261879

Номер патента: 1744427

Опубликовано: 30.06.1992

Автор: Гузь

МПК: G01B 5/24

Метки: базового, оси, относительно, перпендикулярности, прибор, торца

...5 - дополнительнымизмерителем 11,Упомянутые измерители снабжены наконечниками 12 и 13 соответственно. Осиупора 6 и измерителя 10 с наконечником 12расположены в плоскости 9, перпендикулярной базовой поверхности 15. Оси упора7 и измерителя 11 с наконечником 13 расположены в плоскости 8, перпендикулярнойбазовой поверхности 15 и плоскости 9. Осиупоров 6 и 7 и измерителей 10 и 11 с наконечниками 12 и 13 лежат в плоскостях, параллельных базовой поверхности 15.Угловое отклонение стрелки измерителя 11 равноас а ( Ь 2)=, - Ь 2,А 5 где ае - диапазон показаний измерителя 11: А- диапазон измерений измерителя 11;Ь 2 - отклонение контролируемой оси14 от перпендикулярности к базовому торцу 10 в плоскости измерителя 11 (фиг. 3).При этом максимально...

Номер патента: 1427161

Опубликовано: 30.09.1988

Авторы: Иванько, Коптелов

МПК: G01B 5/245

Метки: детали, оси, отклонения, относительно, перпендикулярности, поверхностей

...5 и 6, расположенными вбиссекторной плоскости призмы 1 перпендикулярно ее основанию. В призме1 на оси 7 шарнирно установлен рычаг8 с возможностью поворота в биссекторной плоскости призмы 1, На зтойже оси 7 симметрично рычагу 8 шарнирно установлен рычаг 9, который также имеет возможность поворота в биссекторной плоскости призмы 1. Одниплечи рычагов 8 и 9 контактируют сизмерительными стержнями 5 и 6, а 30другие - с проверяемыми поверхностями(не показаны).На концах плечей рычагов 8 и 9,предназначенных для контактированияс проверяемыми поверхностями, выполнены по две контактные площадки 10(фиг,2), расположенные в биссекторной плоскости призмы 1. Рычаг подпружинен и имеет возможность перемещенияв биссекторной плоскости призмы 1....

Номер патента: 1589059

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Заболотский, Подобрянский, Путилин, Хлебников

МПК: G01B 21/22

Метки: базовых, излучателя, оптического, оси, основания, относительно, поверхностей, узла, юстировки

...диафрагму 11, координатно-чувствительной фотоприемник 12, блок 13 обработки, вход кото рого подключен к координатно-чувствительному фотоприемнику 12, индикатор 14, вход которого подключен к выходам фотоприемного блока и блока 13 обработки.30Устройство работает следующим сбразом.На основание устанавливают платформу 4 с,закрепленными на ней диаф. - рагмой 5, зеркалом 8, ирисовой диафрагмой 9, фотоприемником 10, диафрагмой 11, координатно-чувствительным фотоприемником 12, блоком 13 обработки и индикатором 14, а на подставку 2 устанавливают оптический узел 3 в40 виде линз, призм, зеркал: с излучателем. Пучок лучей от излучателя направляют через диафрагму 5 на фотоприемный блок 10, от которого сигнал поступает на индикатор 14, который45...

Номер патента: 1826342

Опубликовано: 20.04.1996

Авторы: Волков, Глазов, Магнитов

МПК: B23K 15/00

Метки: луча, наклона, образца, оптимального, оси, поверхности, сварке, угла, электронно-лучевой

...импульсным включением движения пушки 3 по полярной координате при постоянной скорости перемещения пушки 3 по линейной координате. Траектория перемещения точки "О." проходит в этом случае по оси симметрии образца.Методика определения оптимального угла наклона оси луча к поверхности образца представлена на фиг.1, где ан - начальный угол наклона оси пушки (луча); а - конечный угол наклона оси пушки (луча);Ла =а -ан - диапазон изменения углов наклона луча; а ач.1 - угол наклона оси пушки (луча) в начале участка с качественным формированием шва; а ач.г - угол наклона оси пушки (Луча) в конце участка с качественным формированием шва;Лаач -- а.ч,г -акач,1 диапазон изменения углов наклона оси пушки (луча) на участке с качественным формированием...

Номер патента: 1404793

Опубликовано: 23.06.1988

Авторы: Дежичев, Рябушкин, Шергин

МПК: G01B 5/245

Метки: детали, оси, отверстия, отклонения, относительно, перпендикулярности, торца

...которого взаимодействует со штифтома на дру гом плече установлен отсчегный узел.1404793 оставитель В.Савельевехред М,Ходанич Коррек едакто ана тяг 40 Тираж 680 ВНИИПИ Государственног по делам изобретений 13035, Москва, Ж, Рауказ 3087 Подписиета СССРытийаб д, 4/5 о ская оизводственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул,. Проектная Изобретение относится к измерительной технике.Цель изобретения - повышение точности и надежности измерения за счет5 исключения перекоса детали.На чертеже изображено устройство, общий вид.Устройство для измерения отклонения от перпендикулярности оси отверстия детали относительно ее торца содержит плиту 1, на которой выполнена базовая плоскость 2, и оправку 3. По отношению к базовой плоскости 2 оправка...