Способ измерения тензорных параметров ферритов

Номер патента: 174220

Авторы: Барташевский, Коломейцев, Прудкий

ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕИ ЗОБ РЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт, свидетельства ,м 1(л 21 а 1 71 по 26,Х,1962 1 718465/2 Зав исоедипеписм заявки Х МПК 6 ОгУД 1( 621.317.7(08.8) Государствеины комитет по дела изобретений и открытий ССС.,дтя опмоликовапия описапия7.1.19 бб Авторыизобретения Коломойцев и В, П. Прудкий Е Д Б евскии итель ЕРЕНИЯ ТЕНЗОРНЪХ ПА ТРОВ ФЕРРИТ СПОСО цпркулятор 2, поступает на изме- резонатор 3, который вырезает из нала полосу частот, соответствуюе его резонансной кривой. Сигпдл, онатор 3, вентиль 4 и переключатупает в анализатор спектра 6. я на резонансной кривой точкимощности, измеряют частотный ежду ними с помощью меток ка. го клистрона дыализаторя, напр- жателя которого модулируется гсста да рты х сигналов 7. ходя через рительцый спектра си щую шири пройдя рез тель 5, пос Определя половинной и терва т 10 лпбраторнс жение отр 3 1 е 1) я т о 11 о ммет изооретеи Спосооферритов,повышения0 чдстотпыйпои мощюс ферритопклистропател кото5 стдпдя 1 тпь тров елью ваяют винторя юго ажя- ором одпасная группа М 89 В настоящее время для измерения тепзорных параметров ферритов применяются резо,иторные методы.По предлагаемому способу, с целью повышения точности измерения параметров ферритя, определяют частотный интервал междуточками половинной мощности резонанснойкривой резонатора с ферритом с помощью мсток кдлибраторпого кристропа анализатора,напряжение отракдтел которого модулирется генератором стапдартных сигналов.Г 1 ри этом погрешность измерения разностичастот практически определяется точность онахождения на резонансной кривой точек полоишшой мощности и погрешностью геперятора стандартных сигналов.Г 1 римепевие данного способа оолегчаетсяиспользованием стандартной аппаратурыБлок-схема устяповкп для измерения теизорпых параметров ферритов пзобрджеид иячертеже,1(лпстронпый генератор 1, напряжение отряжателя которого модулируется генераторомразвертки осциллографа, генерирует чястотпомодулировацнцй сипил. Этот сипил, прозмереппя теизорпых парам т,шчаощицся тем, что, с цточ 1 юсти измерения, опреде интервал межд точками пол сти резонансной кривой резона с помощью меток калибратор анализатора. напряжение отр ого модул ировано генерат х сигналов.174220 Составитель Э. фТехред Т. П. лова Редактор Г Корректоры: С. Н. Соколоваи Л. Е. Марисич чо илк Типография, пр. Сапунова,Заказ 3798/1 Тираж 1225 Формат бум, 60 Х 90 Чц Объем 0,1 изд, л. Цена 5 коп. ЦНИИПИ Государстеснного комитета по делам изобретений и открытий СССР Москва, Центр, пр. Серова, д. 4 2

Смотреть

Заявка

718465

Е. Л. Барташевский, Ф. И. Коломейцев, В. П. Прудкий

МПК / Метки

МПК: G01R 27/26

Метки: параметров, тензорных, ферритов

Опубликовано: 01.01.1965

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-174220-sposob-izmereniya-tenzornykh-parametrov-ferritov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения тензорных параметров ферритов</a>

Похожие патенты