Способ определения деформаций

Номер патента: 1442822

Авторы: Грушко, Лаврентьев

ZIP архив

Текст

, 144 2 А 01 В 11/1 Й КОМИТЕТ СССР ЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ ОСУДАРСТВЕН ПО ДЕЛАМ ИЗ ИЗОБРЕТЕНИЯ СПИ ЕТЕЛЬСТ АВТОРСК(71) Особое конструкторско-технологическое бюро физико-технического института низких температур АН УССР(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ(57) Изобретение относится к способам измерения пластических деформаций и может быть использовано при испытаниях образцов в криогенных средах, Цель изобретения - повышение точности определения пластических деформаций при испытаниях исследуемого образца 1 в криогенной среде,что достигается за счет компенсации возникающих при этом температурных остаточных деформаций выполнением обоих образцов 1 и 2 одинакового прямоугольного сече. ния из одного и того же материала, совмещением образцов по одноименным гра. ням 3 и 4 с последующим нанесением меток 5 - 8 на границе стыка двух образцов, до нагружения - помещением обоих образцов 1 и 2 в криогенную среду, после нагружения - извлечением их из этой среды, измерением расстояний между одноименными метками 5 и 6, 7 и 8 исследуемого и контрольного образцов 1 и 2 и определением деформации исследуемого образца 1 как алгебраической разности взаимных смещений одноименных меток 5 и 6, 7 и 8, Способ позволяет повысить точность благодаря переносу операции измерения на этап испытаний, при котором образцы извлечены из криогенной среды. 1 ил.1442822 1Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам измерения пластических деформаций, и может быть использовано при испытаниях образцов в криогенных средах.Цель изобретения - повышение точности определения пластических деформаций при испытаниях исследуемого образца в криогенной среде.Цель достигается за счет компенсации возникающих температурных остаточных деформаций, выполнением обоих образцов одинакового прямоугольного сечения из одного и того же материала, до нанесения меток - совмещением образцов по одноименным граням с последующим нанесением меток на границе стыка двух образцов, до нагружения - помещением обоих образцов в криогенную среду, после нагружения - извлечением из этой среды, измерением расстояний между одноименными метками исследуемого и контрольного образ 20 цов и определением деформации исследуемого образца как алгебраической разности взаимных смещений одноименных меток.На чертеже представлены совмещенные исследуемый и контрольный образцы с нанесенными метками после их извлечения из 25 криогенной среды, общий вид.Способ осуществляют следующим образом.Изготавливают исследуемый 1 и контпольный 2 образцы прямоугольного поперечного сечения из одного и того же материала.Иризцы совмещают по одноименным гранями 4, например по широким граням, так,збы между образцами был надежный тепловой контакт, и наносят две правые 5 и 6 и две левые 7 и 8 метки на границе стыка образцов 1 и 2, проводя прямые линии перпендикулярно линии стыка. При этом автоматически обеспечивается равенство расстояний между левыми и правыми метками (5 и 7, а также 6 и 8) исследуемого 1 и контрольного 2 образцов. Образцы 40 скрепляют между собой каким-либо приспособлением (не показано). Затем совмещенные образцы 1 и 2 помещают в криогенную среду, причем исследуемый образец 1 закрепляют в захватах нагружающего устройства и прикладывают нагрузку к это му образцу для получения пластических 2деформаций. Контрольный образец 2 при этом может несколько смещаться относительно исследуемого образца 1 за счет разности величин деформаций обоих образцов.Затем совмещенные образцы 1 и 2 извлекают из криогенной среды. В процессе захолаживания и обратного нагрева образцов до нормальной температуры в них могут образовываться остаточные температурные деформации. Однако, при измерении пластической деформации как алгебраической разности взаимных смещений одноименных (правых и левых) меток 8 и 7, а также 6 и 5, эти остаточные температурные деформации взаимно компенсируются, так как благодаря одинаковым поперечным сечениям и условиям проведения эксперимента для обоих образцов 1 и 2 величины температурных деформаций в образцах 1 и 2 равны с достаточ. ной высокой точностью.Способ позволяет повысить точность благодаря переносу операции измерения на этап испытаний, при котором образцы извлечены из криогенной среды,Формула изобретенияСпособ определения деформаций, заключающийся в том, что на исследуемый и контрольный образцы наносят по две метки на одном и том же расстоянии одна от другой, нагружают исследуемый образец, измеряют расстояния между метками и по этим данным определяют деформацию исследуемого образца, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения пластических деформаций при испытаниях исследуемого образца в криогенной среде, оба образца выполняют одинакового прямоугольного сечения из одного и того же материала, до нанесения меток их складывают вплотную одна к другой одноименными гранями, метки наносят на границе стыка двух образцов, перед нагружением оба совмещенных друг с другом образца помещают в криогенную среду, а после нагружения извлекают из этой среды, расстояния измеряют между одноименными метками исследуемого и контрольного образцов, а деформацию исследуемого образца определяют как алгебраическую разность взаимных смещений одноименных меток.Составитель Н. ТимошенкоРедактор И. Дербак Техред И. Верес Корректор И.МускаЗаказ 6373/37 Тираж 680 )подписноеВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытиП 3035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5Производственно. полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Смотреть

Заявка

4182566, 19.01.1987

ОСОБОЕ КОНСТРУКТОРСКО-ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЕ БЮРО ФИЗИКО ТЕХНИЧЕСКОГО ИНСТИТУТА НИЗКИХ ТЕМПЕРАТУР АН УССР

ГРУШКО ВИТАЛИЙ ИННОКЕНТЬЕВИЧ, ЛАВРЕНТЬЕВ ФЛОР ФЛОРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

Опубликовано: 07.12.1988

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1442822-sposob-opredeleniya-deformacijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения деформаций</a>

Похожие патенты