Устройство для измерения пробивных напряжений полупроводниковых приборов

Номер патента: 307360

Автор: Рыскин

ZIP архив

Текст

Союэ Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. св етельстваМПК б 01 г 31 явлено 20.Х.1969 ( 1368639/26-25) с присоединением зая иКомитет по дел иорите иэобретений и открытийпри Совете Министров К 621,382.2/.3: :531.782(088.8) Опубликовано 21.71. Дата опубликования 71. Бюллетень20писания 8.1 Х.1971 Авторзобретен Е. 3. Рыс аявите УСТРОЙСТВ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПРОБИВНЪХ НАПРЯЖЕНИОЛУПРОВОДНИКОВЪХ ПРИБОРОВ ждущего генератора 8 гося напряжения, порог нератора 5 счетных имп б, счетчика 7 импульсо проводникового прибора противления 9,ано для в при их ельских чинеинового устрольсов, схеиспытуе8 и токос зменяющейства 4, гемы запрета мого полуъемного сотора триИзобретение может быть использовконтроля полупроводниковых приборопроизводстве, а также для исследоват целей.Известны устройства для измерения пробивных напряжений полупроводниковых приборов, в которых измерение производится как на постоянном токе, так и при помощи измерительных импульсов, следующих с частотой, зависящей от типа измеряемого прибора, что затрудняет создание универсального устройства. Кроме того, в процессе измерения испытуемый р-и переход многократно пробивается, что вносит погрешность в измерение.Целью изобретения является автоматизация процесса измерения, повышение точности измерения и расширение сферы применения устройства. Это достигается введением в устройство генератора пускового импульса, запускающего генератор линейно изменяющегося напряжения и триггер управления схемой запрета поступления счетных импульсов, период следования которых пропорционален приращению амплитуды линейно изменяющегося напряжения с генератора счетных импульсов в счетчик.На чертеже показана принципиальная схема предлагаемого устройства.Устройство состоит из генера 1 пускового импульса, управляющего ггера 2,Устройство работает следующим образом.По сигналу Пуск генератор 1 пусковым О импульсом вызывает процесс линейного изменения напряжения на испытуемом приборе и одновременно устанавливает триггер 2 в положение, при котором с входа схемы запрета б снимается напряжение, и счетные импульсы 5 с генератора 5 начинают поступать в счетчик 7.По достижении линейно изменяющимся напряжением величины пробивного напряжения для испытуемого полупроводникового прибора 20 8 резко возрастает ток р-и перехода и, следовательно, падение напряжения на токосъемном сопротивлении 9. Когда величина этого напряжения становится равной уровню срабатывания порогового устройства 4, импульс 25 с его выхода прекращает процесс линейногоизменения напряжения генератора 3 и устанавливает триггер 2 в исходное состояние.Триггер 2 закрывает схему запрета б, и импульсы не поступают в счетчик 7. Для сбра- зО сывания показания счетчика 7 подается сиг307360 Предмет изобретения Сброс Составитель Н, Н, ШляковаТскред Л. Л. Евдонов Корректор Л. А. Царькова Редактор Н. Л, Кориенко Заказ 2329/17 Изд. М 977 Тираж 473 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская пао., д. 4,5 Типография, пр. Сапунова, 2 14 ал Сброс, что подготавливает устройство к следующему измерению,Описываемое устройство позволяет производить измерение пробивного напряжения полупроводникового прибора в течение одного цикла подачи линейно изменяющегося напряжения, чем увеличивает точность измерения и автоматизирует процесс измерения. 1. Устройство для измерения пробивныхнапряжений полупроводниковых приборов, содержащее пороговое устройство и токосъемное сопротивление в цепи испытуемого полупроводникового прибора, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения 5 и расширения сферы применения, оно содергкит генератор пускового импульса, запускающий генератор линейно изменяющегося напряжения и триггер управления схемой запрета поступления импульсов от генератора счетных 10 импульсов в счетчик.2. Устройство по п. 1, отличающееся тем,что канал счета импульсов и канал подачи напряжения на испытуемый полупроводниковый прибор электрически независимы.

Смотреть

Заявка

1368639

Е. Рыскин

МПК / Метки

МПК: H01L 21/66

Метки: напряжений, полупроводниковых, приборов, пробивных

Опубликовано: 01.01.1971

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-307360-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-probivnykh-napryazhenijj-poluprovodnikovykh-priborov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения пробивных напряжений полупроводниковых приборов</a>

Похожие патенты