Озонограф
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
130215 Класс 421, 201,СССР ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬС одпаснп.ц грбэппа17 А, Л. Ошеров Киселе ОЗОНОГР М 6463 ри Сов Заявлено 26 ноября 1969 г.и открытий 9/26 в Комие Миниет ов лам изобретений тет пор СССР ений Ла 14 з зоб 960 г пуоликовано взлете Для определения толщины слоя озона над заданным пунктом земной поверхности применяют, в основном, косвенные оптические методы, сводящиеся к измерению интенсивности сравнительно узкого участка спектра Солнца, Луны или звезд в пределах полос поглощения озона и вне этих полос при различных зенитных расстояниях светила. Аппаратура для проведения подобных измерений исключительно сложна и дорога, что ограничивает развитие сети озонометрических станций, несмотря на то, что измерения количества озона в земной атмосфере представляют значительный интерес для метеорологии.Предлагаемый озонотраф отличается от известных своим конструктивным выполнением и обеспечивает высокую точность измерений, а также одновременную непрерывную регистрацию интенсивностей трех спектральных участков, лежащих в ультрафиолетовой и видимой областях спектра. Это достигается тем, что в нем применена спектральная система в виде двойного монохроматора с одной входной щелью, тремя средними щелями и тремя выходными щелями, сопряженными со средними, а также с двумя дифракционными решетками, установленными рядом тыльными сторонами одна к другой.На чертеже дана схема озонографа, состоящего из трех узлов: целостата 1 для автоматического гидирования Солнца, двойного монохроматора с дифракционными решетками 2 и 3, входной щелью 4, тремя средними щелями 5 и тремя выходными щелями 6 для выделения трех участков спектра и фотоэлектрического фотометра 7.Алюминированное зеркало целостата диаметром 1 О см вместе с так называемой дугой склонения, с которой оно жестко связано, установлено на оси силового часового механизма. Ось совершает один оборот за 48 час. Малогабаритные часы МЧН ооеспечивают точность гидирования 0,5 дуги за день. Подставка целостата имеет уровни и приспособление для установки оси зеркала по оси мира,Ло 130215 Для более равномерного освещения входной щели 4 монохроматора перед ней установлена тонкая матовая пластинка из кварца, Первая ступень спектрального разложения отделена от второй экраном 8, а средние щели закрыты соответствующими светофильтрами 9. На выходе оптической системы выделяются три участка спектра с разными длинами волн.Интенсивности выделяемых монохроматором трех световых потоков измеряются тремя фотоумножителями 10, фототоки умножителей усиливаются усилителями 11 постоянного тока и записываются трехточечным самописцем 12. Предмет изобретения Редактор Н.С. Кутафина Текргд А. Л. Сосииа Корректор О. П. Филиппо Цена 25 коп.форм ат бу м. 70 Х 108/и отдел Комитета по делам изо СССР, Москва, Центр, М. Черка Тираж 950 Объем 0,17 п. л. ретений и открытий при кий пер., д, 2/6;,а:;.3011 одп. к печ. .1 Хг.нформациопно.издательскСовете Министров елам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Петровка, 4. Типографии Комите Озонограф с автоматическим или ручным гидированием Солнца и фотоэлектрической регистрацией интенсивностей трех спектральных участков, лежащих в ультрафиолетовой и видимой областях спектра, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерений и одновременной непрерывной регистрации интенсивности всех трех спектральных участков с помощью фотоэлектрического фотометра, в нем применена спектральная система в виде двойного монохроматора с одной входной щелью, тремя средними щелями и тремя выходными щелями, сопряженными со средними, а также с двумя дифракц;он- ными решетками, установленными рядом тыльными сторонами од.а к другой.
СмотретьЗаявка
645349, 26.11.1959
Киселев Б. А, Ошерович А. Л
МПК / Метки
МПК: G01W 1/00
Метки: озонограф
Опубликовано: 01.01.1960
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-130215-ozonograf.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Озонограф</a>
Предыдущий патент: Способ определения полного коэффициента лучеиспускания твердых тел
Следующий патент: Компенсационный пиргеометр
Случайный патент: Датчик параметров полупроводниковых материалов