Способ пробы запараллеленных выходов в приборах атс
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 144200
Автор: Ханин
Текст
,1 Чо 144200 Г 1 редме г изобретен ии РСПоставитель Г, А. Емильян дактор 3. А. Москвина Текред А. А. Кудрявицкая Корректор Л. И. Самсонов рмат бум. 70;к,108/вТираж 620по делам изобретений иовете Министров СССРЦЬТИ при Комитет при Г Москва, ЦентЦБТИ Комитета по делам изобретенийочете Министров СССР, Москва, Петровк ткрытий1.1 ипографипри Способ пробы запараллеленных выходов в приборах АТС при одновременной пробе этих выходов как из одного прибора (например, маркера), так и при одновременной пробе из нескольких приборов, отличающийся тем, что для исключения возможности одновременного срабатывания пробных реле в разных приборах в каждом из приборов устанавливается вспомогательное пробное реле, срабатывающее только в том случае, если в требуемом направлении не производится проба другим прибором (маркером) и создающее своими контактами условия для осуществления пробы только в случае, если нет одновременного опробывания другим прибором,
СмотретьЗаявка
663038, 11.04.1960
Ханин Г. Б
МПК / Метки
МПК: H04M 3/00, H04Q 1/24, H04Q 3/06
Метки: атс, выходов, запараллеленных, приборах, пробы
Опубликовано: 01.01.1962
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-144200-sposob-proby-zaparallelennykh-vykhodov-v-priborakh-ats.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ пробы запараллеленных выходов в приборах атс</a>
Предыдущий патент: Прецизионный транзисторный усилитель напряжения с большим входным сопротивлением
Следующий патент: Устройство для автоматической перестройки генератора высокой частоты
Случайный патент: Секционный вакуум-аппарат