Способ импедансной дефектоскопии двухслойныхизделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз Соеетсннн Социалистичесиин РеспублинЗависимое от авт. свид ьстваКл, 421 с, 46 19.17,1968 ( 1236212/25 Заявл соединением заявки Комитет по делам зобретений и отирыти при Совете Министров СССР. Азаров Заявитель СП ИМПЕДАНСНОЙ ДЕФЕКТО ИЗДЕЛИЙВУХСЛОЙНЪ Предложенное изобретение относится к области неразрушающего контроля качества двухслойных изделий, например, клеевых или паяных.Известны способы импедансной дефектоско пии соединений путем ввода акустических колебаний в изделие от излучающего пьезоэлемента и,приема колебаний в изделии приемным пьезоэлементом, по величине сигнала которого судят о качестве изделия. 10По предлагаемому способу акустические колебания возбуждают посредством скользящего перемещения искателя дефектоскопа по поверхности изделия с постоянными скоростью ц прижимом и по параметрам принятых искате лем акустических колебаний судят о качестве контролируемого изделия.Это упрощает конструкцию дефектоокопа и повышает точность контроля, так как отсутствие излучающего пьезоэлемента исключаег 20 акустические и электрические наводки на приемный пьезоэлемент искателем.На чертеже изображена схема предлагаемого способа.Способ заключается в следующем. 25 Искатель 1 дефектоскопа перемещается по контролируемому участку изделия 2 с постоянными скоростью и усилием прижима. В результате скользящего перемещения искателя по в последнем возбуждалебания. Механический по амплитуде силы рео изделия на пьезоэлеповерхности изделия, ются акустические к импеданс определяетс акции контролируемог мент 3 искателя.Электрический сиги пает через усилитель бор 5, по показаниям стве контролируемогоПо предлагаемому с димость в изучающем альном генераторе эл л пьезоэлемента 4 на стрелочнь которого судят изделия.чособу отпадает пьезоэлементе и ктрических кол постуй прио качееобхо специ баниГ Предмет из обре генц фектоскопии двухр клеевых, заклюдают акустические мают их и опредеметрам принятого что, с целью упрооскопа н повыше- акустические коле- щего перемещения поверхности издеи,прижимом и по елем акустических е контролируемого Способ импеданснои де слойных изделий, наприме чающийся в том, что возбуж колебания в изделии, принц ляют дефектность по пара сигнала, отличающийся тем щения конструкции дефект ния точности, возбуждают бания посредством скользя искателя дефектоскопа по лия с постоянной скоростью параметрам принятых искат колебаний судят о качеств изделия. О П И С А Н И Е 261760ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУСоставитель Л. Тришина Редактор Т. И. Зубкова Техред А. А. Камышникова Корректор В. В. Комарова Заказ 1165/3 Тираж 500 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква Ж.35, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр, Сапунова, 2
СмотретьЗаявка
1236212
Н. Т. Азаров, В. И. Сафрончик
МПК / Метки
МПК: G01H 15/00
Метки: двухслойныхизделий, дефектоскопии, импедансной
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-261760-sposob-impedansnojj-defektoskopii-dvukhslojjnykhizdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ импедансной дефектоскопии двухслойныхизделий</a>
Предыдущий патент: Устройство для сканирования датчиков при дефектоскопии проката
Следующий патент: Рентгено-телевизионное устройство для дефектоскопии изделий при вибрационныхиспытаниях
Случайный патент: Устройство для гидрозолоудаления