Способ определения диамагнетизма плазмы, окруженной проводящими стенками

Номер патента: 1455397

Автор: Готт

ZIP архив

Текст

(21) (22) (46) оводящей от внешнебой врекажений. магнитное вызванных наведеннымистенке токами и наводк го маг ного поля, при л висимости этих и мещена во внешне меннои Плазма(53) (56) пов 1 1984 ми е сн шЙдатп а со 1968 ЛЕНИЯ ДИНОЙ ПРО АМАГНЕТИЗОДЯЩИМИ диагнос ная областьые исслеявляет эа гнал вания. ние точ нала, вызваны водящей стенк наветоками итного ависимосискажении си денными в пр и наводками внешнего мвременнойий. ри лю пол ти этих искаж Способ ребра лиэуют следу зом усть г 0 - радиус обагнитного поля велич внешней СУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМИ ГКНТ СССР К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ 4109486/24-2513.06.8630.01.89. Бюл. У 410.В.Готт533.9 (088,8)Яечд 11 апо ег а 1. ТЬе ТАБА с 1 да 8- с вег. СашЬгдд 8 е, МаввасЬивейвРОЕ/ЕТ 51013-134, ИС. гЬтап М,А, Мевигешепой р 1 авта 8 песдвш Ьу а сод 1 1 осасей пеаг пйисСдпя да 11, Р 1 авша РЬуз,ч. 1 О, В 1, р. 86.(54) СПОСОБ ОПРЕДЕ МА ПЛАЗМЫ, ОКРУЖЕН СТЕНКАМИ(57) Изобретение относитс тике плазмы, преимуществе использования - термоядер дования. Целью изобретени повышение точности измере счет снижения искажений с Изобретение относится к диагност е высокотемпературной плазмы. Премущественная область его использования - термоядерные исслед Цель изобретения - повьпп ности измерений за счет сниж,803455397 А 1 и окружена проводящими стен нее магнитное поле создается ой катушкой, помещенной на в ней стороне проводящей стенки и охватывает плазму, Основная катушка одновременно является и измерительнойкатушкой. Дополнительную измерительную катушку размещают на внутреннейстороне проводящей стенки, так чтоплоскость ее витков параллельна плоскости витков основной измерительнойкатушки. Из сигнала, наведенного наосновной измерительной катушке, вычитается сигнал, наведенный на дополнительно измерительной .катушке.По разности сигналов определяютвеличину диамагнетиэма плазмы,г, - радиус вакуумной камеры проводящей стенки; г- радиус плазмы,и ,Б, - число витков и площадь основной измерительной катушки. Навнутренней стороне проводящей стенкиразмещают дополнительную измерительную катушку, не охватывающую шнурплазмы. Дополнительную измерительную катушку располагают таким образом, что плоскость витков указаннойкатушки параллельна плоскости витковосновной измерительной катушки, аобе плоскости перпендикулярны вектору индукции внешнего магнитного поля, Пусть и д, Б- число витков и%Из формул (2) и (3) видно, чтоесли чувствигельности обеих катушекодинаковы, т,е. если и,Б, = пБ ,то разность сигналов с нйх Составитель К.КлоповскийТехред М.Ходанич Корректор В. Гирняк Редактор А.Долинич Заказ 7459/57 Тираж 770 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 з 14553 площадь дополнительной измерительной катушки,Изменение магнитного поля, связанное с появлением плазмы плотностью и, температурои ионов Т и температуи5 рой электронов Тс равно где угловые скобы обозначают усреднение по сечению плазмы.Пусть Е(й) и Е(Т) - законы изменения наведенных токов в проводящих стенках и обмотках внешнего поля, соответственно. Если проводящая стенка и обмотки внешнего поля однородны по толщине, то Е,(с) = е е 1, Е = ее, где ,и Е - постоянные характеризующие проводящую стенку и обмотки. Допустим, так же, что характерное время изменения внешнего поля В много больше характерного времени затухания токов в проводящей стенке. 25Проинтегрированная по времени ЭДС в основной измерительной катушке равна не зависит ни от законов затуханиятоков, наведенных в проводящей стенке и обмотках внешнего магнитногополя, ни от величины и изменения вовремени поля ВПример конкретной реализации способа,Пусть плазма помещена в цилиндрическую камеру диаметром 0,4 м, изготовленную из нержавеющей стали толщиной 3 10 м. Пусть, также для простоты характерное изменение величины(п (Т е + Т;)имеет вид прямоугольного импульса с длительностью 10 9 с,а п,Б, = 10 вт смеПри и(Т+ Т;=- б10 фэв/см и В: 10 Тесла. ТогдалП: 10 В.Формула изобретенияСпособ измерения диамагнетизмаплазмы, окруженной проводящими стенками, включащпий размещение основнойизмерительной катушки снаружи проводящей стенки, снятие с нее наведенного сигнала и определение величиныдиамагнетизма, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения точности измерений за счет уменьшенияискажений сигнала, вызванных наведенными в проводящей стенке токамии наводками от внешнего магнитногополя, при любой временной зависимости искажений вводят дополнительнуюизмерительную катушку, размещеннуюна внутренней поверхности стенки,таким образом, что плоскость витковдополнительной измерительной катушки параллельна плоскости витков основной измерительной катушки, снимают сигнал с дополнительной измерительной катушки и по разности сигналов с основной и дополнительной измерительных катушек определяют величину диамагнетизма плазмы.

Смотреть

Заявка

4109486, 13.06.1986

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1758

ГОТТ ЮРИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: H05H 1/00

Метки: диамагнетизма, окруженной, плазмы, проводящими, стенками

Опубликовано: 30.01.1989

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1455397-sposob-opredeleniya-diamagnetizma-plazmy-okruzhennojj-provodyashhimi-stenkami.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения диамагнетизма плазмы, окруженной проводящими стенками</a>

Похожие патенты