Способ исследования электрического поля
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 319905
Автор: Павлов
Текст
БРЕ ВИДЕТЕЛЬСТВУ СКОМУ К Зависимое от авт. свидетельстваПК 6 0 г 19/10 378348/26 аявлепо 24.Х 1,1969 (с присоединением заяв Приоритет Комитет ло зобретеиий иания 28.1.197 Дата ликовани Авторизобретени С, И явите ПОСОБ ИСС АНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКО 10 15 фиг.1 и 2 п ющего пучка дирующий чметричным граниченную радиуса. Пр потенциал трии, х -- 1 г дируЗоосесила,стьюг) радиальна расстояни до экрана напряжен го п чка. координата, от оси симмет поля оо скорения зонди ющечмм Изобретение относится к бесконтактным способам измерения полей и потенциала.Известный способ исследования электрического поля, основанный на измерении отклонения зондирующего электронного пучка исследуемым полем обладает недостаточной точностью и применим для изучения одномерных полей.Предлагаемый способ отличается от известного тем, что зондирующий электронный пучок пропускают в плоскости, перпендикулярной оси симметрии исследуемого поля, на разных расстояниях от указанной оси, и для каждого положения пучка измеряют величину осевого отклонения пучка, по которой определяют величину осевой составляющей напряженности электрического поля, и величину радиального отклонения пучка, по которой определяют радиальное распределение потенциала. Это значительно повысит точность измерений, особенно в полях с осевой симметрией. оказано взаимодействие зонс исследуемым полем.пучок пересекает область сраспределением потенциацилиндрической поверхнои (Я - о=о(г, г), при постоянный. Пусть г - ось начальное направление пучка, Под влиянием нормальных к траекторий пучка составляющих электрического поля, пучок отклоняется в двух направлениях - осевом Лг и радиальном Лу. Зондирование производится в плоскости, перпендикулярной оси симметрии исследуемого поля на разных расстояниях у от оси симметрии. Для каждого расстояния у измеряют отклонения Лу и Лг зондирующего пучка от первоначального направления. Расстояние у нужно изменять от 0 до Р, количество значений у определяет точность измерения и зависит от характера изменения потенциала о(г) и градиента е(г). Достаточно хорошие результаты получаются уже при 10 - 20 значениях у. По измеренным значениям Лу вычисляют о(г) по выведенной расчетной формуле=1 ", 1;,",.по измеренным значениям Лг вычисляюуравнению3199082 Редактор Е. Гончар Составитель Л, Байдакова Корректор Е, Михеева Заказ 3939/2 Изд.1729 Тираж 473 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 Для фиксации положений у зондирующего пучка 1 перед исследуемым полем 2 помещают решетку 3 из материала, непрозрачного для пучка. В решетке на известном расстоянии имеются отверстия 4 для прохождения пучка. Зондирующий пучок, который может иметь форму плоской ленты или форму узкого луча, отклоняемого в плоскости зондирования, проходит в отверстия решетки и пересекает поле па фиксированных расстояниях У - О У 1 УзНа экране б, отстоящем от поля на расстоянии Л, образуется изображение в виде ряда точек, Для различения точек отверстия решетки могут иметь разную ширину или помещаться на различном расстоянии одно от другого.Для каждой точки измеряют смещения Лу и Лг. Это можно сделать, например, фотографируя изображение точек на люминесцентном экране дважды на один негатив, первый раз - при отсутствии напряжений в исследуемом поле, второй раз - в рабочем режиме с напряжением. Можно нанести на экран координатную сетку и по ней совмещать изображения. В качестве экрана можно примейять слой с длительным сохранением изображения, например слой галоидных солей с темповой записью под действием пучка электронов.5 В этом случае расстояния Лу и Лг можно измерить непосредственно на экране при помоши микроскопа с масштабной сеткой. Предмет изобретения10 Способ исследования электрического поля,основанный на измерении отклонения зондирующего электронного пучка исследуемым полем, отличагощийся тем, что, с целью повышения точности, зондирующий электронный15 пучок пропускают в плоскости, перпендикулярной оси симметрии исследуемого поля, наразных расстояниях от указанной оси, и длякаждого положения пучка измеряют величину осевого отклонения пучка, по которой оп20 ределяют величину осевой составляющей на.пряженности электрического поля, и величину радиального отклонения пучка, по которойопределяют радиальное распределение потен.циала,
СмотретьЗаявка
1378348
С. И. Павлов
МПК / Метки
МПК: G01R 33/10
Метки: исследования, поля, электрического
Опубликовано: 01.01.1971
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-319905-sposob-issledovaniya-ehlektricheskogo-polya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ исследования электрического поля</a>
Предыдущий патент: Компенсатор для измерения напряжений
Следующий патент: Частотомер свч-диапазона
Случайный патент: Буферное запоминающее устройство