Анализатор спектра электрических сигналов

(9 й 23/18 НИЕ ИЗОБРЕТЕН О я. Анализатор содержит лаэерк (1) света, формирователь 2 призму 3 полного внутреннего а отражающей. грани которой пленка 4 магнитооптического ОМ), поляризатор 5, Фурьефоторегистратор 7, распололедовательно по ходу луча ОМ нанесено иэносостойкое , толщина которого удовлетовию д (рд) - д (у - 0) =2 сти измерени ный источни пучка света, отражения, н расположена материала (М объектив 6 и женные пос света, На М покрытие 11 воряет ус 2 ЬЬтэтз 7 "Д"транения света в покрытии, 0 ции,- толщина покрытия, д -ри полном внутреннем отражеИЧЕугол распросугол дифрасдвиг фаз инии. 1 ил. ана обрезона точно ОСУДАРСТВЕНЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯПРИ ГКНТ СССР К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(56) Авторское свидетельство СССРВ 817661, кл, 6 03 Н 1/16, 1981.Патент СШАВ 3594064, кл, 6 02 Г, 1971.Автометрия, М 2, 1985, с,81-85.(54) АНАЛИЗАТОР СПЕКТРА ЭЛЕКТРСКИХ СИГНАЛОВ(57) Изобретение относится к техникелиза электрических сигналов, Цель изтения - расширение диапаанализируемых частот и повышение 1775682 А 1-в) = 2 Ь Тт Я 3 угол распро скачок аз где транения света;ри полном внутренне д- фтражении; д- угол дифра- толщина по А- длина волн и - показатель ии;рытия;света;реломлени ель А.Орла Моргентвл.Тупица Коррек едактор Подписное зобретениям и откры Раушская наб., 4/5м при ГКНТ СС изводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгор агарина, 101 Изобретение относится к технике анализа спектра электрических сигналов.Цель изобретения - расширение области анализируемых частот и повышение точности измерения.На чертеже представлена структурная схема устройства.Анализатор содержит лазерный источник 1 света, формирователь 2 пучка света, призму 3, на отражающую грань которой нанесена пленка 4 магнитооптического материала (МОМ), анализатор 5, фурье-объектив 6, фоторегистратор 7, магнитную ленту 8 с блоками 9 и 10 записи и протяжки и износостойкое диэлектрическое покрытие ойство работает следующим обра зом,На магнитную ленту записывается исследуемый сигнал. Блок 10 протяжки протя гивает магнитную ленту с сигналограммой .под пленкой МОМ. Поля рассеяния сигналограммы наводят в пленке МОМ структуру намагниченности, аналогичную сигналограмме. Свет лазерного источника 1 расши ряется формирователем 2 и пройдя через призму 3 освещает пленку 4 МОМ, где дифрагирует на индуцированной структуре намагниченности. Продифрагировавшие лучи попадают в износостойкое покрытие 11. За 30 счет того, что лучи распространяются под разными углами, между ними возникает разность фаз. После полного внутреннего отражения и прохождения покрытия 11 в обратном направлении лучи света вновь по падают в МОМ и дифрагируют. Лучи, продифрагировавшие после первого и второго прохода МОМ, интерферируют. Поскольку разность фаз, возникшая при полном внутреннем отражении, компенсирована сло ем диэлектрика, амплитуды лучей складываются и .прекращается перекачка энергии между порядками дифракции, в результате чего выравнивается АЧХ. После этого продифрагировавшие лучи выхо дят из призмы 3, проходят анализатор 5; Фурье-объектив 6 и формируют в его фокальной плоскости спектр электрического сигнала. Фоторегиетратор 7 производит считывание спектра, 50При этом толщина диэлектрического покрытия должна удовлетворять условиюСоставитР Техред М. коз 4032 ТиражВНИИПИ Государственного комитета113035, Москва, Ж где ф- угол распространения света;д - скачок фаз при полном внутреннем отражении.О- угол дифракции,. - толщина покрытия,А- длина волны света,п - показатель преломления.В этом случае за счет сдвига фаз в износостойком слое компенсируется изменение АЧХ, обусловленное этим сдвигом и за счет этого расширяется диапазон анализируемых частот и повышается точность измерения,Формула изобретения Анализатор спектра электрических сигналов, состоящий из источника лазерного излучения, формирователя пучка излучения, призмы полного внутреннего отражения, на отражающей грани которой расположена пленка магнитооптического материала, поляризатора, Фурье-объектива и фоторегистратора, расположенных последовательно на ходу луча света, фоторегистратор в фокальной плоскости объектива, магнитной ленты с блоком протяжки и записи, соприкасающейся с пленкой, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью расширения диапазона анализируемых частот и повышения точности измерения, призма содержит дополнительно прозрачное износостойкое покрытие, нанесенное на пленку магнитооптического материала, толщина которого удовлетворяет услови Ь