Расточная оправка

Номер патента: 429399

Опубликовано: 25.05.1974

Авторы: Кацнельсон, Фурман

МПК: G02B 5/28

Метки: изготовлении, оптического, покрытия, слоев, толщины

...коэффициентом пропускания Т (Хо) при величине Хо, близкой 100%. В процессе осаждения слоев фиксируют максималь- НОЕ Рмаис И МИНИМаЛЬНОЕ Р,иЗНаЧЕНИЯ ВЕЛИ чины, получаемой на отсчетном приборе фотометрического устройства.Если полученное в результате измерений отношение Рмакс/бармин)уо (уО - расчетная величина, зависящая от показателей преломления 25 веществ, образующих покрытие), то слои напыляют до экстремального значения пропускания. Согласующий слой, т. е. первый слой системы, наносимой при Хо, напыляют либо до р=д, в том случае, когда он состоит из ма териала с низким показателем преломления,429399 Составитель В. ВанторинТехред Л. Акимова Корректор А. Васильева Редактор Т, Фадеева Заказ 207/14 Изд.860 Тираж 537...

Номер патента: 1490455

Опубликовано: 30.06.1989

Авторы: Аграновский, Брандорф, Кизилов, Ямпольский

МПК: G01B 7/06

Метки: многослойных, слоев, толщины

...улучшения контроля за качеством иэготовления.5 Формула изобретенияЗатем образуют другую комбинацию контуров (фиг.2) аналогично получают значение1 Ор4 и определяют толщины слоев 1-3 поформулам15Т 1=- ег 1 г г 1 Тз=4,гдеа Ъ 4 о а ф+в . ва, Р (1+Р ) В случае п-слойного изделия нумеруют последовательно проводники от наиболее удаленного от преобразователя, затем ныбирают четыре: первый - 30 третий и т-й, и указанным способом определяют толщины слоев Ти Т г =г- . Затем выбирают провод - ники третий - пятый и п-й, находят Тз= сз 1-4 и Т = с 4и теде 35Использование переменных магнитных полей, порождаемых переменными токами, проходящими через закладные проводники, вызывает в электропронодящих слоях появление вихревых токов, 40 магнитные поля...

Номер патента: 1578451

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Трибунский, Яковлев

МПК: G01B 7/06

Метки: многослойных, слоев, толщины

...щель 22 ориентирована вдоль проводника 24. В таком положении значение ЭДС преобразователя 1 максимальна, а ее среднее значение Е, -й, р цо - яаф -где- частота тока;Ц, - сумма площадей витков катушки индуктивности;р - относительная магнитная проницаемость материала измеряемого слоя;ро - магнитная постоянная;1 о - амплитудное значение силы тока влинейном проводнике;,р - угловая характеристика направленности преобразователя, определяемая параметрами магнитного экрана;го - расстояние от преобразователя до.линейного проводника.Сигнал преобразователяусиливается Дифференциальным усилителем 2, выпрямляется линейным выпрямителем 3, на выходе которого имеется напряжение 0=К Егде К - коэффициент усиления по напряжению усилителя 2. 5 10 15 20 25 30...

Номер патента: 1768970

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Абелтинь, Граудин, Конончук, Муссонов

МПК: G01B 15/02

Метки: двухслойного, слоев, толщины

...- -211 ст 1 ах/цгс, чта может быть реализовано установкой непразра Наго па отношению к первичному лзлучению экрана между источникам и де 8 ктарам либО саатВ 8 тству" КЩГЧГЧ РаЗМЕЩЕ:- Ие г:;ОЛЛ.;Л.:ПОРОВ ДетеКтаРОВ ИЛИ ИСТОЧ;ИКОВ.Способ может бь ь реализсван различнымл устрас Вагли, схеь,ы нескаськ.1 х;чз них привед 8 ны на фиг.1,2 и 3,Устаайсгво, изабражегное на фиг,1. содержит источник ", и два дс 1 ектара 2 и 3, перед детектором 3 установлен экран 4, непрозрачный к первичноглу излучению, Еиоина с 4 экрана должна Оьть не менее чем 2 г 1 гпах/т 9 гс, чта легко рассчигывается изеаме грии.Ус. райства, иллюстрируемое фиг,2, содержиг два толщинамера, работающих на Обратна ат. экенном излучении. Содержит источник 1, в горой источник 2,...

Номер патента: 1772624

Опубликовано: 30.10.1992

Авторы: Алексеев, Бобров, Бухарев, Егунов, Меледин, Химикус

МПК: G01B 17/02

Метки: двухслойного, изделия, слоев, толщины

...колебаний соответственнов первом и втором слоях при температуре 12;г 1, кг - время прохождения ультразвуковых колебаний через изделие при температурах т 1 и тг соответственно,Способ осуществляется следующим образом,Вначале измеряют исходную температуру изделия т 1, Затем измераот скоростьраспространения ультразвуковых колебаний в первом слое С 1 и во втором слое С 2при исходной температуре, Далее с помощью ультразвуковой аппаратуры измеряют время прохождения ультразвуковыхколебаний через два слоя изделия в направлении, перпендикулярном границе разделаслоев, и фиксируют это время г 1. Послеэтого нагревают изделие до температуры тги повторно измеряют скорости распространения ультразвуковых колебаний в первомСз и втором С 4 слоях...