВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ а -ависимое от авт, свидетель 01 п 23/18 аявлено 24,71.1968 ( 1251470/25 соединением заявкикомитет по деламобретений и открытийри Сосете тпинистрсеСССР орите публиковано 10.Х 1,1971. Б та опубликования описан16.П.19 Авторыизобретения Сулькин и И. Я, Серебренников Заявитель СПОСО РИЧ ЕСКО ТО И ИИ етектор излучения, э -руемое изделие, 4 -коллиматор детектор Последовательно ющих способ, следу 5 кающего излучения Коллиматор 2 исто дающий под углом лируемого изделия. изделие, поток цз. О коллиыатора детектсть приемов, осуществляощая: источник 1 прони- генерирует поток энергии. чника формирует луч, па- О на поверхность коцтроПройдя контролируемое чучеция через отверстие ора 5 падает на детектор. Изобретение относится к области церазру шающего контроля, точнее, к той ее части которая использует проникающие излучения Известные способы заключаются в том, что контролируемое изделие просвечивают с помощью источника излучения и регистрируют с помощью жестко соединенного с источником детектора прошедшее через контролируемое изделие излучение.Недостатком известных способов является их недостаточная избирательность при определении места дефекта.Предлагаемый способ отличается от известных тем, что, с целью повышения избирательности при определении места дефекта, источник и,детектор располагают так, чтобы соедицяющая их линия была наклонена под углом, меньшим 90 градусов, к плоскости контролируемого изделия, а контролируемому изделию или системе источник - детектор сообщают вращательное движение вокруг оси, це совпадающей с линией, соединяющей источник и детектор, и проходящей через исследуемую точку контролируемого изделия. На чертеже показан один из возможных вариантов реализации предлагаемого способа, где 1 - источник проникающего излучения, 2 - коллиматор источника, 3 - контролиИзделию в процессе контроля сообщаютвращательное движение вокруг оси а - а, Эффект повышения избирательности при опрс делении места дефекта достигается за счеттого, что время облучения точек, расположенных ца разной глубине вдоль луча, будет зависеть от их окружной скорости, Регистрация интенсивности прошедшего излучения, а 20 с ним и выявляемость дефектов будет определяться временем облучения и постоянной времени интегратора схемы регистрации (не показана на чертеже). Изменение зоны выявляемости осуществляют перемещением изделия или системы источник - детектор вдоль оси а-а, изменением скорости счета постоянной времени интегратора схемы регистрации и скорости относительного вращения системы источник-детектор и коцтролируемого изде лпя.323724 Предмет изобретения егистрации Составитель В Мазина Текред Л. Богданова Корректор С. Сатагулова Редактор Л, Дьяконова Заказ 585/12 Изд.1813 Тираж 448 Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Тип. Харьк, фил, пред. Патент Способ радиометрической дефектоскопии, заключающийся в том, что контролируемое изделие просвечивают с помощью источника излучения и регистрируют с помощью жестко соединенного с источником детектора прошедшее через контролируемое изделие излучение, отличающийся тем, что, с целью повышения избирательности при определении места дефекта, систему источник-детектор располагают так, чтобы соединяющая их линия была наклонена под углом, меньшим 90 градусов,1 к плоскости контролируемого изделия, а конт ролируемому изделию или системе источникдетектор сообщают вращательное движение вокруг оси, не совпадающей с линией, соединяющей источник и детектор, и проходящей через исследуемую точку контролируемого 10 изделия.

Смотреть

Заявка

1251470

А. Г. Сулькин, И. Я. Серебренников, мтЕШО ТЕх А

МПК / Метки

МПК: G01N 23/18

Метки: дефектоскопии, радиометрической

Опубликовано: 01.01.1972

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-323724-sposob-radiometricheskojj-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ радиометрической дефектоскопии</a>

Похожие патенты