Устройство для измерения геометрических параметров поверхностей

ZIP архив

Текст

, 14 9 01 В 21,00 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТ АВТОРСКОМУ ТЕЛ У(54) УСТРОЙСТВО ДЛ РИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРО (57) Изобретение о тельной технике и иено в машинострое ИЗМЕРЕНИЯ ГЕОМЕТПОВЕРХНОСТЕЙ носится к измериожет быть примении при изготовлеГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ПЩТ СССР(21) 4069019 (22) 10.04.8 (46) 07.04.8 (71) Завод-в заводе.им, А институт АН (72) Г,Г.Зем С.К.Каушинис Н.Д,Морозова и С.Е.Солодо (53) 531,7 ( (56) Патент кл. 250-222,9, Бюл, Р 13тузприМосковском авто.И.Лихачева и ФизическийСССРсков, 10.Л.Бессонов,В.Н.Макухин,П,А.Скролисв088,8)США Р 3550839,нии и контроле изделий сложной формы,Цель изобретения - упрощение, повышение чувствительности и точности за .счет устранения погрешностей установки точечной диафрагмы в фокусе объектива путем использования пространственной модуляции светового пучка спомощью системы регистрации. Излучение источника 1 оптического излучения коллимируется объективом 2, Спомощью объектива 3 излучение фокусируется на поверхности объекта, установленного на платформе 4, Отраженное излучение через светоделитель 6и объектив 7 фокусируется на систему 8 регистрации. Результат измерения регистрируется с помощью осциллографа 10 и цифрового мультиметра11, 1 ил,1471069 20 Формула изобретения Составитель В,ЧулковТехред А.Кравчук Корректор А.Обручар Редактор В.Петраш Заказ 580/44 .Тираж 683 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 101 Изобретение относится к измерительной технике и может бить применено в машиностроении при изготовлении и контроле изделий сложной формы,Цель изобретения - упрощение,увеличение чувствительности и повышение точности эа счет устранения погрешностей установки точечной диафрагмы в фокусе модуляции светового пучка с помощью системы регистрации.На .чертеже приведена блок-схема устройства для измерения геометрических параметров поверхностей.Устройство содержит источник 1 оптического излучения, первый 2 и второй 3 объективы, платформу 4,предназначенную для установки на нейобъекта измерения, оптический столик 5, светоделитель 6, третий объектив 7, систему 8 регистрации, усилитель 9, осциллограф 10, цифровой мультиметр 11, источник 12 питания, генератор 13 импульсов.Излучение источника 1 оптического излучения (промышленный лазер ИЛПНколлимируется первым объективом 2 (ЛОМО 9 х 0,20) и фокусируется объективом 3 ЛОМО 20/1,5) на эталонные пластинки, установленные на платформе 4, размещенной на оптическом столике 5, при этом обеспечивается перемещение объекта изме" рения вдоль оптической оси луча.Светоделитель 6 направляет часть отраженного излучения, собранного объективом 3,на объектив 7 (ЛОМО 9 х х 0,20).Эта часть светового потока, фокусируется в активную область системы 8 регистрации, выполненной в виде ннжекционпого лазера, работающегов фотодиодном режиме, фототок этоголазера усиливается усилителем 9 ирегистрируется осциллографом 10 ицифровым мультиметром 11, Питаниелазера осуществляется источником 12постоянного тока и генератором,обеспечивающим модуляцию излучения.10 В качестве источника 1 оптического излучения н системы 8 регистрацимогут быть использованы инжекционные лазеры ИЛПН, первогообъектива - объектив ЛОМО 9 х 0,20,15 второго объектива - ЛОМО 20/1,5,третьего объектива - ЛОМО 9 х 0,20,усилителя 9 - У 2-9, осциллографа10 - С 1-68, цифрового мультиметра11 - 1514300,Устройство для измерения геометрических параметров поверхностей, 25 содержащее источник излучения, установленные по ходу светового луча первый объектив, светоделитель и вто" рой объектив, оптически связанные со светоделителем и последовательно 30 установленные третий объектив и систему регистрации, о т л и ч а ю - щ е е с я тем, что, с целью упрощения, увеличения чувствительности и повышения точности, система регистрау ции выполнена в виде инжекционноголазера с апертурой,.равной апертуре источника излучения, и установлена в фокусе третьего объектива на расстоянии от светоделителя, равном рас стоянию от источника излучения досветоделителя.

Смотреть

Заявка

4069019, 10.04.1986

ЗАВОД-ВТУЗ ПРИ МОСКОВСКОМ АВТОМОБИЛЬНОМ ЗАВОДЕ ИМ. И. А. ЛИХАЧЕВА, ФИЗИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ АН СССР

ЗЕМСКОВ ГЕОРГИЙ ГЕОРГИЕВИЧ, БЕССОНОВ ЮРИЙ ЛЬВОВИЧ, КАУШИНИС САУЛЮС КЛЕМЕНСОВИЧ, МАКУХИН ВИТАЛИЙ НИКОЛАЕВИЧ, МОРОЗОВА НИНА ДМИТРИЕВНА, СКРОЛИС ПОВИЛОСЬ АДОЛЬФО, СОЛОДОВ СЕРГЕЙ ЕВГЕНЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 21/00

Метки: геометрических, параметров, поверхностей

Опубликовано: 07.04.1989

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1471069-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-geometricheskikh-parametrov-poverkhnostejj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения геометрических параметров поверхностей</a>

Похожие патенты