Устройство для испытания термоэлементов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз Соввтоких Социвлиотичвоких РеоптблииЗависимое от ав видетельствао, 21 Ь, 27/02 21 е, 3610 Заявлено 13.Х,1966 ( 1106812/26 заявкис присоединенПриоритет -1 ПК Н 01 гп С 01 г ДК 621.362.2 (088.8) 620,001.05Комитет по делам зобрвтеиий и открытий при Совете Миииотров СССРпубликовано 06.11.1968. Бюллетень6 ата опубликования описания 22.17.1968 Авторыизобретенияявител УСТРОЙСТВ ИСПЫТАНИЯ ТЕРМОЭЛЕМ зность потенциалов, измерег возможность определить ектрические характерис гики Для улучшения контакта ами и термоэлементами исние, создаваемое сильфоном рмоэлементов проводятся в оздаваемой в закрытом балсоответственно ра ния которых даю основные термоэл термоэлементов. между электрод пользуется давле 5. Испытания те инертной среде, с лоне б. редмет изоо етени оэлементов, определения при радиаия темпераенте за счет утационные ом концах ериалов, обпоглощения люминпя. При определении термоэлектрических характеристик термоэлементов необходимо наличие температурного градиента между горячим и холодным концами последнего, В существующих устройствах для этих целей применяют специальные нагреватели и холодильники.Предложенное устройство отличается тем, что в качестве коммутационных электродов применены материалы, обладающие различной степенью поглощения излучения, за счет чего температурный градиент на термоэлементе создается самим радиационным полем.На чертеже представлено предложенное устройство.Полуэлементы 1 и 2 закладываются между электродами 3 и 4, выполненными из матеркалов, поглощающих радиационные излучения в различной степени (например, из алюминия и меди). В результате этого на полуэлементах создается градиент температуры и Устройство для испытания теротличающееся тем, что, с цельютермоэлектрических параметровционном облучении, путем создантурного градиента на термоэлемсамого радиационного поля, комэлектроды на горячем и холодитермоэлемента выполнены из матладающих различной степеньюизлучения, например из меди и аСоставитель С. Е, Островская Редактор Н. Джарагетти Тсхред Л. Я, Бриккер Ксректоры: Л. В. Наделяева и 3. И. Тарасова Заказ 60614 Тираж 530 Подписное ЦНр;ИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Центр, пр, Серова, д. 4Типография, пр. Сапунова, 2
СмотретьЗаявка
1106812
А. Черкасский, А. Я. Тереков, Л. Л. Силин, И. П. Горемыкин, Б. Д. Иванов, В. В. Типикин, В. Ф. Полищук
МПК / Метки
МПК: G01R 31/26, H01L 35/20
Метки: испытания, термоэлементов
Опубликовано: 01.01.1968
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-210227-ustrojjstvo-dlya-ispytaniya-termoehlementov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для испытания термоэлементов</a>
Предыдущий патент: Электрод для щелочного аккумулятора
Следующий патент: Устройство для безыскровой коммутации нагрузки переменного тока
Случайный патент: Устройство для измерения параметров яиц