Способ магнитографической дефектоскопии

Номер патента: 1462175

Авторы: Козлов, Новиков, Полякова

ZIP архив

Текст

(57) Иэобретенитографическому нитных изделий ТОГРАФИЧЕС КОИ е относится к магниконтролю ферромаги их сварных соедине ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯПРИ ГКНТ СССР РСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Белорусский политехническститут ний на наличие несплошностей. С целью повышения надежности контроля за счет выбора режима магнитной записи предварительно перед проведением намагничивания изделия 3 с размещенной на его поверхности магнитной лентой 4 и считывания полученной магнитограммы на участок контролируемой эоны ненамагниченного изделия 3 наносят магнитную жидкость 2,включа.ют намагничивающее поле, изменяют его величину, одновременно измеряют искривление поверхности жидкости, фиксируют величину намагничивающего поля, обеспечивающего максимум искривления поверхности жидкости, и за- а тем намагничивание изделия с размещенной на его поверхности магнитной лентой осуществляют полем фиксиро-. ванной величины. 1 ил,1462175 нита Ге,01, средний диаметр монодисперсных частиц которого равнялсяс 110 нм.В качестве основы был взят керосин, а стабилизатором частиц в растворе являлась олеиновая кислота.Затем совместно с магнитной жидкостью, расположенной в локальной зоне иэделия с неоднородностью типа "трещина" и глубиной залегания ее от 05 до 2 мм, намагничивали. Максимальная высота вспучивания магнитной жидкос" ти над дефектом типа "трещина" составляла 3 мм. Величина намагничиваю" щего поля, зафиксированная при этом, составляла Н = 1 б 0 А/см. Поле удаления магнитной жидкости накладывали магнитную ленту типа МК, прижимали ее к исследуемому изделию и намагничивали тем же полем (т.е. Н =160 А/см) .Считывание магниграммы производилось на магнитографическом дефектоскопе МДУУ. Формула из обретения Составитель А. БодровТехред Л,.Олийнык Корректор В, Гирняк Редактор Н. Горват Заказ ббб/40 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб.; д. 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина,101 Изобретение относится к неразрушающему контролю изделий магнитографическим методом и может быть использовано для обнаружения дефектовферрома.гнитных иэделий, в частностисварных соединений во всех областяхмашиностроения.Целью изобретения является повышение надежности контроля эа счет выбора режима магнитной записи.На чер геже представлена структурная схема устройства для осуществления способа.Устройство для осуществления способа содержит приставной электромагнит 1, питаемый от блока питания(не показан), магнитную жидкость 2,нанесенную а участок иэделия 3, магнитную ленту 4, размещенную в межполюсном пространстве электромагнита 1 аСпособ осуществляют следуюшим образом.На участок контролируемой зоны из делия 3, например, площадью 2 мм,наносят капельным способом магнитнуюжидкость 2 и включают электромагнит1, создающий намагничивающее поле.Изменяют величину намагничивающего поля и одновременно измеряютискривление поверхности жидкостиЗатем фиксируют величину намагничивающего поля, обеспечивающего максимумискривления поверхности жидкости 235и полем фиксированной величины проводят намагничивание изделия 3 с размещенной на его поверхности магнитной лентой 4.При выбранной величине намагничивающего поля лента работает в оптимальном режиме записи. Поле дефектовзаписывается на ленту беэ искаженийна линейном рабочем участке магнитной характеристики ленты,П р и и е р . На участок зоны45контроля наносили капли магнитнойжидкости диаметром 4 мм, представляющей собой коллоидный,раствор маг" Способ магнитографической дефектоскопии, включающий намагничивание изделиясовместно с размещенной на егоповерхности магнитной лентой и считывание полученной магнитограммы, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, сцелью повышения надежности контроляэа счет выбора режима магнитной записи, предварительно на участок контролируемой зоны ненамагниченного изделия наносят магнитную жидкость,изменяют величину намагничивающего поля, одновременно измеряют искривление поверхности жидкости, фиксируютвеличину намагничивающего поля,обеспечивающего максимум искривления поверхности жидкости, и намагничивание изделия с размещенной наего поверхности магнитной лентой осуществляют полем фиксированной нели"чины,

Смотреть

Заявка

3725758, 18.04.1984

БЕЛОРУССКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ

КОЗЛОВ ВАЛЕРИЙ СЕРГЕЕВИЧ, ПОЛЯКОВА ЕЛЕНА АЛЕКСАНДРОВНА, НОВИКОВ АЛЕКСЕЙ ЕВСЕЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 27/85

Метки: дефектоскопии, магнитографической

Опубликовано: 28.02.1989

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1462175-sposob-magnitograficheskojj-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ магнитографической дефектоскопии</a>

Похожие патенты