Способ определения плотности электроновв плазме

Номер патента: 203090

Авторы: Адамов, Душин, Павличенко

ZIP архив

Текст

Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваКл, 21 д, 21 4 ( 895576/26-25) аявлено 13,1 У.19 присоединением явкиМПК б Приорите комитет по дела крыт изобретени Д С 533.9.082.74:621.317. .39(088,8) 1967, Бюллетень2 ликовано 28 при Совете Министров СССРата опубликования описания 15.Х.1967 ПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЛОТНОСТИ ЭЛЕКТРОНОВ В ПЛАЗМЕНа чертеже представлена блок-схема, иллюстрирующая предложенный способ.Световой луч оптического квантового генератора 1 с помощью делителя 2 делится на два луча, один из которых пропускается через зондируемую плазму 3, а другой в опорном плече модулируется по амплитуде на промежуточной частоте с помощью модулятора 4.В модуляторе может быть применен электро- оптический кристалл. Далее лучи смешиваются и детектируются на квадратичном детекторе б. Детектором может служить фотоэлектронный умножитель, После усиления на промежуточной частоте усилителя б сигнал подается на частотный детектор 7, интегратор 8 и регистратор фазы 9,Полоса пропускания усилителя б должна выбираться с учетом скорости изменения плотности плазмы. Градуировка прибора может производиться с помощью внешнего генератора, включаемого на вход усилителя б. Предмет изобретени Способ в плазме сдвига фа луга, прош ся те:,1, чт измеряемь че 11 птерфов тром тного гцггг 1- азонапле.1 т де Известны способы определения концентрации электронов в плазме с помощью интерферометров радио и светового диапазона, недостаток которых заключается в относительно малом перекрытии диапазона измеряемых плотностей. Оптические интерферометры практически неограничены по максимально измеряемой плотности, так как плазма вплоть до плотностей порядка 102 о - 10-з см з является прозрачной для света. Однако с помощью оптического интерферометра трудно измерять плотности меньшие 1015 см з,Диапазон измеряемых плотностей можно повысить, если преобразовать сигнал светового диапазона в сигнал радиодиапазона с сохранением информации о сдвиге фазы луча, прошедшего плазму, Такое преобразование можно осуществить, если световой луч в опорном плече интерферометра модулировать по амплитуде промежуточной частотой, затем с помощью квадратичного детектора зарегистрировать совместно с основным лучом, прошедшим через плазму, и далее выделить сигнал промежуточной частоты, который несет в себе фазовую информацию. Для этого необходимо, чтобы генератор имел очень высокую стабильность частоты во времени. Этому условию удовлетворяют оптические квантовые генераторы, которые позволяют осуществить локальное зондирование с разрешением порядка 1 мм. определения плотности электрс измерением ннтерфероме зы когерентного электромагни едшего через плазму, от.гигсгго о,: целью расширения днапплотностей, луч в опорном рометра модули руют по 1 мплаква З 84 дуО Тираж 335 ПодписноеЦИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Центр, пр. Серова, д, 4 Типография, пр, Сапунова, 2 промежуточной частотой и с помощью квадратичного детектора регистрируют совместно с основным лучом, прошедшим через плазму, далее выделяют сигнал промежуточной частоты, который детектируют частотным детектором и интегрируют для получения сигнала, пропорционального плотности электронов в плазме.

Смотреть

Заявка

895576

И. Ю. Адамов, Л. А. Душин, О. С. Павличенко Физико технический институт УССР

МПК / Метки

МПК: H01S 3/10, H05H 1/00

Метки: плазме, плотности, электроновв

Опубликовано: 01.01.1967

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-203090-sposob-opredeleniya-plotnosti-ehlektronovv-plazme.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения плотности электроновв плазме</a>

Похожие патенты