Способ определения параметров диэлектриков
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ЗОБРЕТЕНИЯВИДЕТЕЛЬСТВУ ИСАНИЕ И ТОРС ов и С, И, Поздняк А В О ОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕ о делам изобретенийСР 26425/40 в комитет овете Министров С Заявлено 23 апреля 1959 г, за Ме и открытий приа 1960 г Опублнко о в Бюллетене изобретений М поС 11 тр) 1 4 р (1 - р) 60 (1 - 2 р сов омпонент поля отражен альных компонент посл гональных де: р - отношение ампл ной волны;двиг фаз между векторами ортогтражения; сигнала; диэлектрикточник лны н Х - длина волны ис О - угол падения в Известен способ определения основных параметров ( з, и о, ) диэлектриков по изменению поляризационной структуры волны с горизонтальной или вертикальной поляризацией, отраженной от исследуемого образца.Основными недостатками подобного способа являются сложность измерения и недостаточно высокая точность результатов измерения.В описываемом способе указанные недостатки устранены тем, что в качестве источника сигнала, служащего для облучения диэлектрика, используют источник, создающий электромагнитную волну с круговой поляризацией.Волна с круговой поляризацией при падении на исследуемый диэлектрик деполяризуется и превращается в волну с эллиптической поляризацией. По степени деполяризации волны, зависящей от деполяризующих свойств диэлектрика, определяют диэлектрическую проницаемость =-, и объемную проводимость он образца по формуламс 1 д 9Ло 130077 Предмет из об р ет ения Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Редактор Т. Ф, Загребельная Гр. 89Поди. к печ. 19 Лг.Тираж 550 Цена 25 коп. Информационно-издательский отдел.Объем 0,17 п. л. Зак. 4533 Типография Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Петровка, 14.Способ определения параметров диэлектриков по изменению поляризационной структуры отраженной волны, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью упрощения процесса измерения, в качестве источника сигнала используют волну с круговой поляризацией, а параметры исследуемого диэлектрика определяют, измеряя его деполяризующие свойства.
СмотретьЗаявка
626425, 23.04.1959
Валитов Р. А, Поздняк С. И
МПК / Метки
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектриков, параметров
Опубликовано: 01.01.1960
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-130077-sposob-opredeleniya-parametrov-diehlektrikov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения параметров диэлектриков</a>
Предыдущий патент: Дифференциальный конденсатор
Следующий патент: Устройство для деления величин, выраженных высокочастотным напряжением, амплитуда которого пропорциональна делимому, на функцию f(а)
Случайный патент: Балансный смеситель