Способ определения состава ортопироксенов

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 1 35 Ц 5 ОПИСАН К АВТОРСКОМУ ТЕ Б ЕТЕЛЬСТВУ ый микроанаИзобретение отн ческим методам знал щества, а именно к состава магнеэиальн ных силикатов (арто быть использовано и класса геологически сится к физико-химииза минерального веметодам определения -железистых цепочечироксенов), и может и изучении широкого обьектов. той поо выбикрытом) петрографи роды под микроско ралось зерно ортопОт данного эерн матизированном м по точкам с шагом поглощения в диап 2200 нм. ческом шл эпом произироксена.а на однолучевоикроспектрофот 5 нм получалиаэоне длин во м автоометре спектр н 800 Цель изобре ба, расширение вышение воспро На чертеже связывающая и соответственно го переходов на кристаллическипрощение спосоприменения и пости результатов. на зависимость, Р 1 и эг (частоты коротковолново"и расщепленногоровня Е),тения - области иэводимо приведе араметры длинно- и подуровн м полем у ется следующим т образец основ- стандартном (поСпособ илпримером,Для исследного кристалло стриру ания ванца,ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИРИ ГКНТ СССР(71) Институт геохимии и физики минералов АН УССР(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОСТАВА ОРТОПИРОКСЕНОВ(57) Изобретение относится к физико-химическим методам анализа минерального ве Ы 2, 1571476 А 1 щества, Цель изобретения - упрощение, повышение воспроизводимости и расширение "области применения. На исследуемый образец воздействуют электромагнитным монохроматическим излучением с последовательным изменением длины волны в интервале 800-2200 нм, на полученном спектре определяют положение максимумов полос поглощения, соответствующих частотам разрешенных б-б-переходов на расщепленный кристаллическим полем ровень Е основного терма О ионов Ре в структурной позиции М 2 ортопироксена, по которым на опорной диаграмме определяют основные параметры состава исследуемых кристаллов, 1 ил,Далее на построенно ке спектре определяли по мов.поглощения и (в рай(в районе 900 нм) полос ра хода 5 Тг -ф Е в ионах срутурную позицию М значениям И (5190 см 1 на опорную диаграмму в выносится фигуративная ного образца. Методом и положению на диаграмме щие основные параметрм на миллиметровложение максимуоне 2000 нм) и а зрешен ного переРе, занимающих 2. По найденным ) и м г (1 0930 см) координатах и- гточка исследованнтерполяции по ееполучаем следуюы состава ортопи157,1476 о овоо но Сост М.Недолуженко, Техр, Редакт каз 1507 Тираж 512 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СС113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 оизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина роксеуа:, ф М 0,1 формульных единиц;1. Ре +/(1 е + Мд) - 0,33,Соблюдая требования злектронейтральности кристаллической решетки, из этих данных по известныв соотношениям (9+Ае.А 11 У "А 1 У 1; Ре +Мд-Аю) легко получаем кристаллохимическую2+ формулу ортопироксена; (М 91,ОРе О,бз Х ХА 10,10) 2,00 (А 10,10811,90) 2,0006 которая яв ляется общепринятым в минералогии отражением состава минерала с учетом распределения элементов по структурным позициям.На приборах с иным ходом луча по общепринятой методике может осуществляться измерение спектров дифФузного отражения ортопироксенсодержащих минеральных смесей и пород. В качестве эталона для сравнения обычно используется порошок МЯО. После получения спектра все операции. полностью идентичны описанным. Формула изобретения Способ определения состава ортопироксенов, включающий воздействие на исследуемый образец электромагнитным 5 излучением, отличающийся тем,что,с целью упрощения способа, повышения воспроизводимости и расширения области применения, на анализируемый образец воздействуют электромагнитным монохро матическим излучением с последовательным изменением длиныволны в интервале 800-2200 нм, на полученном оптическом спектре поглощения определяют положение максимумов полос, соответству ющих частотам разрешенных О-б-перехо. дов на расщепленный кристаллическимполем у 2 оовень Д основного терма 05 Бионов Ре + в структурной позиции М 2 ортопироксена, по которым на предварительно 20 построенной опорной диаграмме определяют основные параметры состава исследуемых образцов ортопироксенов.