192436
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 192436
Текст
ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик, свидетельстваависимо Кл. 421 т, 34/11 5 ( 1006632/26 заявкиЗаявлено 07.Ч.19 с присоединением Комитет по делам изобретений и открытийМПК 6 020УДК 531.715,1(088.8) ПриоритетОпубликовано 06.1.1967. Бюллетень5 при Совете Министров СССРДата опубликов описания 25.111,196 Авторизобретени Я. С, Аграновичсесоюзный научно-исследовательский институтзико-технических и радиотехнических измерений Заявитель ОСОБ АБСОЛЮТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ КОЭффИЦИЕНТАЛИНЕЙНОГО РАСШИРЕНИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА ПРИГЕЛИЕВЫХ ТЕМПЕРАТУРАХ Известный способ измерения коэффициента расширения твердого тела в области низких температур, при котором используют двухлучевой интерферометр, имеет недостаточную чувствительность для измерения коэффициента линейного расширения твердого тела в области гелиевых температур,Предлагаемый способ позволяет повысить пороговую чувствительность к удлинению при гелиевых температурах. Это достигается тем, что осуществляют низкочастотную модуляцию температуры исследуемого образца, благодаря чему получают периодическое смещение интерференционной картины, регистрируемой затем фотоэлектрическим устройством. На чертеже представлен один из вариантов устройства для осуществления описываемого способа.Пучок света от источника 1 проектируется линзой 2 на входную щель 3, находящуюся в фокальной плоскости линзы 4. Параллельный пучок света после линзы 4 попадает на полупрозрачную пластинку 5. Одна часть светового потока направляется к зеркальной поверхности эталонной пластинки б и отражается от нее, другая - к плоскому зеркалу 7, отражаясь от которой, попадает на поверхность исследуемого образца 8, отражается от нее и возвращается на плоскопараллельную пластину 5,При наличии небольшои разности хода лучей в фокальной плоскости линзы 9 наблюдается интерференционная картина, которая смещается при изменении размеров образца вследствие изменения его температуры. Смещение интерференционной картины регистрируется фотоэлектрическим устройством 10, сигнал с которого подается на резонансный усилитель 11, настроенный на частоту моду ляции температуры образца.Эталонная пластина и исследуемый образецнаходятся в криостате (на чертеже не показан), и изменение температуры образца приводит к одинаковому изменению пути лучей 15 в двух плечах интерферометра, сдвиг же интерференционной картины происходит только из-за изменения длины образца.Периодический нагрев и охлаждение образца осуществляют следующим образом.20 На конце образца прикрепляют малоинерционный нагреватель 12, на небольшом расстоянии от которого располагают малоинерционный термометр 13. Нагреватель питается от генератора низкой частоты (на чертеже не 25 показан) и создает в образце температурнуюволну. Поскольку образец находится в вакууме, волна проходит вдоль образца и через тепловые контакты 14 направляется к стенкам камеры 15, имеющим большую теплоемкость.30 Тем самым достигается периодическое изменение размеров образца.Редактор Н. Громов Заказ 631/8 Тираж 535 Г 1 одписносЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Центр, пр. Серова, д. 4 Типография, пр. Сапунова, 2 Сигнал с фотоэлектрического устройства подается на резонансный усилитель, кастроенный на частоту модуляции температуры образца, Зная изменение сигнала, вычисляют сдзиг интерференционной картины и по общ известным формулам определяют изменение длины образца. Предмет изобретенияСпособ абсолютного измерения коэффициента линейного расширения твердого тела при гелиевых температурах, при котором используют двухлучевой интерферометр, в рабочей ветви которого помещаот исследуемый образец, а смещение интерференционной картины регистрируют фотоэлектрическим устройством, отлииающайся тем, что, с целью повышения чувствительности измерения, осуществляют модуляцию смещения интерференционной картины пернодгнгсским нагревом и охлаиде нием образца,
СмотретьЗаявка
1006632
МПК / Метки
МПК: G01N 1/42, G01N 1/44, G01N 25/16
Метки: 192436
Опубликовано: 01.01.1967
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-192436-192436.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">192436</a>
Предыдущий патент: Двухлучевой интерферометр для исследования прозрачных неоднородностей
Следующий патент: 192437
Случайный патент: Головка для нарезания мелких резьб