Способ определения собственной добротности резонатора
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИН 140497 19 К 27/26 ОПИСАНИЕ ИЭОБРЕТК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ВЯ;,;ф,ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(56) Каууа 1 А., РЬав Тц М.,ИЧцуег Тцопя Ч. апс 1 Ь.11 агтя 1.Сцагас 1 егяат 1 оп оГ п 1 оЬцв яцрегсопдцсс 1 оп геяопатогя ця 1 пя ап ц 1 тгаясаЬ 1 е Гояс 111 атог ат 10 СНя - .1.РЬуя.Р.Арр 1. РЬуя, 1982, 15, р,1775-1782.(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОБСТВЕННОЙДОБРОТНОСТИ РЕЗОНАТОРА(57) Изобретение относится к техникеизмерений на СВЧ и обеспечивает измерение резонаторов, включаемых посхеме двухполюсников, и упрощениеспособа. Способ состоит в том, чтопри начальной температуре измеряютсобственную и нагруженную добротностьрезонатора. 11 ри конечной температуреизмеряют нагруженную добротность резонатора, Измерения производят припостоянных величинах коэф. связи приначальной и конечной температурах.По формуле определяют собственнуюдобротность резонатора при конечнойтемпературе.1404978 Тогда собственную добротность при конечной (например, криогенной) температуре(Т) можно найти иэ соотоношения ц,(т)=с(т) 1-"- -- - - ---- 1О н(т) г О.(т,) ч о(то) Ч н(то) Таким образом, собственную добротность резонатора при криогеннойтемпературе удается вычислить по результатам измерений о и Он при комнатной температуре и величине Он,измеренной при криогенной температуре,Ф о р м у л а изобретения 1- 1Заказ 3099/49 Тираж 772 .ПодписноеВН 1 ИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение относится к техникеизмерений на СВЧ, в частности, к области измерений высокочастотных характеристик объемных резонаторов иможет применяться при измерении параметров криогенных и сверхпроводящих ускоряющих резонаторов, исследуемых при различных температурах.Цель изобретения - обеспечениеизмерений резонаторов, включаемых посхеме двухполюсников, и упрощениеспособа.Способ определения собственнойдобротности резонатора реализуется 15следующим образом.Определяют собственную добротность Цо(то) резонатора при началь -ной. температуре То,Затем проводят измерение нагруженной добротности резонатора до ипосле изменения температуры Я (То),КЦн(Т), причем оба измерения необходймо проводить при неизменных положениях устройств связи резонатора с 25линиями передач. Для обеих температур Т и,.Т о справедливо соотношение Способ определения собственной добротности резонатора, включающий измерение параметров резонатора при постоянных величинах коэффициейгов связи при начальной и конечной температурах, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью обеспечения измерений резонаторов, включаемых по схеме двухполюсника, и упрощения способа, измеряют нагруженную н(то) и собственную Ц (То) добротность резонатора при начальной температуре и нагруженную добротность Он(то) при конечной температуре резонатора и определяют собственную добротность резонатора Ц о(т) при конечной температуре по формуле
СмотретьЗаявка
4048345, 03.04.1986
МОСКОВСКИЙ ИНЖЕНЕРНО-ФИЗИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
САВЕРСКИЙ АЛЕКСАНДР ЯКОВЛЕВИЧ, ЩЕДРИН ИГОРЬ СЕРГЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 27/26
Метки: добротности, резонатора, собственной
Опубликовано: 23.06.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1404978-sposob-opredeleniya-sobstvennojj-dobrotnosti-rezonatora.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения собственной добротности резонатора</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения электрической проводимости жидкости
Следующий патент: Устройство для определения относительной нелинейности амплитудных характеристик четырехполюсников
Случайный патент: Способ изготовления тесьмы