Способ определения толщины поверхностного слоя с отличной от объема структурой

Номер патента: 1730585

Опубликовано: 30.04.1992

Авторы: Градыская, Линник, Тимощук, Шильдер

МПК: G01N 33/36

Метки: витков, нитей, паковки, поверхностных, слоев, устойчивости

...интеграла сдвиговой деформации торцовых образующих паковки в радиальной плоскости его сечения, проходящей через траекторию скольжения индентора.С целью повышения объективности контроля механическое воздействие к поверхностным виткам и слоям нитей паковки осуществляют при амплитуде, частоте и скорости перемещения индентора, усилии прижима его к поверхности паковки и климатических условиях, соответствующих условиям транспортировки паковок.На чертеже изображено устройство для реализации предлагаемого способа.Процесс контроля устойчивости поверхностных витков нити и слоев паковки выполняют следующим образом.Контролируемую паковку 1 закрепляют в неподвижных держателях 2, К поверхности паковки 1 поджимают с определенным усилием индентор 3,...

Номер патента: 1045313

Опубликовано: 30.09.1983

Авторы: Шабанов, Шенгуров

МПК: G01R 31/26, H01L 21/66

Метки: полупроводниковых, проводимости, слоев, структур, типа

...цншии компоцецтцв, мсГ.(Г:П.)явиковая к 31 слОтс 2,0-;Вода Остальцое а тип проводимости ццредслякт из соотццшеия линейных размеров образовавшихся ямок, причем меньшие размеры ямок соотвлствуют слоям р-типы, ы большие п-типа.На фиг. 1 приведена диаграммы, цокызыБаюшд 51 ОГряничеци 51 15)смени т")ЯБ 1 ец 3)я. П,101 НОСТИ ТЦКЯ И КЦЦЦ(сЦТРЯЦИИ 1)пасЗИКОВЦИ кислоты цри рса,тизации изобрстеция; цы фи 2 х 3 крсс)цтц рафия ск(кы эпитыксиалыкй л руктуры р-и-п тица Ны фи. 3 м и к р О ф ц т 0 Г 1) я ф и и я м ц к т р а Б, ) с ц и я д Г 1 я п,1 ы стин с рызг)ичный т)Г 1 цм прцвц,ихО(ти рызц удсльцым сспрц)3 Гзг)сиисм.На фиг. 1 осизцачсно: область 1 фцрми- Г)овация коричневой пленки цы ццвсрхцост; скоса, которая це позволяет цаблкдать ях)к 1,...

Номер патента: 849880

Опубликовано: 30.10.1982

Авторы: Сонин, Сухенко, Шибаев

МПК: G02F 1/13

Метки: жидкокристаллических, слоев, степени, структуры, упорядоченности, холестерических

...абсцисс, пересекающий ее в точке С, а вторую спектрограмму 11, являющуюся опорной кривой, в точке О. Полученный отрезок ОС делят пополам и из его середины в точке Д проводят кривую, аналогичную и параллельнуЮ опорной кривой 11, до пересечения ее с реальной и восстановленной спектрограммами 1 и 111 соответственно в точках В, А, и Е. Из этих точек опускают перпендикуляры на ось абсцисс соответственно в точках В, А и Е. Определяют величину полуширин реальной и восстановленной полос пропускания - отрезков ЕВ и ЕА. Находят искомую степень упорядоченности структуры или иначе параметр порядка Я, по формуле (1), как отношение найденных полуширин полос пропускания:Ю,: :" . (1)ЬХрал, ЕвПри идеально упорядоченной структуре жидкого кристалла, когда...

Номер патента: 854737

Опубликовано: 15.08.1981

Авторы: Петров, Романова

МПК: B29G 7/02

Метки: армированного, заполнителем, пластика, слое, среднем, структуры, трехслойной, ячеистым

...и опрессовку выполняютпод воздействием пульсирующего давления,Пропитку стеклоткани осуществляютизбытком связующего, суммарное значение которого составляет 30-40 отвеса стеклотрикотажа.Опрессовку выполняют под воздейст.вием пульсирующего давления с частотой 3-5 циклов/мин.Опрессовку и отверждение пластикаосуществляют под вакуумом.Отверждение пластика осуществляютпод давлением, значение которогоустанавливают таким, чтобы деформация заполнителя среднего слоя потолщине не превышала 9-10 Ъ.П р и м е р, Изготовление обшивкиаэродинамического руля из армированного пластика трехслойной структурыс ячеистым заполнителем в среднемслое, армированном одним слоем стеклотрикотажа марки Л 0-1,2, и наружнымислоями, армированными одним...

Номер патента: 864060

Опубликовано: 15.09.1981

Автор: Гудзь

МПК: G01N 11/14

Метки: вязкости, мономолекулярных, поверхностной, слоев

...всех дальнейших измерениях остаются неизменными, приступают к измере нию вязкости мономолекулярных слоев веществ . Для этого чувствительный элемент (диск 1) перемещают вместе с устройством вдоль вертикали и приводят его в контакт с чистой подложкой, находящейся в кювете. Затем выверяют "нуль" устройства по горизонтально расположенной миллиметровой шкале 13 амплитуд, т.е. поворотом юстировочной головки 10 в горизонтальной плоскости приводят в движение механическую подвижную систему через токопроводящие упругие элемен.ты 7 так, чтобы световой поток, направленный в горизонтальной плоскости от осветителя, попадал при помощи эерк.-ла 5 на нулевое деление горизонтально расположенной миллиметровой шкалы амплитуд (А=О, Км= + 00) . Затем путем...