Способ определения параметров колебаний объекта

СОЮЭ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН 1 Н 90 ЕННЫЙ НОМИТЕТ ЗОБРЕТЕНИЙ И О ССРРЫТИЙ ССУД АРС ПО ДЕЛА фСЕСВоэ ЕТЕНИЯ ПИСАН та. Цааавоуал ЛЬ(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ КОЛЕБАНИЙ ОБЪЕКТА(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследовании колебаний объектовметодом голографической интерферометрии.Целью изобретения является увеличение информативности за счет возможности опре 801408241 А 1 деления частоты колебаний и расширения частотного диапазона определения амплитуд колебаний. Для этого при записи голограммы на фоторефрактивный кристалл используют модулированную по фазе опорную волну. Одновременно с записью осуществляют восстановление голограммы и регистрацию интенсивности восстановленной волны в зависимости от времени. Изменяя частоту модуляции, добиваются появления переменной составляюгцей в этой зависимости и по полученным значениям частоты модуляции в этот момент и частоты переменнои составляющей рассчитывают частоту колебаний объекта. После этого изменяют глубину модуляции до получения максимального значения переменной составляющей и по полученному значению глубины модуляции опреде- Ж ляют амплитуду колебаний.Формула изобретения Составитель В. БахтинРедактор О. Юрковецкая Техред И. Верес Корректор М. МаксимишинецЗаказ 3298/42 Тираж 524 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий3035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной ехнике и может быть ис 1 тользовано при исследовании колебаний объектов методом го,лографической интерферометрии.Целью изобретения является увеличение нформативности за счет обеспечения возожности определения частоты колебаний и асширения частотного диапазона определеия амплитуд колебаний.Способ осуществляется следующим обазом.Освещают исследуемый объект когерентым излучением. Отраженное от объекта изучение, представляющее собой предметную олну, направляют на фоторефрактивный ристалл типа В 1,гТ 10 гв. Экспонируя крисалл, записывают на нем голограмму объека с использованием модулированной по фазе о периодическому закону опорной волны.дновременно с записью голограммы осуествляют освещение кристалла волной, наравленной навстречу опорной волне, и востанавливают этой волной голограмму.Регистрируют интенсивность восстановенной волны и, изменяя частоту модуляции опорной волны, добиваются появления переменной составляющей в зависимости интенсивности восстановленной волны от времени. Фиксируют значение озн частоты модуяции, при котором появляется переменная составляющая и измеряют частоту Й переменной составляющей. После этого изменяют глубину модуляции до получения максимальной величины переменной составляющей и фиксируют это значение А глубины мо; дуляции. По полученным данным рассчитывают значения частоты колебаний по формуле со = со -+ О/2, при этом знак+ берется при увеличении частоты модуляции, а знак-- при ее уменьшении, и значения амплитуды колебаний по формуле Способ определения параметров колебаний обьекта, заключающийся в том, что экспонируют фоторефрактивный кристалл опорной и предметной волнами когерентного излучения, одновременно осуществляют освещение кристалла волной, направленной навстречу опорной волне, восстанавливают кристалла голограмму и регистрирукт восстановленную волну в виде зависимости ее интенсивности от времени, по которой определяют параметры колебаний объекта, отличающийся тем, что, с целью повышения информативности, при экспонировании используют опорную волну, модулированную по фазе в соответствии с периодическим законом, частоту модуляции изменяют до появления переменной составляющей в зависимости интенсивности восстановленной волны от времени, фиксируют значение частот модуляции и переменной составляющей, при зафиксированной частоте модуЛяции изменяют глубину модуляции до получения максимальной величины переменной составляющей и по зафиксированным значениям частот модуляции и переменной составляющей определяют частоту колебаний, а по глубине модуляции, соответствующей максимальному значению переменной составляющей, - амплитуду колебаний.