Способ измерения относительного распределения плотности мощности оптического излучения

Номер патента: 1462965

Авторы: Гектин, Ульянов, Ширан

ZIP архив

Текст

4629 Ь 5коэффициента оптнческОГо вйгчилвапозволяет детектировать сфок".:прова- ное ИК-излучение.% 5 формула изобретения Составитель В,Максимов Редактор Т.Орловская, Техред М.Дидык Корректор Н,КорольЗаказ 1956, ТиражПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, 3-35, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 101 напавшему на нее сфокусированному лучу СО -лазера (Ф=О,Ь мкм) типа ТП(мощность 5 кВт), Выключают лазер через 60 с. Распределение мощности в пучке измеряют по степени локального просветления кристаллической пластины.Низкие потери мощности излучения в кристаллической пластине (менее 10 М от падающей мощности) позволяют пользоваться предлагаемам детекторъм и непосредственно в ходе технологи" ческих операций с использованием мощ" ных ИК-лазеров, Наличие совершенной 15 спайности и отсутствие требований к дополнительной обработке кристалла сокращает до мйнимума времяприготов.,ления пластин, а термическое раэру" шение центров окраски в ходе изотер мического отжига при температурах, гораздо меньших температуры плавления, позволяет использовать один и тот же детектор многократно, Использование пластин с низким значением 25 Способ измерения относительногораспределения плотности мощности оптического излучения, включающий облучение чувствительного элемента измеряемым излучением и измерение результата воздействия излучеюя на чувствительный элемент, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью расширения динамического диапазона и оперативности измерений, в качестве чувствительного элемента используют ионный кристалл, подвергнутый воздействию ионизирующего излучения в дозе,обеспечивающей изменение его окраски,а результат воздействия измеряемогоизлучения определяют путем измерениястепени локального восстановленияокраски ионного кристалла,

Смотреть

Заявка

4090118, 09.07.1986

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6496

ГЕКТИН А. В, УЛЬЯНОВ В. А, ШИРАН Н. В

МПК / Метки

МПК: G01J 5/18

Метки: излучения, мощности, оптического, относительного, плотности, распределения

Опубликовано: 07.03.1993

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1462965-sposob-izmereniya-otnositelnogo-raspredeleniya-plotnosti-moshhnosti-opticheskogo-izlucheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения относительного распределения плотности мощности оптического излучения</a>

Похожие патенты