Способ определения поверхности раздела фаз

Номер патента: 213409

Авторы: Кашников, Московский, Родионов, Строганов, Уль

ZIP архив

Текст

ОП ИОАН И Е ИЗОБРЕТЕНИЯ Союэ Советскиэ Социалистическик Республик;,лоокт;.,и, биСдиоЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 17,1.1967 ( 1126771/26-2с присоединением заявкиПриоритет -Кл. 421, 13/03 МПК б 01 пУДК 535.518(088.8) оетитет по пела эосретеиий и открытийпри Совете МинистровСССР Опубликовано 12.111.1968. БюллетеньДата опубликования описания 23 Л.1968 Авторыизобретения. И. Родионов, Б. А. Ульянов, Е. ф. Строганов и А, М. КашникоМосковский химико-технологический институт им. Менделеева Заявитель СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИ ЕЛА фАЗ ВЕРХНОСТИ 2гервоначальной плоскости поляризации. Ф тоэлементом 5 замеряют интенсивность св новых потоков при этих двух крайних пол жениях анализатора.Степень деполяризации света характери анет развитость поверхности.Предмет изобретения Способ 10 фаз с пр световым целью осу раздела ф нием дис зованный деполярпэ дят о стеИзвестным способом исследуемый объект просвечивают пучком света и по степени его рассеяния судят о поверхносги раздела фаз,Предложенный способ состоит в том, что лля определения поверхности раздела фаз используют поляризованный световой пучок и по степени его деполяризации судят о поверх- кости раздела фаз.На чертеже изображен один из возможных вариантов осуществления предложенного способа.Параллельный пучок света от источника света 1 проходит поляризатор 2 и поляризованным входит в дисперсную систему д,Затем световой поток проходит анализатор 4, который может оыть установлен в двух положениях: параллельно и перпендикулярно определения поверхности раздела освечиванием исследуемого объекта пучком, отличающийся тем, что, с ществления измерения поверхности аз в системах с большим содержаперсной фазы, используют полярисветовой пучок и измеряют степень ации этого пучка, по которой супени развитости поверхности.Составитель И. И. Крайнова Редактор Н. Джарагетти Техред Р. М. Новикова Коррекгорьн Л. В. Наделяева и В. В. Крылова Заказ 1052/7 Тираж 530 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений н открытий при Совете Министров СССРМосква, Центр, пр. Серова, д. 4Типография, пр, Сапунова, 2

Смотреть

Заявка

1126771

А. И. Родионов, Б. А. Уль нов, Е. Ф. Строганов, А. М. Кашников, Московский химико технологический институт Менделеева

МПК / Метки

МПК: G01F 23/292

Метки: поверхности, раздела, фаз

Опубликовано: 01.01.1968

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-213409-sposob-opredeleniya-poverkhnosti-razdela-faz.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения поверхности раздела фаз</a>

Похожие патенты