Способ фоторегистрации следов заряженных частиц

Номер патента: 1500957

Опубликовано: 15.08.1989

Авторы: Каминский, Козубский, Лукстиньш

МПК: G01T 5/12, H01J 47/14

Метки: заряженных, камере, регистрации, следов, стримерной, частиц

...смеси и интенсивность лазерного излучения можно повыыать без опасения потерять информацию вследствие слияния следов 24 соседних вторичных частиц.1 Подача энергии лазерного излучения в заданные зоны 23 облучения газонаполненной оболочки 22 с мйшенью 15 обеспечивается через окно 19 для ввоГа потока лазерного излучения в газонаполненном корпусе 1 стримерной камеры из вещества, прозрачного для лазерного излучения. Блок 17 фокусировки лазерного излучения и Фильтр- поглотитель 18 лазерного излучения, разделяющие поток на группу подпотоков, располагаются вне газонаполнен 0957 6 ного корпуса стримерной камеры, чтообеспечивает существенные удобствав регулировке И настройке аппаратуры.Выбор длины волны излучения лазерав инфракрасном или...

Номер патента: 1583899

Опубликовано: 07.08.1990

Авторы: Бенца, Кишваради, Мольнар, Сороко

МПК: G01T 5/10

Метки: поиска, следов, частиц

...т.е. почтив 70 раз.Устройство для поиска следов частиц преимущественно в ядерной фотоэмульсии содержит систему формирова"ния сходящегося пучка света, системупоступательно-вращательного перемещения и контроля положения ядерной фотоэмупьсии, мезооптическое зеркалос образующей в виде дуги эллипса,оптический интерфейс, содержащийплоское зеркало и зеркальную призму,фотоприемник на основе матрицы прибора с зарядовой связью, блок записиданных, При этом второй фокус эллипса, дуга которого является образующей мезооптического зеркала, расположен так, что расстояние по лучусвета от второго фокуса указанногоэллипса до мезооптического зеркала1 в М раз больше расстояния по лучусвета от первого фокуса указанногоэллипса до мезооптического зеркала 1 ,...

Номер патента: 1830500

Опубликовано: 30.07.1993

Автор: Сороко

МПК: G01T 5/10

Метки: обмера, следов, частиц

...из условия: Льтгпахп 2 - 1 2-- М,где ЛЬ - глубина аксиально сканируемогоучастка слоя ядерной Фотоэмульсии настадии прецизионного сканированиявдо оси г,М - линейное увеличение обьективов,М= И):11 - расстояние от обьектива до точкифокуса;1 - расстояние от точечного источникасвета (или точечного фотоприемника) до освещающего (или изображающего) обьекти-.ва;п 1 - показатель преломления света вядерной фотоэмульсии;п 2показатель преломления света воптическом диске, число ступенек 1 ч на каждой дорожке оптического диска выбрано изусловия: 5 10 15 20 25 30 35 40 50 55 где Л Л - аксиальное разрешение конфокальной системы из двух обьективов,Описываемое устройство с прецизионным сканированием работает следующим образом (фиг,2),Лучи света из...

Номер патента: 150844

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Громов, Мицевичус, Сухий

МПК: G03G 15/08

Метки: изображения, проявления, скрытого, электростатического

...полупроводниковым слоем и несущий,на себе скрытое электростатическое изображение цилиндр 4. Для улучшения условий проявления полутоновых изображений служит контрэлектрод б. После проявления состав 2 попадает в желоб б, направляющий проявитель в зону 7, где происходит непрерывное обогащение состава красителем 8, Из бункера 9 краситель поступает под валик 10 пропитки, покрытый пленкой диэлектрика и медленно вращающийся против потока проявителя.Поток проявляющего состава за счет кинетической энергии отрывает и уносит с собой частицы красителя. Обогащенный таким образом проявляющий состав поступает на транспортирующее устройство, выполненное в виде ротора 11, снабженного ячейками, с помощью которых этот состав, одновременно...

Номер патента: 274155

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Ленинградский, Медведев

МПК: H04N 1/29

Метки: изображений, скрытый, считывания, электростатических

...проводящий электрод (антенна, прозрачный проводящий электрод, колеблющийся электрод), расположенный вблизи слоя, Это не обеспечивает высокой разрешающей способности и надежности процесса считывания. Существуют и другие способы считывания скрытых электростатических изображений, например электронный и фотоэлектрический, не используемые в технике из-за сложности процесса считывания и громоздкости оборудования.Так как нормально составляющая напряженности электростатического поля действует на очень малом расстоянии, то самое надежное считывание может быть тогда, когда считывающий элемент имеет непосредственный контакт с фотополупроводниковым слоем, Но при сохранении постоянного контакта надо обеспечить сохранность слоя, т. е. считывающий...